锗酸铋闪烁体快中子辐照硬度的γ能谱研究

锗酸铋晶体作为一种优良的无机闪烁体已被广泛用于高能物理和核辐射测量技术中,因此有必要研究其辐照硬度。本文对锗酸铋晶体进行两种不同剂量的14MeV快中子辐照,并将其用作γ能谱仪的探测器,测量其辐照前后的本底能谱和^137Cs的γ能谱,通过能谱的变化和退火恢复情况来研究锗酸铋晶体的辐照硬度。     

p-n结光谱响应特性分析

<正> 本文以n~+—p浅结硅光电二极管为例,通过解连续方程用计算机对器件光谱响应特性进行分析,结果表明:表面复合速度、掺杂分布、结深是影响光谱响应的主要因素。报告中提出了计算公式,所有计算工作由微机完成。     

光谱修正技术的计算机化

<正> 光谱修正常用减色滤光技术、计算机程序代替实验处理光谱修正中滤光片组合、厚度优选等问题,能取得滤光片的最佳组配,即光损