微型电磁继电器的制作和仿真分析

介绍了一种基于MEMS技术的微型电磁继电器的制作过程和仿真分析.这种微继电器的大小约是4mm×4mm×0.5mm,主要采用普通的微加工技术来完成全部制作工艺.与传统继电器相比,这种继电器采用平面线圈来代替螺线管线圈,有利于MEMS工艺,并且提出了一种双支撑的悬臂梁结构做为活动电极,具有较高的灵敏性和稳定性.另外,还进行了一些有关线圈通过激励电流后对活动电极产生电磁力的理论计算和仿真分析,利用这些结果可以对这种电磁继电器的结构和参数进一步优化.     

一种硅衬底镂空结构的圆形射频微电感

利用MEMS工艺以及硅的湿法刻蚀工艺制作了一种硅衬底镂空结构的圆形射频微电感，并研究了硅衬底背面减薄对射频微电感性能的影响，结果表明：微电感硅衬底经过局部刻蚀减薄后其自谐振频率上升，电感量的频率稳定性提高，而其最大Q值下降。     

射频MEMS压控电容器

研究了射频 MEMS压控电容器的设计和制造工艺。压控电容器的制作采用了 MEMS制造技术 ,其主要结构为硅衬底上制作金属传输线电极和介质层 ,然后制作金属膜桥作为电容器的另一个电极。通过改变加在金属膜桥与传输线间的电压达到改变电容值的目的。这种压控电容器可以工作于射频和微波波段 ,具有很高的Q值。测试结果如下 :在 1 GHz、0 V时 Q值达到 3 0 0 ,0偏压电容值为 0 .2 1 p F,当加上驱动电压后 Cmax/ Cmin的变比约为 4∶ 1     

等离子体横向刻蚀硅的特性研究

研究了用SiO2 +Al作掩模 ,SF6 +O2 混合气体等离子体对Si的横向刻蚀 ,其结果表明 ,在SF6 +O2 等离子体气氛中 ,Al是很好的保护膜 ,可以在待悬浮器件下形成大的开孔。因此 ,预计用这种技术 ,可以在Si片上集成横向尺寸为数百微米 ,具有优良高频性能的MEMSRF/MW无源器件 ,如开关、传输线、电感和电容等。     

一种改进的射频加解扰方法

文中提出了一种改进的射频加解扰新方法，采用视频加扰与射频解扰相结合的技术，利用（Ｎ＋１）个电视射频频道实现对Ｎ路电视信号的加扰。     

国内外中短波调幅广播技术20年来的回顾和展望

文章回顾２０年来国内外调幅广播在调制制式，射频放大系统以及包括单边带，浮动载波和调幅多工等多种功能的发展状况。同时对今后调幅广播技术发展方向发表了几点看法。     

RF电路瞬态包络分析算法研究

瞬态包络分析算法是一种快速有效的仿真算法，被广泛应用于RF电路仿真中，文章主要研究了基于打靶法的瞬态包络分析算法－采样包络算法，并给出了该算法的具体流程和计算机实现结果。     

基于RF401集成电路芯片住宅小区无线呼叫报警系统的设计

住宅小区无线呼叫报警系统使用了最新推出的单片无线收发 RF4 0 1芯片 ,通过单片机控制高频发射、高频接收 ,使住宅小区形成了无线报警网络 .呼叫报警系统具有数据双向传输、频率稳定、接收发射合一的特点     

缓冲层对氮化镓二维生长的影响

报道了在射频等离子体（RF-Plasma)辅助的分子束外延（MBE）技术中，使用白宝石（0001）衬底，采用低温缓冲层工艺外延氮化镓（GaN)。通过原子力显微镜（AFM）的表面形貌比较及X射线双晶衍射（XRD）ω扫描摇摆曲线的分析，讨论了低温缓冲层成核机理及缓冲层生长温度与形成准二维生长的关系，确立了缓冲层的三维成核，准二维生长的生长机理，并在此基础上实现了氮化镓外延层更好地二维生长，进一步提高了氮化镓外延层的晶体质量。     

Rare-earth-enabled universal solders for microelectromechanical systems and optical packaging

In packaging of microelectromechanical systems (MEMS), optical, and electronic devices, there is a need to directly bond a wide variety of inorganic materials, such as oxides, nitrides, and semiconductors. Such applications involve hermetic-sealing components, three-dimensional MEMS assembly components as well as active semiconductor or optical components, dielectric layers, diffusion barriers, waveguides, and heat sinks. These materials are known to be very difficult to wet and bond with low melting-point solders. New Sn-Ag- or Au-Sn-based universal solders doped with a small amount of rare-earth (RE) elements have been developed, which now allow direct and powerful bonding onto the surfaces of various MEMS, optical, or electronic device materials. The microstructure, interface properties, and mechanical behavior of the bonds as well as the potential packaging applications of these new solder materials for MEMS and optical fiber devices are described. Various packaging-related structural, thermal, or electrical issues in MEMS are also discussed.