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基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试   总被引:6,自引:1,他引:5  
唐恒标  冯建华  冯建科 《微电子学》2006,36(3):292-295,299
FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法。  相似文献   
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