电致冷高分辨率Si（Li）能谱仪

电致冷高分辨率Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线能谱分析仪采用电阻反馈前置放大器，灵敏面积为２８ｍｍ＾２Ｓｉ（Ｌｉ）探测器，对＾５５Ｆｅ５．９ｋｅＶＸ射线，能量分辨率（ＦＷＨＭ）为７００ｅＶ左右，对探测器在不同温度下随偏压的变化，致冷功率与温度关系，冷却温度与时间关系进行了研究。     

Si（Li）探测器系统噪声的测量及低能X射线能量分辨的计算

从实验和理论讨论分析了Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、前置放大器的噪声对Ｓｉ（Ｌｉ）探测器的探测范围的影响，分析了目前国产Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、前置放大器的噪声情况，得出我国目前探测器系统的噪声技术可以实现Ｏ、Ｆ等轻元素的测量，并计算了测量Ｃ、Ｎ元素时探测器系统的极限噪声值（对Ｆｅ源的５．８９４ｋｅＶ）。     

一台自行组建的低本底Ge（Li）－NaI（T1）反符合γ谱仪

本文报道自行组建的一台Ｇｅ（Ｌｉ）－ＮａＩ（Ｔｌ）反符合γ谱仪的结构和性能。主探测器是φ６１．５ｍｍ×５６．０ｍｍ的同轴Ｇｅ（Ｌｉ）探测器（灵敏体积为１５０ｃｍ￣３），由φ８８．９ｍｍ×７６．２ｍｍ的圆柱形ＮａＩ（Ｔｌ）晶体和外、内径×高为２５４ｍｍ、８８．９ｍｍ×３０５ｍｍ的环形ＮａＩ（Ｔｌ）晶体构成井型反符合探测器，主要的物质屏蔽层是１００ｍｍ铅＋１５ｍｍ钢＋５ｍｍ铜。Ｇｅ（Ｌｉ）探测器对￣（６０）Ｃｏ１３３３ｋｅＶ能量的分辨率为２．４ｋｅＶ，峰康比为４４，相对探测效率为２４％。在反符合屏蔽条件下，谱仪在康普顿坪（３５８—３８２ｋｅＶ）和康普顿端（４６０—４８４ｋｅＶ）的抑制因子分别为５．Ｏ和５．４；康普顿区积分（５０—５９５ｋｅＶ）抑制因子３．６，峰康比（￣（１３７）Ｃｓ点源）为４９４。在１００—２０００ｋｅＶ能区屏蔽室内、外的积分本底比为１：１３１。加反符合和不加反符合条件下的积分本底抑制因子为３．５，加反符合后的积分本底为１７．２ｃｐｍ。当测量时间１０００ｍｉｎ、置信度９５％时，￣（１３７）Ｃｓ的最低可探测活度（判断限）为５．８ｍＢｑ．２４小时内，￣（２４１）Ａｍ、￣（１３７）Ｃｓ和￣（６０）Ｃｏ     

外延硅dE／dX探测器的研制

本文介绍了厚度为５．２－６．０、１０－１３、１９μｍ，有效面积为２８－１５４ｍｍ＾２的外延硅ｄＥ／ｄＸ探测器的研制工艺，主要用途，测试结果（对９．８７ＭｅＶ α粒子的能损△Ｅ的分辨率为５６－１２８ｋｅＶ）和在核物理实验中的应用。     

三探头Si（Li）探测器对HL—1M装置中电子温度和重金属杂？…

本文叙述了用三探头Ｓｉ（Ｌｉ）漂移探测器测量ＨＬ－１Ｍ托卡马克芯部等离子体辐射的软Ｘ射线能谱，得到等离子体温度及重金属杂质水平随时间变化，其时间分辨达５０ｍｓ，探测系统的测量范围１．２５￣２５ｋｅＶ之间。     

三探头 Si(Li)探测器对 HL-1M 装置中电子温度和重金属杂质线辐射谱测量

本文叙述了用三探头Ｓｉ（Ｌｉ）漂移探测器测量ＨＬ－１Ｍ托卡马克芯部等离子体辐射的软Ｘ射线能谱，得到等离子体温度及重金属杂质水平随时间变化，其时间分辨达５０ｍｓ，探测系统的测量范围１．２５～２５ｋｅＶ之间。     

Si（Li）电子谱仪的研制

研制了“无窗”的Ｓｉ（Ｌｉ）电子谱仪，测量了＾２０７Ｂｉ的内转换电子能谱，对能量９７５．６２ｋｅＶ的电子取得了２．０７ｋｅＶ的能量分辨率。     

北京HI－13串列加速器的能量刻度

利用￣（２７）Ａｌ（ｐ，ｎ）￣（２７）Ｓｉ中子阈反应的阈能Ｅ＿（ｔｈ）＝５．７９６９ＭｅＶ，￣（１２）Ｃ（ｐ，ａ＿Ｏ）￣９Ｂ共振反应的共振能量Ｅ＿γ＝１４．２３０７５ＭｅＶ以及对￣（１４）Ｎ（ｐ，ｐ＿Ｏ）￣（１４）Ｎ、￣（１４）Ｎ（ｐ，ｄ＿Ｏ）￣（１３）Ｎ反应用动量匹配法，在交叉能量为Ｅ＿ｃ＝１７．１６４７ＭｅＶ等３个能量点对北京ＨＬ－１３串列加速器作了刻度。得到加速器分析磁铁常数Ｋ（ｋｅＶ·ｕ／ＭＨｚ￣２）＝４３．６２１０＋１．２９３×１０￣（－５）Ｅ＿ｂ（ｋｅＶ），是能量的弱函数，在质子能量为Ｅ＿ｐ＝１４．２３０７５ＭｅＶ时，加速器的能量分辨是（ΔＥ／Ｅ）＿ｒ＝１．８×１０￣（－４），其能量稳定度为（ΔＥ／Ｅ），＝３．２×１０￣（－４）。     

~（152）Sm的22－1019keV能区中子俘获截面的测量

在４．５ＭｅＶ静电加速器上．利用７Ｌｉ（ｐ，ｎ）７Ｂｅ和Ｔ（ｐ．ｎ）３Ｈｅ反应作为中子源，在２２－１０１９ｋｅＶ中子能区以（１９７）Ａｕ的中子俘获截面为标准，用活化法测量了（１５２）Ｓｍ的中子俘获截面．其误差小于６．８％。     

^75Se和^113Sn的KX射线发射几率测量

用＾５４Ｍｎ、＾５７Ｃｏ、＾６５Ｚｎ、＾８５Ｓｒ、＾１０９Ｃｄ、＾１３７Ｃｓ等核素发射的ＫＸ射线和Ｉ（ＫＸ）／Ｉ（γ）比值法在５￣４０ｋｅＶ范围内对Ｓｉ（Ｌｉ）探测器的效率进行了刻度（不确定度小于２％）。在此基础上，用Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线谱仪系统和ＨＰＧｅγ射线谱仪系统对核素＾７５Ｓｅ和＾１１３Ｓｎ的主γ射线和ＫＸ射线进行了测量，获得了＾７５Ｓｅ和＾１１３Ｓｎ的ＫＸ射线发射几率，并与文献报道值进行了