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1.
一维光子晶体禁带反射率随结构的变化   总被引:2,自引:0,他引:2  
用特征矩阵方法得出了一维光子晶体的反射率计算公式,以/4波片堆为例,计算了当两种介质采用不同折射率的物质时,在第一光子禁带TE波及TM波的反射率随入射角的变化。结果显示,TE波与TM波的情况不完全相同。总的来说,增大两种介质折射率的差别,或者同时提高两种介质的折射率,或者增加周期数都有利于制造出具有完全光子禁带的一维光子晶体。  相似文献   
2.
掺杂一维光子晶体的杂质态   总被引:1,自引:0,他引:1  
阐述了无缺陷光子晶体与掺杂光子晶体的结构,用光学特征矩阵方法,通过数值模拟计算具体讨论了一维光子晶体的一个实例。计算结果表明,掺杂光子晶体的禁带出现了极窄的、高透射率的尖峰,即光子杂质态,类似于半导体材料中的杂质能级。杂质层的引入增宽了原来光子禁带的宽度,杂质态的特征与杂质层的光学厚度、折射率及在晶体中的位置等因素有关。  相似文献   
3.
本文利用树的概念分析了报表结构,介绍了通过报表树的广度遍历,在 EXCEL环境下生成报表模板数据,以及利用ASP读取报表模板数据在浏览器上形成动态报表的方法。  相似文献   
4.
入射角对光子晶体杂质模的调制   总被引:8,自引:0,他引:8  
运用光在分层介质中传播的特征矩阵方法,通过数值计算,研究了掺杂一维光子晶体中光子禁带及杂质模的特性随不同偏振光及入射角的变化。研究结果表明,杂质模的中心波长及整个光子禁带随入射角的增加逐渐向短波方向移动,P偏振光和S偏振光的杂质模的移动情况基本一致。但是,禁带宽度、杂质模的带宽及Q值随着入射角的增加有明显变化。P偏振光的禁带宽度随入射角增加逐渐减少,而S偏振光的禁带宽度随入射角增加先不变后增加。P偏振光的杂质模的带宽先随入射角增大逐渐增宽,入射角大于67°之后又逐渐减小,而S偏振光的杂质模的带宽随入射角增加先减小然后略有增加,Q值也发生相应变化。  相似文献   
5.
阐述了完全光子禁带的概念.用光学特征矩阵方法,通过数值模拟计算,讨论了一维光子晶体出现完全光子禁带与晶体结构和介质材料的折射率的密切关系.具体计算了用同样两种介质材料组成3种不同结构的一维光子晶体,对于TM及TE电磁模式在不同入射角下的透射率谱,从中找出它们的完全光子禁带,发现3种结构的完全光子禁带的波长范围及宽度各不相同.另外,研究结果表明组成光子晶体的两种材料的折射率差别越大,两种电磁模的禁带越宽,越容易产生完全光子禁带.简单讨论了完全光子禁带出现的条件.  相似文献   
6.
对空间辐射环境下PIN光电探测器γ射线辐射特性以及粒子辐射特性进行了深入的研究。结果表明两种辐射机制均会对PIN光电探测器造成一定的影响,表现为暗电流噪声增加、响应率下降以及响应带宽下降。在卫星光通信系统结构设计过程中应该更多地考虑空间辐射对暗电流噪声造成的影响。  相似文献   
7.
空间辐射环境对卫星光通信系统误码率的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
为了提高卫星光通信系统的空间抗辐射性能,开展了空间辐射损伤对卫星光通信系统的误码率影响研究。建立了空间辐射损伤的误码率模型,并基于该模型对光源和光电探测器辐射损伤条件下的系统误码率进行了数值计算。结果表明γ射线辐射和质子辐射均能对通信系统误码率造成几个量级的下降,需要增加合理的空间辐射屏蔽单元或者选择空间抗辐射性能较高的零差BPSK工作模式。  相似文献   
8.
针对空间声源水平方位定位的精度问题,提出了利用基于软域值的小波分析方法对声源信号进行去噪处理.在此基础上,利用机器人的听觉系统对目标声源的水平方位进行粗定位;通过双目立体视觉系统对粗方位进行一定的矫正、补偿,实现方位的精定位.实验证明,提出的由粗到精的定位策略和方法具有较高的定位精度.  相似文献   
9.
针对空间声源目标定位的精确问题,提出了利用机器人听觉定位系统进行快速的声源水平方位粗定位.在此基础上,利用双目立体视觉系统对听觉系统定位的结果进行误差补偿,并进行垂直方位的标高角以及距离的评估.通过实验证明,提出的由粗到精的定位策略和方法具有较高的精度.  相似文献   
10.
一维光子晶体结构对反射光相位的影响   总被引:2,自引:1,他引:1  
运用光在介质中传播的特征矩阵方法,通过数值计算,研究了一维光子晶体结构对光子禁带的反射光相位的影响。研究结果表明,光在光子禁带的反射率对于不同的入射角均近似为1;反射光的相位随入射角而变化,对于不同结构的一维光子晶体,反射光相位的变化不同,并且S偏振光和P偏振光的反射光相位的变化亦不相同;通过改变光子晶体的结构参数可以实现对反射光相位的调制。  相似文献   
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