JTY—GD／771地址编码光电感烟探测器设计

简要叙述了光电感烟探测器的工作原理及ＪＴＹ－ＧＤ／７７１地址编码光电感烟探测器的设计思路，技术参数和发展前景。     

高可靠离子感烟探测器

本文介绍了高可靠离子感烟火灾探测器的基本结构及工作原理并简述新一代离了感烟火灾探测器的发展情况。     

减少火灾探测系统误报的新方法

在这篇文章中，我们提出减少感烟探测器误报次数的新方法，并将这些方法应用于离子感烟探测器，探测器能很精确地判定它的工作条件和环境状况，当其环境发生变化时，探测器能自动确定其原因，而不论此变化是不与火灾有关，这是通过按两种灵敏度范围测量电离室的电流，并使用新算法分析结果而作出的，借助于使用模糊逻辑的算法，我们基本上可以识别出离子探测器可能产生的每一个潜在问题。     

离子式感烟火灾探测器研制及应用技术探讨

几十年来离子式感烟探测器一直在火灾探测领域占居主导地位，但由于光电式感烟探测器近年来发展使其受到挑战。本文从两者各自探测原理、探测性能的差异，工作寿命诸方面进行分析比较，对于人们就核辐射放射性危害的误解释疑，并就离子式感烟探测器目前自我完善，发展方向和途径作探讨和研究。     

新型光电感烟探测器

本文介绍了一种新型的烟雾传感器－光电感烟探测器的工作原理，阐述了它所具有优越性，指出它将成为下一世纪火灾探测器的主导产品。     

离子感烟火灾探测器的放射防护安全管理

介绍离子感烟火灾探测器的应用情况和安全管理现状,并结合在实际工作中存在的辐射安全隐患问题,提出了相关的建议。     

X和γ射线成像阵列探测器：基本问题,发展和前瞻

对Ｘ和γ成像探测器的基本问题及现况进行了综述,探讨了未来的发展方向。     

超导体核辐射探测器的探测原理

一、引言对于某些核辐射探测器,降低它们的工作温度便可得到较好的探测器性能,例如硅和锗探测器,当工作温度为77K时,能量分辨可提高很多。一些金属和它们的氧化物在极低温度下成为超导体,利用这种超导现象有可能得到性能极好的探测器,也有可能比现在已实用的半导体(?)测器的能量分辨要提高一个量级。高分辨测量有可能在许多领域内得到应用。关于在极低温度下((?)IK)对超导体核辐射探测器已有一些评论,这里仅介绍超导体核辐射探测器的探测原理。     

硅微条粒子探测器

本文介绍了硅微条粒子探测器的研究情况，侧重于器件的基本结构及其工作原理。     

新型半导体探测器发展和应用

新型半导体探测器如硅微条、Pixel、CCD、硅漂移室等,近些年发展很快,在高能物理和天体物理实验中作为顶点及径迹探测器应用很广。主要是它们的位置分辨率非常高,像硅微条探测器．目前可做到好于1．4μm,这是任何气体探测器和闪烁探测器很难做到的。主要介绍这些新型半导体探测器的结构、原理、及其发展在高能物理、天体物理、核医学等领域应用。     

新型常温CdZnTe半导体探测器的研制进展

碲锌镉（CdZnTe）探测器是目前常温γ射线探测器中最主要的探测器之一,它可在常温下使用,无需象HPGe等半导体探测器要求低温（液氮制冷）,又比常用的NaI（Tl）探测器具有更好的能量分辨。CdZnTe探测器的平均原于序数高,单位体积的探测效率相应较高,可做成体积小、重量轻的便携式探测器。同早期的CdTe常温探测器相比,CdZnTe探测器电阻率高了2个数量级,同时消除了极化效应,增强了工作稳定性,CdZnTe材料易加工处理。CdZnTe探     

CR—39探测器的α粒子径迹研究

研究了以KOH作蚀刻液、恒温60℃蚀刻时CR-39探测器的α粒子径迹情况。实验表明,α能量越低则径迹显现时间越短;能量低至70keV时,CR-39就不能显出径迹。径迹直径随蚀刻时间延长而增大。能量1—4MeV时径迹随能量变化较快;超过4MeV时,这一变化逐渐减小。当α粒子的入射角大于40°时,实际角度和根据径迹参数而求得的角度非常一致;而小于此角时,两者相差较大。     

Si（Li）电子谱仪的研制

研制了“无窗”的Ｓｉ（Ｌｉ）电子谱仪，测量了＾２０７Ｂｉ的内转换电子能谱，对能量９７５．６２ｋｅＶ的电子取得了２．０７ｋｅＶ的能量分辨率。     

电流型碳化硅探测器

本文从电流型半导体探测器的起源、传统电流型探测器在应用中的问题出发，论述了国内外在新型半导体探测器研制和电流型半导体探测器的研究现状。对半导体探测器结构和物理特性进行了研究，并重点介绍了电流型碳化硅（SiC）探测器的设计制作、响应性能研究、抗辐照性能研究等内容，为电流型半导体探测器的研究和应用提供参考。     

硅光电二极管闪烁探测器

本文介绍了硅光电二极管闪烁探测器的组成，性能、应用及其试验验证。     

Si（Li）探测器系统噪声的测量及低能X射线能量分辨的计算

从实验和理论讨论分析了Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、前置放大器的噪声对Ｓｉ（Ｌｉ）探测器的探测范围的影响，分析了目前国产Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、前置放大器的噪声情况，得出我国目前探测器系统的噪声技术可以实现Ｏ、Ｆ等轻元素的测量，并计算了测量Ｃ、Ｎ元素时探测器系统的极限噪声值（对Ｆｅ源的５．８９４ｋｅＶ）。