偏振能量色散X-射线荧光光谱法测定水系沉积物和土壤样品中多种组分

采用粉末样品压片制样,用偏振能量色散X-射线荧光光谱仪对水系沉积物和土壤样品中多种元素进行测定。除Na,Si和Fe外,其余元素利用经验系数和二级靶的康普顿散射线作内标校正基体效应。分别采用了Al2O3,W,BaF2,CsI,Ag,Rb,Mo,Zr,SrF2,KBr,Ge,Fe,Ti和Al等不同偏振靶(或二级靶)对被分析元素进行选择激发和测定。在总测量时间为2 000 s(每个样品)的条件下,除Na,Mg,Al,Si,P,K等轻元素外,其余各元素的检出限达到0.25-14.80μg/g。     

RO_x 对 Na_2O-Al_2O_3-P_2O_5系统玻璃结构和电导率的影响

四元磷酸盐玻璃的 Raman 光谱和 AlO_6丰度变化的研究表明,玻璃的离子电导率主要由活动离子 Na~ 的总数决定,Na_2O 含量越高,其电导率也越高;但是,玻璃结构对电导率也有一定影响。由 AlO_4四面体和(Al—O—P)~-基团构成结构网络的某些 Na_2O—Al_2O_3—P_2O_5玻璃有较高的离子电导率。当以 MgO 替代玻璃中的 Al_2O_3时,由于MgO 只起网络修饰体作用,电导率是单调下降的。以 SiO_2替代 Al_2O_3时,情况有所不同。由于 SiO_2可能兼起网络形成体和修饰体的作用,无疑使玻璃结构变得复杂了。只有在参与网络的 SiO_2达到相当量的情况下,才有希望提高玻璃的电导率。外加 SiO_2到 Na_2O—Al_2O_2—P_2O_5玻璃内,导致玻璃中的 Na~ 离子的相对量降低,所以其电导率总是下降的。     

纳米粉末ZrO2-CeO2-La2O3的XRF分析研究

本文用粉末压片法制样,ＸＲＦ分析纳米粉ＺｒＯ２－ＣｅＯ２－Ｌａ２Ｏ３中主,次量元素,研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响,随着粉碎时间的的延长和压力的增大,元素的荧光强度逐步上升,阳后达到一个坪区,在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉,其荧光强度却没有明显的差别,因此,认为,纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素。     

PW2404顺序扫描型X射线荧光光谱仪用于高温合金的炉前分析

介绍了用PW2404荧光光谱仪对高温合金GH4169进行炉前分析的方法.     

Linux平台上的网络测试系统研究

为了弥补当前Linux系统测试软件的缺乏,采用Linux系统平台对在HTTP,FTP,ICMP,Socks5Proxy等网络协议层上工作的B／S结构网络测试系统进行了原理和方法的研究。分别对上述4种协议的网络测试系统进行了实验验证,获得了通过协议层和通过应用程序实现上述功能的比较。实验结果表明,提出的系统具有通用性强,易于控制,以及拥有自动进行错误分析的优点。     

能量色散X射线荧光光谱在钢铁工业中的应用

评述了能量色散X射线荧光光谱仪的发展现状及其在钢铁分析中应用，并详细介绍了飞利浦公司生产的能量色散X射线荧光光谱仪MinPal(使用Si-PIN探测器）在合金和高炉炉料分析中的应用，以及作者研制的SZ－2型低分辨率能量色散X射线荧光光谱仪在镀层厚度分析中的应用情况，表明这类仪器可以满足钢铁工业中原料，镀层厚度及组成，金属材料的分类等分析的需要。     

X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用

介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.     

氧化物和氧氮化物硅酸盐玻璃中铝配位数的测定

本文用 PW 1404 X 射线荧光光谱仪定量测定了氧化物和氧氮化物玻璃中铝的配位数丰度。作者在用AlK_α 的化学位移值定性确定铝配位情况基础上,选用适当的标准,以 AlK_β的化学位移值和标样的铝四配位丰度值作校正曲线,进行定置测定,取得了较好的结果。研究发现,在 Li~(1+)∶Al~(3+)>1的 Li_2O_(?)-Al_2O_(?)-SiO_2和 Li_2O-AlN-SiO_2玻璃中,Al~(3+)离子并非均以四配位形式存在,而是以配位四面体[AlO_(?)]为主要形式,其中也含有少量[AIO_(?)]配位八面体形式。