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提出了一种基于性能退化的贮存加速试验和元器件贮存寿命特征检测分析相结合的方法来进行引进产品电子部件贮存可靠性试验评价研究,并介绍了贮存加速退化试验和寿命特征检测的有关方法。  相似文献   
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