石墨烯与双链DNA分子复合结构电导性的c-AFM研究

利用导电原子力显微镜(conductive atomic force microscope,c-AFM)的扭转共振隧穿电流模式,在绝缘衬底云母上对还原石墨烯(rGO)和DNA构成的复合体导电性做了初步的测量。测量结果表明,石墨烯能很好地吸附双链DNA分子形成连接复合体,c-AFM实验证明复合体中的双链DNA分子不具有长程电子输运能力。石墨烯-DNA复合体电导能力的测量对利用石墨烯及DNA分子进行分子器件构建研究具有参考价值,同时实验测量方法具有一定的实用意义。     

应用同步辐射X射线多模态成像研究死亡延迟时间对脑组织染色的影响

用于科学研究的人脑组织通常由遗体捐赠来获取,然而死亡延迟时间(Post-mortem Delay,PMD)是影响人脑组织染色的重要因素之一,目前对于PMD如何影响人脑组织的染色尚缺乏研究.本工作利用取脑后放置不同时间的小鼠脑组织来模拟人脑PMD的状态,采用高尔基染色、尼氏染色对其大脑皮层区域染色并进行光学显微镜成像,重...     

基于原子力显微镜对多肽自组装结构的纳米操纵研究

多肽自组装作为一种"自下而上"的技术得到了快速的发展,所形成的自组装结构作为新型的纳米材料具有众多潜在的应用。然而在多肽自组装过程中,会产生各种各样的缺陷,导致多肽纤维形成的图案有一定的局限性。本文利用原子力显微镜对固液界面生长的多肽自组装结构进行纳米操纵,介绍了定位移除部分多肽纤维从而产生缺口的方法,并利用所产生的缺口实现了纳米纤维的重新排布,极大地提高了多肽纳米纤维构成图案的复杂性,在纳米制造中有潜在的应用。     

工程村动力检测依据合法性探讨

一、前　言根据《中华人民共和国计量法》第二十二条的规定 :“为社会提供公证数据的产品质量检验机构 ,必须经省级以上人民政府计量行政部门对其检定、测试能力和可靠性考核合格”。因此 ,凡是为社会出具公证数据的产品检验机构均属计量认证的受理范围。上海市自 1997年开展了建设系统工程质量检测单位计量认证工作 ,绝大多数建设工程检测单位都通过了计量认证 ,根据上海市有关文件要求 ,自 2 0 0 0年 1月 1日起 ,凡未通过计量认证的对外检测单位一律停止对外检测资质。桩基是隐蔽工程 ,较容易存在质量隐患 ;桩基是建筑物的基础 ,所以非常…     

基于AFM成像的DNA长度的计算机统计处理

利用计算机图像处理技术 ,对自然沉积DNA和拉直DNA分子AFM图像的长度进行了自动统计测量 ,并与DNA分子的理论长度进行了比较。该方法在DNA分子的AFM图像的基础上 ,将DNA分子拟合成曲线 ,用插值法求得DNA分子长度 ,整个过程实现了自动化。结果表明 ,该方法测得自然沉积的某DNA分子长度为 (180 .4± 16.4 )nm ,与理论长度 185 .0nm相当符合。该方法与拉直法和直接法求DNA分子长度相比是一次改进 ,也为其它基于AFM图像的线状物体求长度提供了一种新的测量方法。对另一组拉直DNA测量的结果表明 :拉直后DNA分子长度为 (34 3.6± 2 0 .7)nm ,与理论长度 30 7.0nm相比明显变长 ,这表明对自然沉积DNA进行长度测量的必要性 ,保证了DNA分子的长度不受拉直后有所伸长的影响。     

基于互联网的扫描探针显微镜远程控制研究

在Ｉｎｔｅｒｎｅｔ信息传输的基础上,实现了数字化ＳＰＭ的远程控制。用户首先在连接ＳＰＭ的服务器上远程登陆,并取得不同的控制权。在得到主要操作人,协作者或旁观者的权力后,分别能远程直接控制ＳＰＭ的全部参数,部分参数,或不能控制参数。该系统已经在北京与上海两城市间进行了演示。     

强夯振动监测与分析

探讨了强夯振动机理和评价标准分析了振动监测仪器设备及测试技术 ,并通过工程实例研究了振动监测在划分强夯振动影响范围、计算地基能量吸收系数、确定最大夯击数以及强夯加固深度等方面的应用。     

组合离子束技术在硅基材料芯片中的应用

将组合技术和离子束技术结合起来,用于硅基发光材料的研究用组合离子束技术在硅基材料上制备了64个直径为2mm的单元--材料芯片,并对硅基材料芯片各单元进行了卢瑟辐背散射质子弹性散射和扫描阴极射线发光特性分析     

微纳米气泡领域的春天已悄悄来临

清晨小草上晶莹剔透的露珠为什么是圆的?为什么可以在叶子上滚动?这些现象都与物质的界面性质分不开。研究发现,一些特殊的现象或反应往往发生在微观界面上,特别是纳米尺度下的界面行为,和物质的宏观表现有着截然不同的特性。露珠的超高接触角,就是在纳米突起中间发生气体吸附而形成的。     

配置程控样品台的原子力显微镜重定位成像方法

原子力显微镜(Atomic Force Microscopy)已成为在纳米尺度对样品进行观察和操纵的重要工具。基于原子力显微镜观测的重定位技术提供一种微观区域内对样品处理前后原位对比观测的方法。本文利用坐标实时显示的程控高精度样品台系统,联合使用表面双标记定位法,建立一种新的重定位方法,方便、高效地实现样品重定位AFM成像。