用代码分析技术对ATE应用程序的自动分析

在不少过程化的IC ATE测试应用程序中,测试的数据条件往往与测试算法紧密耦合,使得程序平台转换的工作严重依赖人工的阅读理解.文中提出了一种新途径,将软件反向工程领域中基于概念的源代码分析技术引入到测试程序的转换工作中,对于某种过程化C语言测试程序,在一定程度上实现测试条件等信息的自动提取.     

自动测试设备开关矩阵之研究

对自动测试设备开关矩阵的各种设计方案进行了全面分析比较，提出了一种高适配能力的设计方案，基于此方案设计的混合智能型开关矩阵，解决了自动测试设备与各种被测单元适配难的问题，并已获国家发明专利。     

机载ATE总体技术指标确定方法的研究

根据机载ATE计量保障的要求,针对ATE整体性的特点,通过研究某型机载ATE的测试资源,结合当前部队实际计量工作,提出了确定机载ATE总体技术指标的原则,并对部分总体技术指标进行了不确定度分析,确定了部分机载ATE总体技术指标,合成数据科学,TUR满足量值传递的要求,得到的修正值和不确定度在实际测试中给予了验证,合理可行,是一种有益的探索,有助于规范地开展机载ATE计量工作。     

军用自动测试设备的发展趋向

军用自动测试设备是军用电子装备、现代化指挥系统安全运行和准确操作所必需的重要支撑设备。文章介绍了军用自动测试设备的国内外发展现状 ,具体讨论了其发展趋向和最新的技术应用     

组件对象模型在自动化测试环境中的应用

简单叙述了ATE领域的焦点问题,总结出COM技术在ATE中的巨大潜力,重点给出了用COM来转换仪器驱动程序的方法,阐述了测试系统利用该方法的优势,运行时间上的多态性支持语法上的可互换性,SCPI协会和IVI基金会正在寻求一种技术,使这种互换性能应用到ATE领域,COM技术不但给驱动器提供了展开/综合上的解决方案,而且还提供了远程访问以及其它一系列的好处,最后,为了很好地组织驱动器以及固件,提出以黑匣子的形式来使用COM技术的观点。     

FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁

FPGA 是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着 FPGA 的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。     

基于边界扫描的BIST技术

近年来,随着信息化武器装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加,迫切需要基于边界扫描的BIST技术;在这种应用模式中,基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求,测试结果仅需给出板卡是否有故障而不需要定位具体的故障,如果板卡有问题,将板卡送到基地采用基于边界扫描的ATE技术进行详细的故障定位和维修操作,即基于边界扫描的BIST技术解决故障检测问题,而基于边界扫描的ATE技术解决故障隔离问题;文章紧密联系应用需求,并以工程应用作为参考目标,从技术体系上研究基于边界扫描的BIST技术,并给出了边界扫描互连测试最优BIST架构。     

一种多功能自动测试设备的设计与实现

随着微电子技术的飞速发展,电子产品在各类设备中所占的比例越来越大,对产品的可靠性要求也越来越高,自动测试设备已经成为产品研制、生产及维护保障过程的重要组成部分;必须提高测试设备的覆盖率,同时使产品在调试、试验的各环节都能得到有效监测;介绍一种多功能自动测试设备,能测试A型和B型两种不同计算机,可对4台A型计算机或B型计算机依次逐台进行测试,能够在环境试验过程中进行故障检测与定位;既满足测试验收要求,又满足批生产试验要求.     

一种FPGA验证与测试的方法介绍

如何快速开发FPGA测试平台以实现FPGA验证与测试是本文的研究重点。基于PC、ATE与自制应用型DUT板,对FPGA验证与测试开发技术进行研究。PC主要完成测试程序下载与调试验证工作,自制应用型DUT板实现对FPGA的配置,ATE等待FPGA配置完成后进行信号输入与输出验证。基于该理论对Xilinx公司的XC2S200进行了实验,实验表明该方法可行并能快速实现测试开发与芯片验证,且具有很好的通用性,可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证。     

有效消减测试成本的并行技术分析

文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法。文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合格率以及其它多种限制因素,若设备中可用的独立资源有限,就会降低测试的并行度,从而导致部分测试顺序执行,并行测试的成本优势将迅速消失。