基于能量恢复的单相功率时钟触发器及其应用

介绍了一种基于能量恢复的单相功率时钟触发器。该触发器的输入信号和输出信号均为方波,因此可以直接与传统的组合逻辑级联。该触发器仅需要14个晶体管,远少于传统触发器中晶体管的数目。仿真结果显示,在0.18μm工艺下,电源电压为1.2 V,时钟频率为200 MHz,开关活动率为50%时,与传统的触发器相比该能量恢复触发器可以节省31%的功耗。为了验证该触发器的功能,在0.18μm工艺下进行了电路设计,测试结果显示该触发器还可以在低电压下正常工作。     

适用于谐振时钟的CMOS触发器研究

构建的两种适用于谐振时钟的CMOS触发器结构:SAER(Sense Amplifier Energy Recovery)和SDER(Static Differential Energy Recovery),克服了传统触发器在谐振时钟触发下短路功耗大的问题,适用于对时钟网络实现能量回收与节省的系统.在SMIC 0.13 μm工艺下进行功耗和时序参数仿真,对比应用在同样谐振时钟下的传统主从结构触发器MSDFF(Master-Slave D Flip-flop)和高性能触发器HLFF(Hybrid Latch Flip-flop),SAER在测试的频率范围内保证高性能时序参数的同时,实现了三分之一以上的功耗节省.     

一种用于磁隔离驱动器的定时电路

设计了一种新颖的用于磁隔离驱动器的定时电路,包括不可重复触发的单稳态电路和时间控制电路。与传统定时电路相比,该定时电路原理简单,运行可靠。单稳态电路用于监测解码端接收的脉冲,产生门控时间,有效抑制干扰脉冲。时间控制电路产生定时时间。如果在定时时间内,定时电路没有接收到任何脉冲,则输出高电平,锁定驱动器的输出为低电平,保护了电路的安全性。通过调节2个电容和4个电阻的值,得到所需的门控时间和定时时间。基于0.25 μm BCD工艺进行设计和仿真。结果表明,该定时电路的定时时间达6 μs。     

浅谈云计算技术在计算机数据处理中的应用与发展策略

本文主要阐述了云计算技术的内涵和在计算机数据处理过程中的应用,包括保障数据安全、为数据处理提供平台,同时,提出了云计算技术的发展策略,包括研发混合云计算、积极发展移动云服务.通过说明以上方法,为相关技术人员提供一些参考.     

脉冲激光背照射单粒子效应实验研究

为避免集成电路正面金属层对激光的阻挡,采用背面照射的方法对非加固SRAMIL-2和加固SRAM1020-2进行了单粒子效应实验。对脉冲激光背面照射实验的相关问题进行了探讨。比较了两种器件产生单个位翻转的有效激光阈值能量,验证了器件加固措施的有效性。     

建筑给排水施工中节能技术的应用分析

建筑的给排水节能技术作为一项系统的工程,除了要有相关节能保障的法律法规、日常行为管理及积极的宣传教育外,还应注重对新材料、新技术的应用,以此全方面地将建筑节水工作开展起来。本文对建筑给排水施工中节能技术的应用进行了概述和分析。     

基于"大数据"时代背景下计算机信息处理技术的研究

在"大数据"的时代背景下,人们对计算机的信息处理技术的要求不断提高,因而计算机信息处理技术必须要不断地发展和提升.本文针对大数据时代背景下的计算机信息处理技术的现状进行详细表述,并从信息获取、信息存储安全和信息安全技术等方面阐明在大数据的时代背景之下的计算机信息处理技术在实际中的应用.     

EPC模式下火电厂节能改造项目的风险识别研究

以合同能源管理(energy performan cecontracting,EPC)项目风险分析理论为基础,结合火电厂节能改造项目的特点,研究EPC模式下基于工作分解结构(work breakdown structure,WBS)和风险分解结构(risk breakdown structure,RBS)的节能改造项目风险识别。全面系统地识别在EPC模式下火电厂节能改造项目全过程的风险因素,有助于风险评价和风险分担,能够促进火电厂节能改造项目的顺利进行。     

基于模拟的故障注入技术在高可靠处理器的应用

高可靠处理器在设计过程中,需要在不同阶段采用适当的故障注入技术,对其可靠性进行验证和评估.以LEON3高可靠处理器中的TMR(Triple Module Redundancy)flip-flop为例,使用基于模拟的故障注入技术对高可靠处理器进行故障注入.通过实验表明,采用此类故障注入技术,可以在设计前期对加固设计的可靠性进行快速验证,缩短开发周期,降低验证成本.     

一种基于V58300平台的集成电路功能测试系统设计

基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台，设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分，通过在上位机实时更改测试系统相关I/O的定义和输入的测试向量文件，即可自动完成对各种运行频率在25 MHz及以下，I/O数量在48位及以下双列直插(DIP)封装集成电路的功能测试，实现了测试系统的通用化和低成本化。最后通过实验证明本测试系统可以有效地对相关芯片进行功能测试。