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X-ray diffraction fitting of the profiles for P-implanted monocrystalline Si was performed by means of Pearson Ⅶ and Pseudo-Voigt functions.It was found that the exactitude of the latter is better than the former.However, the former can be used to calculate the parameters easily.The correlation between 2ω/β and Pearson Ⅶ parameters m and a was presented and applied to phase analysis of SiO_2-SnO_2 mixture. 相似文献
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我厂投产时煤气发生炉用粒度为25~75毫米的冶金焦作为气化原料,炉篦型式是宝塔形的,68年以后改为无烟煤作为气化原料,由于原料的变化,给操作带来了困难,使生产受到影响,我们考察了φ3.6米煤气发生炉五角形 相似文献
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半晶聚乙烯介观结构变化的X射线研究 总被引:1,自引:0,他引:1
使用X射线衍射、电子显微镜及光学-电视动态观察等手段研究了在介观尺度上塑性形变对半晶聚乙烯的结构和性能的影响,解释了半晶聚乙烯的形变与断裂机制。结果表明,随形变的增大,结晶相的含量和晶区取向度增高。半晶聚乙烯的结构特点使其从塑性形变一开始就形成介观结构,介观结构的运动与变化直接影响其形变乃至断裂。 相似文献
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薄膜和镀层力学性能的物理方法测试 总被引:3,自引:1,他引:2
王煜明 《理化检验(物理分册)》2002,38(11):473-477,481
讨论了薄膜和镀层力学性能的测试方法,包括布里渊散射、表面声波、声显微术及微压入方法。前三种方法是非接触法,最后一种是接触法。声学方法可测量弹性系数的各个分量,在薄膜和镀层情况下这些系数是和大块试样不同的,在弹性各向异性情况下可测出对应某个特定方向的弹性系数。微压入法只能测量各向同性的薄膜和镀层,但它还能测量若干塑性以至断裂的行为。最后,根据弹塑性理论进行的计算机数字模拟可以给出各种应力应变状态下的力学性能。 相似文献
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利用离子束辅助沉积技术制备TaN薄膜,并对其进行X射线衍射分析。掠入射的X射线衍射分析得出:离子束辅助沉积制备的TaN薄膜是面心立方结构,晶格常数a为0.4405nm。根据X射线衍射分析,用屈服强度表征的TaN薄膜的显微硬度为16~20GPa,与文献上报道的显微硬度值接近。离子束辅助沉积制备的TaN薄膜宏观内应力较小,且都为压应力。晶粒尺寸大约在10nm左右,随着注入离子能量的增加,薄膜晶粒尺寸有长大的趋势。 相似文献
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