基于加法生成器的低功耗测试

本文提出了一种基于算术加法生成器的测试或内建自测试的低功耗测试方法。该方法对原测试矢量进行伪格雷码编码,优化被测电路的开关活动率,从而实现低功耗测试。8位行波进位加法器和16位超前进位加法器的实验分析表明,编码后的测试矢量显著地降低了被测电路的开关活动率;基于FPGA的实验结果表明,对于8位行波进位加法器,该方法将电路的平均动态功耗降低了15．282%,对于16位超前进位加法器,则降低了12．21%。该测试方法能侦测到被测电路基本组成单元的任意组合失效;由于原电路中加法器的复用,该测试方法可将测试硬件开销降至最小,但不会降低测试性能。     

具有邻域子空间电路模块的低功耗测试设计

本论文提出了具有邻域子空间电路模块的基于累加器测试的低功耗测试方法.该方法将测试矢量进行伪格雷码编码以降低电路的开关活动率,从而减少测试功耗.FPGA实现的由3~2计数器构成的8位行波进位加法器的实验表明,该方法降低了约17%的测试动态功耗.接着研究了该低功耗测试的硬件实现.通过复用电路中的加法器,巧妙、成功地避免了额外逻辑异或功能模块的引入.该设计将测试的额外硬件开销降至最低且不需要电路结构的调整.该低功耗测试方法能测试出邻域子空间对应电路基本组建模块内的任意固定性组合失效,且不会降低原电路的性能.     

学习策略实现的条件和加法器通路时延故障测试生成

时延故障对高速运算电路性能有着关键性的影响，本文对高速加法器之一的条件和加法器的通路时延故障作了研究。首先对其提出了一种可测性设计，主要特点是硬件成本低和测试向量少，且实现了完全的无险象强健时延故障可测性。在此基础上，进一步提出了一种学习策略的方法，实现了任意位数条件和加法器通路时延故障的测试生成，使得测试难度下降，测试时间缩短，测试效率提高。仿真实验结果表明了该方案的有效性。     

基于神经网络的电路多故障测试及并行实现

对数字电路的多故障测试生成,首先构造被测电路的约束电路结构,并建立测试生成的神经网络模型,然后采用遗传进化算法计算约束电路对应神经网络能量函数的最小值点而获得给定多故障的测试矢量,该方法具有易于实现和有良好的内在并行性等特点.同时给出了算法的并行实现方案.     

基于可测性分析和支持向量机的模拟电路故障诊断

针对低可测性模拟电路的测试问题,提出了一种模拟电路故障诊断的新方法.该方法首先计算被测电路的可测性,利用可测性提供的信息对被测电路进行模糊组划分,组成可诊断的元件集,并引入支持向量机完成对故障的分类识别.可测性分析理论上确定了被测电路可诊断的元件集,支持向量机结构简单,泛化能力强,以模拟和混合信号测试标准电路的实验结果证明了基于可测性分析和支持向量机的模拟电路故障诊断方法是有效的,其故障诊断率大于99%.     

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置

研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。     

基于模拟与遗传进化的电路测试生成方法研究

基于模拟的测试矢量生成(STPG)是数字电路测试生成中的一类主要方法,本文提出一种基于故障模拟与遗传进化技术的电路测试生成方法,给出了方法的详细实现步骤。该方法能减少在产生电路的输入矢量时的随机性,可充分利用已生成的一部分矢量的内在特性,提高了STPG方法的效率     

混合信号集成电路测试中的约束条件分析

对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求.本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励.     

FFT处理器的算术测试与可测性设计

针对快速傅里叶变换处理器，本文提出了一种有效的可测性设计及其测试方案。测试时，该方案将处理器中的寄存器作为扫描链提高了其可控性，利用其中的加法器作为测试生成，生成的测试矢量能侦测处理器每个基本组成单元内部的任意组合失效。由于处理器中一些加法器、寄存器的再利用，以及电路结构的规则性，因而只需最少的额外硬件、面积开销即可真速、并行地实施该测试方案而不会降低电路性能。     

远程幅频特性测试系统设计与实现

以STC12为任务控制与数据处理核心的放大电路,设计实现了幅频特性测试系统。利用直接频率合成芯片AD9852自制信号源,完成了1~40 MHz频率范围内(步进为1 MHz)信号的自动扫频,输出电压峰峰值5~100 m V之间连续可调,可为待测电路提供频率、幅值、波形可调的输入信号。待测电路输出信号通过嵌入式处理器内置ADC高精度采样处理,实现40 d B增益及0~40 d B的无失真连续可调。将该幅频测试仪通过双绞线和Wi Fi模块联网,可远端通过笔记本电脑测试、显示、存储被测电路的幅频特性曲线,其电压增益精度优于0.5 d B。     

基于遗传算法的数字集成电路多故障测试生成方法

在数字集成电路多故障测试生成算法的研究中,寻求具有高故障覆盖率,较短测试生成时间是问题的关键。文中采用遗传算法,通过对已有算法的分析,提出了计算简单、切实有效的适应度函数,减小了算法的时间复杂度,实验结果证明该算法可以有效地得到故障的测试矢量。     

FFT处理器的一种扫描内建自测试方案

对FFT处理器提出了一种采用扫描的内建自测试方案.该方案充分利用FFT结构上的规则性,采用扫描的可测性设计,不需要对处理器内部基本功能单元作任何更改,且测试序列生成和响应压缩都可通过对已有功能模块如累加器的复用来完成.通过将系统已有流水线寄存器构成扫描链且通过扫描链的可重构,不仅进一步简化了测试设计要求,而且减少了硬件成本和系统性能占用,同时还具有测试向量少、故障覆盖率高的优点.     

