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对数正态概率纸的自动生成和分布参数的自动提取 总被引：1，自引：0，他引：1
采用对数正态概率纸可以直观地判断一组数据是否服从对数正态分布，而且还可以得到对数正态分布参数，即对数均值和对数标准差。介绍对数正态概率纸自动生成和分布参数自动提取的方法以及据此开发的软件。与手工使用概率纸的常规方法相比，采用所开发的软件不但使用简单、方便，而且能提高计算结果的精度。 相似文献
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PPM水平下元器件内在质量评价系统 总被引：3，自引：1，他引：2
随着元器件质量和可靠性水平的迅速提高 ,国际上对待元器件内在质量的评价问题引入了新的思路[1],采用了三项主要技术(Cpk、SPC和PPM技术)[2]。介绍根据这些新技术开发的元器件内在质量评价系统的组成及其功能。该评价系统适用于各类元器件生产。元器件生产厂家应该尽快采用这些技术 ,以便与国际要求接轨 ,尽早将产品打入国际市场。 相似文献
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半导体器件生产中,有些工艺参数为非正态分布,如果采用常规方法计算其工序能力指数,评价生产工艺水平,将可能导致错误的结论. 因此提出了一种非正态分布工艺参数计算方法,并开发了相应的软件,可以分析计算非正态分布工艺参数的工序能力指数和工艺不合格品率. 相似文献
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控制图是 SPC中的基本工具。其中广泛用于传统工业的缺陷数控制图要求被分析的数据 (每批样本中的缺陷数 )遵循泊松分布。但是 ,在半导体器件和微电路生产中 ,“缺陷”呈现明显的“成团”现象。在这种情况下 ,需要采用描述缺陷成团现象的负二项分布和黎曼分布构造控制图。如果采用常规缺陷数控制图分析缺陷成团数据 ,有可能对工艺线的受控状态作出错误的判断 相似文献
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