仪器仪表元器件产品可靠性的探讨

一、引言 随着国民经济的发展和科学技术的进步,许多部门对仪器仪表产品可靠性指标的要求越来越迫切。对于仪器仪表和各种监控系统,一旦其中的元器件失灵或发生故障,就有可能造成整个系统的失灵,甚至带来严重后果,对出口产品则影响市场竞争能力和国家声誉。为了不断地提高仪器仪表的可靠性,必     

硅霍尔传感器失效率模型的研究

本文着重介绍了通过可靠性加速寿命试验建立起来的硅霍尔传感器失效率模型的方法。该模型填补了国内空白。并为我国在“八五”期间硅霍尔传感器的可靠性水平提高1～2个数量级(即λ=10~(-6)/h～10~(-7)/h),奠定了重要理论基础。