微计算机运控的非稳态法半球向全发射率测定装置

本文报道了计算机运控的非稳态法半球向全发射率测定装置。其测温范围0-300℃,特别适用于测定金属、太阳能选择性吸收涂层和其他低发射率涂层。文中还比较了用液氮和酒精两种致冷介质的实验结果,以及半球向全发射率与法向发射率的测试数据。