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由于“关键电子元器件”部分定义的错误,给型号电子产品用电子元器件可靠性工作造成困难和混乱。文章指出由于这个概念的混乱给可靠性工作带来的损失,并指出在可靠性领域这种貌似清晰明了,而实际错误的可靠性术语绝不止一个。呼吁可靠性同行对这些问题予以足够的重视,以推动可靠性工作的开展。 相似文献
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管壳和封装工艺的选择,直接影响到电路的热阻.合理的设计和封装工艺将会显著降低电路热阻,降低芯片结温,从而提高电路寿命.特别在今天,中大规模电路日益增多,电路密度增加,功耗日益增大.对散热方面的研究更有迫切的要求,对热阻研究工作的深入开展更有其重要意义.管壳热阻数值不但是电路设计者所需的重要参数,同时也是研究老化筛选方法的重要依据.而国内对这方面工作的重要性认识不足,进行的工作较少.其中部分工作由于测试方法中存在严重缺点而影响结果的精确性.一 相似文献
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郑鹏洲 《电子产品可靠性与环境试验》1995,(3)
电子元器件失效分析结果表明,由于选择和使用不当导致失效的比例达50%以上。为此,原国防科工委科技委聂力副主任作了批示: 各单位有一批重视电子元器件可靠性研究的专家,并有著文。应将文章汇集编印,提供给用户。 中国军用电子元器件管理中心于1994年11月出版了《军用电子元器件应用可靠性》文集,主要内容有: 1)军用电子元器件应用可靠性调研报告。 2)军用电子元器件应用可靠性论文。 相似文献
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接温老化取代高温脉冲功率老化已一年,在此老化条件下停止作175℃存贮筛选,从筛选机理上讨论和实验证明都是可行的。这样不仅节省大量人力物力,且由于老化时管腿温度仅110℃,这对管腿氧化和镀金层高温裂损的改善效果是明显的。从而对提高整机可靠性十分有利。此经验可推广应用到单管和多种集成电路上。 相似文献
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美国军用系统用电子元器件已大量采用民品,我国航空兵器应该仿效。但采用的民品电子元器件必须强调质量和可靠性,否则,兵器质量必然滑坡。 相似文献
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样品的DPA结论为不合格时,样品母体能否使用?正确解决这个问题可使DPA工作为系统可靠性提高发挥更大作用的同时,取得更好的效费比,并为解决好这个问题,进行了认真研究和分析,并辅助以实验。 相似文献
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