用高性能测试系统测试高速组件时传输线的影响（上）

要测试高速多针脚集成电路(这里所说的集成电路不是用于驱动传输线的集成电路)是一个难题,因为测试仪到被测件之间的连线常起着类似于传输线的作用。HP82000集成电路测试系统使用阻性分配器技术,能精确测试 CMOS 及其它高速组件。目前数字专用集成电路(ASIC_S)发展的特点在于时钟速率和信号     

射频阻抗测量夹具建模技术的研究及应用

分析了阻抗测量夹具中由于阻抗不连续以及信号传输结构变换引起信号的反射,建立PCB板微带传输线、同轴传输线至微带线的转接的模型,最后介绍从测量结果中消除夹具影响的方法.使用自制夹具测量0603封装的贴片器件, 并利用文中介绍的方法进行建模和去嵌入处理,最终获得贴片器件的射频特性;同时可以得到微带线的特性,实际验证了该方法的正确性.     

自动探针测试探头性能的分析

在集成电路的制作工艺中,广泛地采用自动探针和测试仪连动,实现电路特性及参数的中间测试,为后工序的工艺过程提供合格的电路。自动探针和测试仪是通过测试探头而连接起来的。因此,测试探     

PCB板特性阻抗测试方法研究

随着大规模、超大规模集成电路被广泛应用于通用系统中,新的串行总线的速率高达几十Gbit·s-1,在这样的速率下,如果传输线的阻抗不符合标准,传输线间就会产生严重的串扰,这将直接影响PCB的质量。为更深入地研究特性阻抗的测试方法,文中就特性阻抗的基本知识、TDR测试的基本原理和方法进行了介绍,为日后的PCB板特性阻抗测试工作提供了参考。     

一种0.18μm CMOS毫米波带通滤波器的设计

基于SMIC 0.18μm RF-CMOS工艺,设计了一种采用垂直地平面共面波导(VGPCPW)传输线的片上30 GHz带通滤波器。通过对传统CPW和VGP CPW两种不同结构传输线的理论研究,对比分析了两者的损耗、特征阻抗及隔离特性,建立了VGP CPW长度可扩展的传输线模型。使用特征阻抗为50Ω的低损耗VGP CPW传输线结构,结合VGP CPW长度可扩展模型与EM分析方法,设计了30 GHz带通滤波器。在片测试结果表明,该毫米波VGP CPW传输线滤波器模型仿真和电磁场仿真S参数曲线与测试结果比较吻合,可为毫米波集成电路滤波器设计提供借鉴。     

GH3123A集成电路自动测试仪性能简介

GH3123A型集成电路自动测试仪(以下简称测试仪),适用于24脚以内中、小规模数字集成电路逻辑功能与直流参数的测试。测试对象为TTL、CMOS、HCMOS、HTL系列器件,包括各类门电路、组合电路、时序电路(触发器,计数器,移位寄存器)及MOS开关等。测试仪采用微处理器控制,2000多种器件的测试程序,固化在机内EPROM中,只要输入被测件(DUT)的型号就可自动完成测试并自动判断DUT是否合格。测试结果采用CRT显示并伴有声音提示,可连接标准打印机打印输出。测试仪采用变电源测试逻辑功能,测试严格。精确的微电流测试,完全满足CMOS电路的测试要求。测试仪具有管脚接触判断功能,能自动判断接触不良的管脚号并中止测试。测试仪软件功能齐全,具备多种测量模式可供用户选择,测试操作简单,可靠耐用,性价比极高,是工厂、部队、院校和科研单位用于测试数字集成电路先进的检测工具。该测试仪具有如下特点:     

传输线的阻抗控制

阐述了传输线特征阻抗的物理含义,介绍了2种传输线阻抗计算的经验公式,在此基础上讨论了影响传输线阻抗控制的主要因素。重点分析了当光发射模块的驱动器芯片和激光器之间的传输线阻抗不匹配时对信号眼图的影响及其改进情况,并进一步从PCB板上电路的工艺设计来解决传输线的阻抗控制问题。     

Characterization and Modeling of Finite-Ground Coplanar Waveguides in 0.13μm CMOS

讨论了利用TSMC 0.13μm CMOS工艺实现的共面波导的特性及其建模.通过Momentum等电磁场仿真软件计算了传输线的基本参数,例如特征阻抗和衰减常数.并设计了特征阻抗分别为30,50,70和100Ω的共面波导传输线元件库.最后,在0.1～40GHz的范围内利用网络分析仪和SOLT(short-open-load-thru)测试技术测得特征阻抗和衰减常数,共面波导的分布参数则通过提取测试得到的S参数得到.     

0.13μm CMOS上接地板宽度有限共面波导的特性与建模

讨论了利用TSMC 0.13μm CMOS工艺实现的共面波导的特性及其建模.通过Momentum等电磁场仿真软件计算了传输线的基本参数,例如特征阻抗和衰减常数.并设计了特征阻抗分别为30,50,70和100Ω的共面波导传输线元件库.最后,在0.1～40GHz的范围内利用网络分析仪和SOLT(short-open-load-thru)测试技术测得特征阻抗和衰减常数,共面波导的分布参数则通过提取测试得到的S参数得到.     

DC绝缘阻抗测试仪的设计与实现

针对电子电气等产品在生产过程中需进行DC绝缘阻抗测试的要求,设计并实现了一种基于Cortex-M3的DC绝缘阻抗测试仪。该测试仪以Cortex-M3作为核心控制器,配置DC高压产生电路、信号采集调理电路和LCD显示电路,从而达到对产品进行实时有效绝缘阻抗测试的目的。经实验证明,该测试仪能进行1 MΩ~10 GΩ的绝缘阻抗测量,且具有输出功率大、测量精度高等优点,可广泛应用于各类电子、电气等产品生产企业。