波导存储器侧面散射特性的实验研究

通过实验，研究了波导存储器的侧面散射特性。采用激光直写法在聚合物薄膜表面刻录光散射点阵，通过移动狭缝与表面的相对位置测量薄膜的侧面散射光分布。结果表明，波导侧面散射光强沿传导光传播方向的分布呈指数衰减规律，其衰减常数与信息符密度成正比，并随记录信息所用的激光束能量的加大而增长。实验结果有助于优化波导存储器信息符的密度和大小，有利于提高波导存储器的能量利用率、读出灵敏度和信噪比（SNR）。     

前言

近年来,伴随我国国民经济的快速发展,仪器仪表行业也呈现出非常繁荣的景象,产销额以每年20%-30%的速度递增。凭借这种发展势头,每年一届的多国仪器仪表学术会议暨展览会(“多国展”)的规模也将不断扩大。为了竭诚服务于广大参展商与企业会员、促进国内外仪器仪表与自动化控制领域的学术交流与技术合作、推广先进成熟的技术及产品的应用经验,在本届“多国展”上,中国仪器仪表学会与《自动化仪表》杂志社合作并以《自动化仪表》增刊形式出版《第十八届多国仪器仪表学术会议暨展览会学术论文集(应用篇)》。此次论文征集工作虽启动较晚,但在不到…     

波导多层只读光卡及其软刻印制作方法研究

将波导多层存储与光卡存储技术相结合,提出了一种波导多层光卡存储器的结构方案和软刻印制作方法.采用折射率高的薄波片作为芯层材料、折射率低的透明硅橡胶作为包层材料,利用软刻印方法将信息复制在硅橡胶表面,制作出10层光卡.信息检测结果表明,每一层数据清晰可见,相邻层间无明显干扰.     

一种新的计算全息标识证件防伪技术

提出了一种新的计算全息标识证件防伪方法.该防伪方法首先通过计算机制作原始认证信息的菲涅耳加密面全息图,并变换成可印刷的全息标识,通过打印或数字印刷将其印制在证件等印刷品中作为防伪标识.原始认证信息的提取过程是加密过程的逆过程.理论分析和仿真实验证明了菲涅耳加密面全息标识方法的有效性和安全性.     

白光干涉测量系统的测量不确定度评定

白光干涉测量系统(white-light interference system, WLIS)广泛用于微纳米表面形貌的精密测量,其测量不确定度评定是研究白光干涉测量系统计量特性的一项重要工作。基于微纳米线间隔和台阶,建立了WLIS测量表面形貌时的测量模型,明确了测量不确定度来源;以5000nm的线间隔和180nm的台阶高度为例,利用WLIS进行了测量,并分析WLIS的测量重复性、光学组件特性、传感器特性、运动模块性能、测试方法及环境等因素产生的不确定度分量,最终评定该WLIS测量线间隔和台阶高度的合成测量不确定度分别为21nm和0.4nm。对WLIS的不确定度评定确保了其测量结果的准确性、溯源性,并提出了提高系统整体计量特性的途径。     

10．6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统

10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统在实验上为探测光子晶体光频波段负折射现象提供了实验平台.该系统采用VB编写控制程序,通过数据采集卡实现计算机对旋转台及平移台的控制,在以光子晶体样品为探测中心的轨道上,对折射光的整个空间功率分布进行实时采集、绘图.根据折射光最大光功率出现的位置,判断该光子晶体样品是否产生负折射现象.这一实验系统能够精确便捷地实现负折射现象在光频波段的探测.     

刊首词

<正> 1988年5月6日是上海光学仪器研究所建所三十周年。值此喜庆之际,我仅以上海光学仪器研究所所长的名义,对上级部门、各位前辈、各位同行、朋友及全体同仁对我所给予的关心、帮助和努力表示衷心的感谢。如果说人到三十称“而立之年”,它象征一个人已具备了创家立业的能力。那么,对我们所来说也是一样,在她三十“岁”的时侯,我们可以自豪地说一句:上光所站立起来了!并且在各位老上级、老前辈呕心沥血的关心、爱护和培育下,在各位同仁全心全意地努力     

Talbot效应理论及应用(续)

近十年来,Talbot效应在理论和应用上取得了较大的进展,本文叙述了该效应,并导出了Talbot成像的一般公式     

Joint变换用于特征识别的研究

本文报道一种与传统匹配滤波器用于特征识别不同的方法——Joint变换法——它的原理、特点、实验研究和发展趋势,指出这是一种有着广泛应用前景的方法,值得引起人们重视。     

数字彩色多层光盘系统光学头设计

在分析数字彩色多层光盘系统结构特点及光学头设计要求的基础上，介绍了以宽光谱高衍射效率全息光栅及复消色差物镜为关键元件的合光分光光学头系统的设计，同时对半导体激光准直整形系统也作了相应的介绍。