阵列感应测井仪刻度系数特性研究

刻度系数是阵列感应测井仪器的关键参数.在阵列感应测井刻度理论基础上,导出刻度系数计算公式,计算分析了短、中和长3个子阵列的刻度系数随刻度环半径及其在仪器轴向上所处位置的变化特性.结果表明,不同子阵列的特性差异较大,尤其是长子阵列,并用各子阵列的二维几何因子解释了其产生的原因.讨论了刻度环大小选择、最佳刻度点和刻度电阻确定问题.这些研究结果可用于阵列感应测井仪器刻度中.     

阵列感应测井仪刻度方法研究

正确的刻度是阵列感应测井仪测量的关键。在阵列感应测井仪刻度理论的基础上,在半空间刻度环境下,理论计算并且分析了阵列感应的视电导率,通过与实际测量对比,进而得到刻度环境的大地电导率。利用大地电导率可以得到更加精确的线圈系误差。     

高分辨率感应测井仪的仪器刻度

根据感应测井仪的刻度原理,导出了高分辨率感应（HRI）测井仪同相和正交电导率分量与刻度环感抗和串接电阻之间的关系表达式,得出了该仪器的最佳刻度点位置和最佳刻度环半径值,介绍了该仪器的刻度方法。     

高分辨率感应测井仪的刻度

根据感应测井仪的刻度原理，导出了HRI测井仪同相和正交电导率分量分别与刻度环感抗和串接电阻之间的关系表达式，得出了该仪器的最佳刻度点位置和最佳刻度环半径值，介绍了该仪器的刻度方法。     

三维感应测井仪斜刻度环设计和应用

电磁感应类测井仪通过测量地层的电导率来对油气层进行评价,而仪器刻度是建立仪器响应信号与地层电阻率关系的主要手段。文章详细介绍了一种用于三维感应测井仪横向分量和交叉分量刻度的斜刻度环设计和应用方法。通过数值仿真和实测结果对比验证了斜刻度环设计的正确性。     

MIT5530阵列感应的刻度方法及重要性

阵列感应测井仪器测量的是地层的视电导率,但仪器测量的原始信息是物理上的每一个接收子阵列接收地层的二次场信号,不能直接代表地层视电导率,所以要进行工程值转换。将测量信号转换成地层电导率信息,称为刻度环刻度,即获取仪器K值和直耦值的过程。而保证测井曲线质量最主要的环节是测井仪器的刻度。     

阵列感应测井仪器MIT的标定研究

阵列感应测井仪器采用多线圈子阵列结构,在制造过程中由于电子元件、线圈系制作工艺、机械、装配等原因的影响,同一支仪器的各子阵列的测量值、不同仪器的测量值会有不同.由于刻度环境的限制,测量值与地层真值有一定的差别.针对阵列感应测井仪器MIT,文章提出了一种仪器标定方法.先选择符合感应测井的标定井,然后根据阵列感应测井多探测深度曲线建立标定井地层模型和标准测量曲线.实际仪器通过分段交会图和拟合函数计算标定校正系数.两支实际仪器标定说明了新标定方法的有效性.     

温度对MIT5530阵列感应测井资料的影响

文章介绍了MIT5530阵列感应仪器线圈系结构和刻度文件的组成,分析了温度对MIT5530阵列感应成像测井仪的影响,以及测井资料的取得必须进行温度校正的必要性,为更好地使用阵列感应测井仪器提供参考.     

双感应测井基值大小对感应曲线的影响

介绍了SL1503感应测井仪的现场刻度原理和感应测井基值的调试方法。从仪器的角度对感应测井曲线产生异常现象的原因进行了理论上的推导和分析，并用实例验证了感应测井曲线异常的原因是由于感应测井调试不当以及刻度不及时造成的。针对感应测井曲线的这些异常现象，系统地总结了一套感应测井基值的调试方法。最后，对感应测井仪的现场刻度和调试提出了自己的建议。     

DIL5520双感应-聚焦测井仪刻度控制电路原理

DIL5520双感应—聚焦测井仪是在GY2000双感应—八侧向仪器的基础上研制开发的一种新型的高精度感应—聚焦测井仪，采用与以前感应仪器完全不同的换档方式。文章通过该仪器与以前感应仪器换档方式的对比，阐明了DIL5520双感应—聚焦测井仪在刻度控制电路方面的优点。