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石墨电极在SEM下的特征 总被引:3,自引:0,他引:3
利用SEM(扫描电子显微镜)对石墨电极的显微结构及断口形貌进行了观察分析,探讨了石墨电极的微观结构与其性能的关系,以及微缺陷及其与断裂特性的关系,提出了生产过程中控制和减少微缺陷、提高产品质量的建议措施。 相似文献