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71.
超细钛酸钡粉末介电性能测试新方法 总被引:1,自引:0,他引:1
针对超细粉末测试条件极难控制、常温下容易吸潮、表面状况不定等问题,为了克服传统粉末介电性能测试方法在煅烧工艺中改变超细粉末微观结构的缺点,提出了一种有机 无机复合制备试样的新方法.该方法以环氧树脂为基体材料,按不同比例添加超细钛酸钡粉末,使用超声波分散、抽真空等工艺进行处理,制备出配比不同的复合试样.通过测试复合试样电参数随温度、频率的变化,总结实验规律,提出了基于理论换算、建立微观结构模型研究超细钛酸钡粉末介电性能测试的新方法. 相似文献
72.
直流输电已经成为电网建设的关键环节,高压直流电缆是直流输电的关键电力设备。然而,直流电缆料与屏蔽料被国外企业长期垄断,我国不能大规模批量生产质量稳定可靠的高压直流电缆用绝缘料,因此现阶段急需研发具有我国自主知识产权的新型高端电缆料以提升电力设备的国产化率。按照技术需求、研发路径和发展设想三个方面全面综述了高压直流电缆料的研发进展。首先探讨了直流电缆料对包括介电强度、电场分布、空间电荷输运等电性能的技术需求;其次分析了高纯净度电缆料、纳米复合电缆料、共混复合电缆料、接枝改性电缆料和直流电缆屏蔽料等五个研发路径的现状、优势与不足、陷阱特性和发展方向;最后对未来直流电缆料的研究发展进行了展望。采用电荷陷阱理论构建了直流绝缘特性之间的关联,获得了电荷陷阱行为对直流绝缘特性的影响机制,归纳了各路径下电缆绝缘料的陷阱特性及其调控方法。该研究可为我国新型高端直流电缆料的研发提供理论支撑。 相似文献
73.
随着我国城镇建设的迅速发展,城市道路等基础设施的建设也随之突飞猛进。城市道路照明不仅日益受到人们的关注,并且在某种程度上反映了其所在城市的经济发展状况。经济在发展,科技在进步,技术在提高,逐年推出的照明产品日新月异,因此道路照明设计的一些标准及理念也应随着新时代、新经济的发展而作出相应的调整。 相似文献
74.
1 我国电子元件企业面临的发展机遇 在世纪之交 ,我国电子元件企业遇到了三个难得的机遇。第一个机遇是我国将显著提高移动通信设备的国产化率。1999年 8月底 ,我国移动电话用户达到 36 19万户。到 2 0 0 0年6月底我国移动电话用户数量达到 5 92 8.7万户 ,超过日本位居世界第二 ,仅次于美国。到 2 0 0 1年 ,将达到 90 0 0万户。我国将大力促进研发工作的本地化 ,争取到 2 0 0 1年 ,移动通信产品的本地化率超过 5 0 %。为了促进本地化 ,国家将拿出 4亿元支持配套项目 ,同时实施一系列相关政策 ,包括对移动通信产品的外商独资、合资、合作… 相似文献
75.
复合绝缘子耐污闪性能优异而广泛应用于电力系统中,但其不明原因闪络问题却日益严重。研究谐波与不明闪络之间的关联尤为重要。通过分析绝缘子串的等值电路,确定流过绝缘子串的电流大小与电压幅值和频率有关;针对处于谐波环境下的复合绝缘子不明闪络案例展开研究,计算发现10次谐波频率为线路的串联谐振频率,故障时刻电流频谱图也显示各谐波分量中10次谐波电流幅值最大;对故障电流进行测量,发现流过绝缘子的电流值已经超过危险区进入闪络范围;仿真验证了绝缘子串端部确实产生了谐振过电压,且由此计算得到绝缘子上的电流与测量结果一致。结果表明,谐波电流引发高频谐振过电压,导致流过绝缘子串的电流剧增,是复合绝缘子不明闪络的原因之一。 相似文献
76.
77.
电子陶瓷电性能与微观结构参数的关系探讨 总被引:2,自引:0,他引:2
知综述电子陶瓷材料发展的基础上,提出了电子陶瓷微观结构的表征参数,分析了电子陶瓷性能与微观结构参数的关系,详细讨论了具有电绝缘、电容器、压敏、电阻和导体等功能的电子陶瓷对微观结构参数的要求。 相似文献
78.
79.
研究了在连续雷电冲击电流(8/20μs)作用下,35 kV金属氧化物避雷器小电流特性与残压特性的变化规律,以及避雷器内部电阻片的老化特点及失效方式。35 kV避雷器受到连续雷电冲击时,存在一冲击阈值(850次),当冲击次数低于该阈值时避雷器小电流及残压特性几乎不变,当冲击次数大于该阈值时,避雷器小电流及残压特性发生明显劣化;雷电冲击造成避雷器的失效主要是由内部电阻片沿面闪络引起的,并在避雷器接地端首先发生沿面闪络现象;氧化锌电阻片受到雷电冲击后性能出现方向性差异。该研究为35 kV等级的避雷器运行的雷电冲击老化寿命评估和失效方式预防提供了实验依据。 相似文献
80.
化学合成法改进对ZnO压敏电阻片复合粉体的影响 总被引:10,自引:5,他引:5
通过对化学合成法进行改进以适应ZnO压敏电阻片复合添加剂制备的需要,针对化学合成法的不足,提出了解决技术籽晶分布包膜技术,通过控制籽晶、沉淀剂、分散剂、pH值、化学反应进程和温度等因素,获得离子级均匀混合的ZnO压敏电阻片复合添加剂复合粉体前驱体,为进一步获得高性能ZnO压敏电阻片打下了坚实的基础。 相似文献