基于遗传算法在时域提取电磁参数的新方法

基于遗传算法的优化能力，并利用电磁场时域响应信息，提出了一种提取目标媒质电磁参数的新方法。将时域测量所得的散射场与由时域算法获得的不同个体的响应相比较，根据两者近似程度，通过遗传算法进行规划处理，即可确定媒质的介电常数和电导率等物理参数。算例结果与真实值吻合较好。相对于传统的频城测量法，该方法具有原理简单，容易实现等优点，还可以推广到目标识别等领域。     

GTD分析阵列天线在复杂电磁环境下的近场受扰

给出了应用几何绕射理论(GTD)分析计算机载电大尺寸阵列天线方向图的一种方法,比较好地解决了在复杂电磁环境下,大型阵列天线近场受扰分析的问题.该方法将阵列天线的每个阵元看成电偶极子,由于电偶极子尺寸很小,因而可以认为阵列的近场区仍然是单个电偶极子的远场区.根据这样的远场近似,可以利用几何绕射理论用解析方法计算每个电偶极子受到遮挡影响的场分布.通过独立地对阵列天线的每个阵元单独寻迹计算,并且将所有阵元的场进行叠加,就可以得到整个阵列天线受到处于近场的障碍物遮挡影响的场分布.应用此方法计算了一个阵列天线受到近场遮挡之后的方向图,并与应用HFSS仿真软件计算的结果进行了比较.计算结果表明,这一方法可以很好地应用于复杂电磁环境中大型阵列天线的近场受扰问题分析.     

天线时域近场测量实验系统研究

总结了天线时域近场测量技术研究中进行系统实验验证在个阶段的进展情况,提出了组建天线时域近场测试验证系统的基本框架,总结了验证实验的基本过程和思路,提出了一种利用离散傅立叶反变换（IDF）技术完成天线的时域近场测量的方法,本文给出了各个实验阶段的测试结果,据此得出了对于天线的时域近场测量技术肯定的结论。     

利用IDFT技术实现天线的时域近场测量

本文提出了一种利用离散付立叶反变换(IDFT)技术完成天线的时域近场测量的方法.首先依据付立叶变换理论论证了这种方法的可行性,用典型算例证明了该方法的有效性和正确性,同时对实现这种测试方法可能引入的误差进行了分析,随后提出了应用该方法完成测试时关键技术参数确定的原则,讨论了用该方法测试所获得的实验结果,得出了结论.     

时域近场测量采样平面选择分析

利用平面波谱展开理论和时域有限差分法对几种典型天线的远场方向图建模计算,分析和比较了不同采样平面对远场的影响,以及平面波谱理论对强、弱方向性天线的适用性,为进一步误差分析修正奠定了基础。     

新型弹载毫米波微带天线阵的设计

本文利用CST 电磁仿真软件进行设计了一种工作于35GHz 的弹载圆柱共形2X8 微带天线阵列,其在? 50mm ×50mm 共形表面布局6 个同结构的阵列天线,采用分时工作的方式,增大了探测距离,并通过改进阵列排列形式增 加了波瓣宽度。并讨论了平面与共形、改进的阵列排列以及不同圆柱半径对共形天线阵列辐射性能的影响。     

FDTD算法的网络并行运算实现

本文提出了FDTD方法在微机互连构成的机群(COW)并行计算系统上以消息传递方式执行的一种实现方案.组成了验证性的机群并行计算系统,以一维和三维典型算例验证了算法的可行性、正确性和高效性,为运用FDTD方法进行电大尺寸复杂电磁问题数值模拟计算提供了一条有效的途径,也为深入进行这方面研究奠定了基础.     

端射相控阵天线设计

首先分析了端射相控阵列的特殊性,以及传统理想点源阵描述端射阵列的不足。然后以八木天线为原型设计了平板端射天线。为了提高增益和方向性,把四个平板端射天线单元在端射方向上排列。通过调整单元之间的间距和馈电相位,形成特殊的相控阵,达到了比较好的组阵效果。经过仿真和实际加工测试,认为这种天线结构优于传统的组阵形式。     

1～18GHz宽带双脊喇叭天线的分析及仿真

本文研究了同轴线馈电的1～18GHz的宽频带双脊喇叭天线。分析发现，与通常的看法不同，喇叭天线辐射方向图并不能在全频带上保持轴线方向具有单一的主波瓣。实际上，在12GHz以上，辐射方向图的主瓣开始分裂为偏离轴线方向的四个较大的旁瓣，且相对主瓣电平旁瓣电平低6dBC。喇叭天线是较为理想的测试天线，这方面的应用已经有四十多年的历史，但是对这一非理想特性的解释，未见公开文献发表。为了深入研究这一现象，运用矩量法仿真分析了整个天线系统。仿真结果与1～18GHz频带上的测量值非常吻合，由此表明在EMC的应用中，使用这种型式的喇叭天线还存在一定的问题。     

改进的基于Matlab GUI 的微波介电常数测量系统

依据传输线测量方法，结合Matlab GUI 编程技术，实现了一套介质介电常数测量系统，测量了不同介质在L 频 段到X 频段内的介电常数值。该系统直接使用高频信号源作激励，频谱仪作为接收机，简化了测试系统，降低误差。编 写Matlab GUI 人机交互界面求解超越方程，批量计算提高了计算精度和效率。测试结果和介质标称值很接近，对两种材 料应用的研究提供了有力的支持。