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基于VISA库及SCPI命令的仪器程控测量 总被引:9,自引:2,他引:7
VISA是VXI即插即用系统联盟定义的标准化的I/O接口软件,SCPI命令是一种用于可编程仪器的标准命令集。为了省去仪器测量中重复而复杂的手工操作和计算,避免人为误差,提高测量效率,以Visual C++6.0为开发平台,应用VISA库函数与SCPI命令的混合编程,通过LAN口进行数据传输,对安立2028B矢量网络分析仪设计了一套程控测量系统。通过使用该系统对材料的相对介电常数进行测量可以发现,该系统操作简单,且测量精度高。 相似文献
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随着现代电子信息技术的发展,如何提升各种微波非插入器部件的网络特性测量精度是长期以来工程师面临的挑战之一。矢量网络分析仪未知直通校准技术采用SOLT校准和TRL校准相结合的方法,实现了非插入器件直接在校准面进行高精度测量。简要对比了传统测试方法优缺点,给出未知直通校准模型、校准过程和具体技术应用。实验结果表明,该技术能够很好地解决未知直通部件S参数测量难题,可以去除传统方法中使用外加适配器引入的各项测量误差,并且不要求校准直通件特性已知,可有效提高测试精度并具有极大应用灵活性。 相似文献
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肖顺群 《电子测量与仪器学报》2009,23(Z1):353-359
对PLTS(Physical Layer Test System物理层测试系统)的测试功能、测试原理和测试方法进行了分析与探讨,并通过实例对比验证了基于VNA、基于TDR以及基于仿真数据的PLTS的测试性能。 相似文献
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A generalized 3-term error model, where only three error matrixes are defined, is proposed for the calibration of n-port vector network analyzer (VNA) with n + 1 measurement channels. In this model, the node is replaced by the complex vector, and correspondingly the branch gain is represented by the complex square matrix. According to this error model, which also obeys the fundamental rules of flow graph, the formula for actual scattering matrix of an n-port DUT can be deduced. Finally, the actual S-parameters of a four-port device can be corrected and they are compared with the measurement results by Agilent VNA E5071B. The good agreement attests the precision of the calibration algorithm. 相似文献
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采用基于对象的分析方法,系统地研究了数百套包括AS/RS、VNA、APR等各类立体仓库货架的结构和设计方案,分析归纳出工业货架的通用层次化结构模型和全参数化模型,提出了“系统设计-结构设计-组件设计-构件设计”的货架层次化设计方法。基于该模型和方法开发的工业货架设计分析系统软件具有进行货架规划设计、有限元分析和工程报价的功能,可以自动生成规划设计报告、有限元分析报告、CAD设计图纸和工程报价清单。该系统为物流系统集成企业、物流设备生产企业和物流工程咨询企业提供了一个高效快捷、准确科学的设计和分析工具。 相似文献
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基于VISA协议,通过GPIB接口建立了HP8510B微波网络分析仪与PC机间的通信;并在PC机上开发了虚拟HP8510B网络分析仪程序。该程序扩展了原仪器的测量通道,置换并升级了数据存储方式,同时也极大地增强了原仪器的显示功能。此外,还增加了反向数据存储能力。 相似文献
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大信号测试系统是评估GaN功率器件的非线性特性的重要手段,而精准的矢量校准是获得稳定可信测试数据的第一步。为了解决毫米波频段矢量校准易随时间增加而失效的难题,对不同的校准方法进行了讨论,并以直通-反射-匹配负载(TRM)校准方法为基础,对校准过程中的误差系数随时间变化的趋势进行了数据分析,提出了一种可以实时快速修正校准模型中误差系数的方法。采用这种方法,失效的校准状态可以在1 min内得到快速修正而恢复初始校准状态;矢量校准的时间稳定度与传统方法相比,可延长10倍以上。该方法有力地保证了大信号测试中数据的一致性,可广泛应用于器件建模和电路设计等领域。 相似文献
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Based on a simple and effective calculation method, two free‐space measurement setups are employed to investigate the dielectric properties of various materials at terahertz (THz) frequencies. One setup involves THZ time‐domain spectroscopy (THz‐TDS) at a frequency range of 0.4 to 1 THz. The other setup comprises a vector network analyzer (VNA) with pairs of VAN extenders (VNAXs) and diagonal standard gain horns (SGHs) at a frequency range of 0.22 to 1.1 THz. The calculation method is verified for the THz‐TDS system and employed in the VNA system for the first time. Dielectric properties, including refractive indices, power absorption coefficients, relative permittivities, and loss tangents, are calculated from measured transmission data. Several materials, including printed circuit boards and 3D printing materials, are characterized to verify the calculation method and compare the measurement setups. 相似文献