基于确定性测试集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化，该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比，采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性，此方法对组合电路和时序电路以及对大规模集成电路的内测试和外测试皆试用。     

基于小波包能量谱和ELM的光伏逆变器多故障在线诊断

以三电平光伏逆变器为研究对象,提出一种多故障模式快速诊断新方法。首先,利用小波包分解提取出三电平逆变器的桥臂电压和上、下管电压信号的能量谱特征向量,并利用主成分分析降维后获取故障特征向量;然后,基于极端学习机诊断模型分离出单器件及多器件开路等多种故障模式。实验结果表明,相比于传统BP神经网络、最小二乘支持向量机故障诊断方法,该方法检测信号易获取,抗干扰性强,诊断速度快、精度高,减小了诊断成本和复杂性,适用于在线诊断。     

基于非齐次泊松过程和统计仿真的故障样本模拟生成

由于测试性虚拟试验具有成本低、效率高、风险小、故障注入受限少等优点,故障样本量几乎不受限制,可有效弥补测试性实物试验的不足,但同时也对故障样本生成提出新的要求。为此提出一种适用于测试性虚拟试验的基于非齐次泊松过程和统计仿真的故障样本模拟生成方法。分析指出可修系统的故障发生过程是随机过程,并用非齐次泊松过程及其参数化模型对其进行数学描述。给出故障样本模拟生成流程,建立故障事件发生间隔时间的概率分布函数,通过随机数生成和逆变换法,实现故障样本的模拟生成,仿真获得故障发生次数及其相继发生时间。以某型地平仪为案例进行试验和应用研究。试验结果表明,采用所提方法进行故障样本模拟生成是有效的,能科学指导可修系统测试性虚拟试验中的故障注入。     

基于EMD-HMM的BIT间歇故障识别

针对引起机内测试系统(BIT)虚警的间歇故障,提出了一种基于经验模态分解(EMD)和隐马尔科夫模型(HMM)的间歇故障诊断方法以抑制虚警。首先对原始信号进行EMD分解,选择能量最大的几个固有模式分量函数(IMF)进行特征提取,作为系统状态的观测值;然后将观测值输入到训练好的HMM中进行决策,求取最大似然概率值作为识别结果。结果表明,利用EMD进行特征提取并与HMM方法相结合能很好地分类出各种状态,有效地诊断出间歇故障。     

修复如新下基于RP和MC的故障注入样本生成

由于测试性虚拟试验可有效弥补测试性实物试验的不足,但同时也对故障注入样本生成提出新的要求.在可修系统修复如新假设下,提出一种基于更新过程理论和蒙特卡罗仿真的故障注入样本模拟生成方法.首先分析指出修复如新假设下可修系统的故障发生过程是随机过程,并用更新过程描述修复如新下可修系统的故障发生过程;然后,基于统计仿真实验中的蒙特卡罗方法,对事后维修模式下的故障发生过程进行抽样,实现故障注入样本的模拟生成;最后,以某稳定跟踪平台上的陀螺和运动控制器为案例进行实验.由于考虑了多种寿命分布类型,模拟生成的故障样本在样本量和样本结构上符合实际情况,所提出的方法能有效指导修复如新和事后维修情况下测试性虚拟验证试验中的故障注入.     

基于全速电流测试的印制电路板电路故障信息获取方法

针对当前印制电路板(PCB)非介入式故障诊断的需要,结合电源电流测试技术发展现状,提出了基于全速电流测试,通过向测试电路施加测试序列使被测电路处于静置和全功能状态交替工作,采集电源电流在若干个工作周期内的平均电流值以实现非介入PCB电路故障信息获取的新方法.ITC' 97国际标准电路中的CTSV滤波器电路的全速电流测试...     

基于联合分类的有效测试模式重选方法

针对目前集成电路测试复杂度的不断增加,导致测试成本不断攀升的问题,提出一种可靠而有效的测试集优化方法。通过k均值(K-means)聚类对原始测试集中的特征进行聚类筛选,然后采用改进的mRMR算法,分段式引入特征之间冗余性权重因子,用以权衡特征相关性和冗余性的度量,同时插入了SVM交叉验证,强化了测试模式选择的准确性。在保证故障覆盖率基本不变的情况下,达到减少原始测试集维数的目的。对ISCAS89电路实验表明,该文方法将原始测试集的测试模式进行大量的精简,既保证测试质量,也极大地优化了测试集,进行冗余消除和排序后的测试流程缩短了40.43%的测试时间,提升了测试效率,降低了测试成本。