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针对计算机X射线影像(CR)扫描仪研发过程中对图像质量评价的需要,对CR图像质量原理进行了研究和归纳,并总结了一套测试方法。测试方法涵盖了CR图像质量中最常用的几个指标:空间分辨率、对比度分辨率、空间精度、图像噪声、CNR、量子探测效率(DQE)、MTF、伪影和擦除率等。根据这套测试方法对某CR原型机进行了验证,满足了设计和制作过程中对图像质量评价的需要。
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白光干涉测量系统(white-light interference system,WLIS)广泛用于微纳米表面形貌的精密测量,其测量不确定度评定是研究白光干涉测量系统计量特性的一项重要工作.基于微纳米线间隔和台阶,建立了 WLIS测量表面形貌时的测量模型,明确了测量不确定度来源;以5000 nm的线间隔和180 nm的...
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