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X射线光电子能谱(XPS) 总被引:5,自引:0,他引:5
在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的。而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征。其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段。 X射线光电子能谱的基本原理(图1)是当一束特定能量的X射线辐照样品,在样品表面发生光电效应,就会产生与被测元素内层电子能级有关的具有特征能量的光电子,对这些光电子的能量分布进行分析,便得到光电子能谱图。XPS起始于发现光电效应之后不久,1914年Rutherford即成功地表述了XPS的基本方程: 相似文献
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Kevex SIGMA^TM定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了X—Ray能谱定性分析的原理,并结合Kevex SIGMA系统,详细介绍了定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用。 相似文献
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在显卡品牌泛滥的年代,缩水是偷工减料,品质低劣的代名词,而这次我们所说的“缩水”却具有不同的意义。[编者按] 相似文献
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CirrusLogic 《世界电子元器件》2004,(6):63-63
CS9268X系列是单芯片实时MPEG-2音视频编码器,包括可编程ARC内核、可编程DSP内核以及作为处理管道的专用处理单元。ARC内核支持包括VCD、SVCD和DVD在内的多种系统应用所需的可编程VBI数据提取和系统多路复用。 相似文献
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