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1
1.
用光腔衰荡光谱法判断钕玻璃体损伤的产生
黄祖鑫
蒋晓东
任寰
何钱军
易亨渝
彭勇
《光学与光电技术》
2005,3(6):54-56,60
运用光腔衰荡光谱技术测量钕玻璃在激光辐照下其透过率的变化,判断出钕玻璃体损伤的产生。实验采用直腔型衰荡光腔,通过检测钕玻璃在强激光辐照下产生应力时其透过率的变化,测试出了钕玻璃在强激光辐照下产生体损伤的激光能量密度。该测试方法灵敏度高,且对测试元件无破坏作用。
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