氦质谱检漏仪在电工电子产品中的应用

一、前言 电工电子产品由于密封不良,将会造成产品的漏气漏液,从而降低电性能,有时还会造成本身及附近产品的腐蚀现象,甚至使产品破坏丧失全部功能。根据使用条件不同,应对产品提出不同的密封要求,据此国家标准局于1982年批准了GB2423,2382关于“电工电子产品基本环境试验规程试验Q:密封“做为国家级标准,这个标准完全等效于国际IEC65-2-17     

氢的离子探针分析

一、离子探针作氢分析的现状和发展氢是地球上相当丰富的天然生成元素,水和有机化合物中都含有大量的氢。它溶解于金属又会造成灾难性的氢脆,因此金属中局部地区氢含量的多少已成为人们十分     

关于离子探针灵敏度的检验

本文对参考文献[2]以及两台进口IMA-2离子探针的灵敏度检测数据提出不同看法。这个结论已在国产LT-1A 离子探针上得到证实。另外还提出用信噪比验证二次离子质谱检测灵敏度的方法。这种方法在日常试验中颇为方便可靠。     

离子探针灵敏度的研讨

本文讨论了离子探针的检测灵敏度及其主要影响因素;比较了几种仪器的二次离子传输效率。     

关于离子探针一次离子束的纯化问题

离子探针质谱微分析仪是近十多年才发展起来的一种固体微区、微量成份分析仪。由于它的检测灵敏度很高,在表面微区痕量元素检测中是一种非常有用的分析手段。为充分发挥仪器的这些特点并获得理想的分析效果,弄清影响分析结果的因素并正确地把握各种分析条件是十分重要的。     

利用能量过滤栅提高离子探针微分析仪的灵敏度

本文描述了在LT-IA型离子探针质谱微分析仪(IMMA)接收缝后面安装一个能量过滤栅,能量大于eUg(Ug是栅网电压)的离子通过栅网,能量小于eU_g的离子被反射掉,从而消除了亚稳峰的干扰,降低了本底噪声,显著提高了LT-1A型IMMA的灵敏度。     

离子探针分析与中性粒子束

本文介绍了在国产LT-1离子探针上作的有关中性粒子束的实验工作。描述了中性粒子束密度的测量方法。利用中性粒子束分析导体、半导体和绝缘体,并和负离子分析绝缘体的情况进行对比。总的来看,中性粒子束分析绝缘体的灵敏度很低,在一次离子束中有中性粒子存在时,对质量分辨和微区分析都非常不利。这就说明一次离子束应该加装一个离子束的纯化装置,把包括中性粒子在内的所有杂质粒子都过滤掉,这对离子探针的分析将是很重要的。