照射型莫尔轮廓法光强测试

在单光源、双光源、不同照射角及不同距离等条件下,测试了照射型莫尔轮廓法的光强分布。分析了影响光强分布的因素。     

CMOS光栅图像纳米细分技术研究

光栅技术已在长度测量、角度测量、位置测量、自动检测、自动控制等诸多领域广泛应用。采用长光栅作为检测元件,但对光栅的细分不用常用的电子学细分,而是采用CMOS显微成像系统读取长光栅,并随之对光栅图形进行细分。系统由光源、光阑和聚光镜、标尺光栅、显微物镜及CMOS电子目镜组成,光栅图像进入PC机,采用软件进行细分。试验获得的光栅图形清晰,从而为利用数字图像处理技术进行细分提供可靠依据,实验研究的细分分辨力为80nm。     

莫尔条纹的光学原理

一、莫尔条纹的形成1.概述当二块周期为P=f(x)的光栅面对面叠合、并使栅线以微小角度0交叉时,在交叉角的角平分线上便出现周期为MP的亮度变化花样,通常叫做莫尔花样。光栅为等间隔时,莫尔花样的等亮度线为一直线并与交叉角的角平分线垂直;随着光栅之间(沿X方向)的相对位移,等亮度线则沿着角平分线移动,这便是典型的横向莫尔条纹(见图1)。莫尔条纹的形成原理可有不同解释:一     

位置敏感探测器(PSD)的进展

阐述了 PSD 的主要特性及其进展,文中的商业产品参数,来自于1997年日本滨松光子学公司的一维和二维 PSD 的技术数据。PSD 的研制品中介绍了非晶硅薄膜 PSD 结构和主要光学、电学特性;介绍了多条形 PSD 结构及位置分辨率等性能指标;最后还叙述了大面积二维 PSD 及 MOS 型一维 PSD 等的性能和参数。     

莫尔技术的现状和展望

本文对莫尔技术的应用状况、关键技术及未来课题作了较为详细的叙述与评论。     

莫尔等高图法

介绍莫尔等高图形法,一只光栅放于测试物体前面,如果这一只光栅由线光源照明,在物体上面形成光栅阴影,然后通过光栅观察时,我们能够看到由光栅及其影子重叠而成的莫尔轮廓条纹,这些莫尔条纹是物体的轮廓线系统。导出莫尔轮廓条纹的数学表达式及给出一些照片。     

基于短信业务的激光越境监控系统

为实现在低能耗和较少投资下对边境等大范围地区的越境监控和自动报警,设计了一种采用短信业务、红外激光等技术的越界越境监控系统。中心站系统主要采用PC机与TC35i通信模块,通过串口通讯利用AT指令完成短信收发;监控站系统采用半导体红外激光收发装置形成警戒区域,通过单片机AT89C52接收来自激光收发装置的报警信息,并控制TC35i通讯模块发送报警短信;介绍了该系统软硬件开发环境以及编程实现。该系统较好地克服了传统通讯手段和监控设备在该应用领域的不足和限制。     

计量光栅的光谱测试

介绍了计量光栅的测试与研究。这些光栅有刻划-腐蚀、照相-照相-镀铬、刻划-镀铬、照相-离子蚀刻。进行了光栅透射函数、±1级光强、m级光强的分布研究。     

分光棱镜的分光性能测试研究

分光棱镜在光学系统中广泛应用 ,主要研讨分光棱镜的分光特性 (透射率与反射率 ) ,重点分析了棱镜在光学系统中转动时的分光特性变化。采用半导体激光器作为光源 ,用照度计作为测试表 ,对较多分光棱镜零件进行了测试 ,对测试数据进行了计算和分析 ,指出了分光棱镜设计、制造和测试应注意的问题     

光电轴角编码器发展现状分析及展望

系统地介绍了光电轴角编码器的概况、原理和性能以及相应开发工作的新动向。重点对德国的Heidenhain公司、日本和中国的主要生产厂家的产品进行了统计和分析,并就一些新技术、新趋势及母板制造方面进行了展望和评述。