一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法

该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的N值进行编码,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,且不同N值下的编码码字均可使用相同的解码电路来解码,因此解码电路具有较小的硬件开销。对ISCAS-89部分标准电路的实验结果表明,该方法的平均压缩率达到69.87%,较原EFDR编码方法提高了4.07%。     

一种检测冗余故障的瞬态电流测试方法

数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法(VoltageTesting)和稳态电流测试方法(IDDQTest-ing)检测出来的。根据瞬态电流测试(IDDQTesting)的思想,提出一种检测冗余故障的方法,该方法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点的不同路径的延迟差,在重汇聚点形成冒险,以激活故障并进行传播。实验表明,此方法能够有效地检测冗余故障。     

基于测试片段间转移的低功耗BIST实现

随机测试向量产生时,一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的。文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构,该结构采用有效测试向量片段间转移的方式,除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量,并把有效测试向量片段以消耗功耗最小原则依次送入被测电路,减少了测试时间,在硬件代价不高的基础上有效降低了测试功耗。     

用于k测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA)，来构造产生测试向量对的BIST模块。实验证明，该方法用于瞬态电流测试是有效的。     

用KM算法增强测试集的频谱主分量

在集成电路测试领域常常需要对测试集和测试响应进行频谱分析,计算其频谱主分量,用于指导测试产生和进行测试数据压缩等。提出一种用KM(Kuhn-Munkras)算法增强测试集频谱主分量的方法,先根据测试集和其频谱主分量矩阵构建二分图模型和权值矩阵,把增强频谱主分量的问题转化为二分图的匹配问题,然后用KM算法求解。根据匹配关系调整测试集中测试向量的顺序后,频谱主分量和测试集的相关性增加,频谱主分量得到增强。在ISCAS-89基准电路测试集的实验表明,测试集排序后,其频谱主分量的相关性提高了19.05%,测试集残差FDR编码压缩率提高了4.59%。