对DAG-MAP算法的研究

ＤＡＧ－ＭＡＰ是一个面向延迟优化的ＦＰＧＡ工艺映射算法,其中的标记过程中该算法的核心。文章对原算法中的标记过程进行了研究,并且提出了一个改进的标记方法。通过对ＭＣＮＣ标准测试电路的实验结果表明该算法比原算法更为有效,并且算法所用时间没有明显的增加。     

内嵌快闪存储器的测试优化与分析

由于对快闪存储器的广泛应用，对优化测试和可靠性日益迫切的要求成为一大重要挑战。因此．本文通过分析阐述如何合理有效应用夺路并行测试策略，可以更有效的在快闪存储器测试时间和产量方面达到很好的平衡。     

实现工艺映射的新方法

逻辑综合中,工艺映射是关键的一步。过去,基于树的映射由于其速度快、算法简洁而被广泛使用。但是,将电路结构划分为树,破坏了电路结构,缩小了映射的解空间。双态覆盖(Binate Covering)能充分利用门级网表的结构特性,使工艺映射后的电路具有更好的性能。     

基于亮度保持的子图像加权对比度增强

本文提出了一种有效的基于亮度保持对比度增强算法.利用BBHE(brightness preserving bi-histogram equalization)算法产生的两个子图像,对两个子图像进行加权求和,从而得到输出图像.同时,根据输入图像以及两个子图像的亮度均值,给出了一种基于亮度保持的权重系数的计算方法.实验结果表明,与其它亮度保持对比度增强算法相比,本文算法能够更准确地保持输入图像的亮度均值以及较好地实现对比度增强.另外,本文算法计算简单,能够满足实时性的要求.     

实时时钟电路在电磁流量计中应用

本文简要介绍了一款具有定时自动抄表和断电计时功能的电磁流量计，给出了硬件和软件的设计要点以及在设计中注意事项。实践证明该设计有创新性，具有较高的实用价值。     

基于PSL语言的数字集成电路功能覆盖率测试

设计复杂度的增加、IP重用等当前复杂SoC／ASIC设计的特性要求对设计的功能进行更加充分的验证。基于PSL的功能覆盖率分析与传统的代码覆盖率分析共同构成了一个完整的衡量电路验证质量的尺度，这一全新设计方法学的使用将有效提高验证的质量和效率。     

利用不等BDD检测对称变量

变量的对称性在逻辑综合与优化，工艺映射中起着非常重要的作用。如果事先得到变量对称的信息，就可以减少解空间，提高逻辑验证的效率，过去，人们通常用公式fxix↑-j=fxjx↑-i检验变量的对称性，这需要分别建立fxix↑-j和fxjx↑-i的BDD图，然后检查两BDD图是否同构，文中提出一种新算法，整个算法流程仅需建立一次BDD，任何变量对称性的判别遍历BDD一次即可完成，从而减少了算法的空间复杂度和时间复杂度。     

OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究

传统的组合逻辑电路测试方法在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯,由于反向回溯的次数过多,往往会降低算法的效率,文中利用OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数,把传统算法中的反向回溯过程转换为OBDD图的问题,从而加快了故障测试的速度,同时,OBDD在测试矢量集的生成以及必要值的确定中也显示出一定的优越性。     

基于SBDD图的布尔匹配

在逻辑验证和综合中,布尔匹配利用有序二叉判定图OBDD来检验两个给定的逻辑函数是否相等。为了提高匹配算法的效率,文中用最小项数作为标签标定变量（变量组）。对比两函数中变量（变量组）的“标签”,可以删除不可能的排序,从而加快匹配过程。在提取变量标签时,提出简约二分决策图－SBDD,并利用其节点少的特性进一步提高“标签”提取算法的效率。实验结果表明本算法执行速度快,变量区分能力强。     

数字集成电路的时序分析

文章对数字集成电路设计中的时序分析作了一个概要的介绍。对于些时序分析算法进行了讨论,同时,指出伪路径是时序分析中的一个重要问题。因此,为了进行有效的时序分析,必须同时考虑电路的逻辑行为和时序行为。