首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 93 毫秒
1.
光学三维轮廓测量技术综述   总被引:3,自引:0,他引:3  
三维物体表面轮廓测量是获取物体形态特征的一种重要手段。本文分类讨论了光学三维轮廓测量中所采用的技术,介绍了各种技术的基本原理及特点,并重点描述了以相位测量方法为基础的几种典型光学轮廓测量方法,为今后正确和广泛应用三维传感技术提供了参考。  相似文献   

2.
三维物体表面轮廓测量是获取物体形态特征的一种重要手段,分类讨论了光学三维轮廓测量中所用的技术,介绍了各种技术的基本原理及其特点,重点介绍了以相位测量方法为基础的几种典型光学轮廓测量方法.  相似文献   

3.
用彩色二维编码测量动态物体三维轮廓的方法   总被引:1,自引:1,他引:0  
用红绿蓝颜色的正方形组成二维编码平面,并针其附着在被测物体表面,作为立体视觉测量中的匹配点。用2套光学成像系统获取被测物体的彩色图像,通过计算机图像处理技术找出2个图像中的匹配点,再根据匹配点的视差来获取物体的三维轮廓信息。这一方法特别适于对人体的运动进行三维跟踪测量。  相似文献   

4.
三维物体表面轮廓测量是获取物体形态特征的一种重要手段,分类讨论了光学三维轮廓测量中所用的技术,介绍了各种技术的基本原理及其特点,重点介绍了以相位测量方法为基础的几种典型光学轮廓测量方法。  相似文献   

5.
随着三维视觉技术广泛应用于类镜面测量,对其精度的要求也日益严苛.基于相位信息的三维视觉测量技术,向被测物表面投影条纹光,然后获取经被测物表面调制后的图像,解调出待测物的相位信息,进而重建物体三维信息.通过论述相位测量轮廓术(PMP)和相位测量偏折术(PMD)的原理和检测流程,分析出该检测系统的误差来源.重点论述了4种P...  相似文献   

6.
光学剪切电子散斑技术的改进与应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一种新型光学测量技术——剪切电子散斑技术的改进与应用,它是一种有效的基于激光技术,测量三维物体表面变形和形貌的非接触测量方法。与传统方法相比,改进后的方法光路结构和采用的算法更加简单,可广泛应用于表面应变、张力、材料特性的测量,残余应力的估计,表面泄露的监测以及物体表面三维形貌测量等领域。  相似文献   

7.
三维激光扫描技术因具有准确性强、检测效率高、无损等优势而被应用于各行各业的物体体积测量。本文概括了利用三维激光扫描技术获取物体轮廓表面信息的几种光学原理;综述了三维激光扫描测体积系统中点云数据获取、点云数据预处理、三维重建与体积计算的研究进展;对三维激光扫描测体积技术在各类行业中的应用现状进行总结分析;最终展望了三维激光扫描技术在不规则体体积测量上面临的挑战和未来的发展趋势。  相似文献   

8.
不用专门相移装置的三维面形测量   总被引:1,自引:1,他引:0  
提出一种不需要专用相移装置实现相移,主要利用数字图像处理技术实现三维面形测量的方法,研究结果表明,用原干涉图像及1幅以上的移值条纹图主可能实现物体三维面形的测量。  相似文献   

9.
层析三维测量图像边缘检测的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
逆工程技术在激光快速成型制造应用中起着重要的作用本文运用扫描仪层析测量技术克服了常规的激光扫描法只能测量物体外表面三维数据的缺点,可以同时抓取复杂物体的内腔表面及外表面的三维几何特征数据。  相似文献   

10.
结构光条纹投影是广泛应用的一种三维测量技术.虽然该技术经过几十年的研究和发展,但如何从单幅图像中快速获取物体三维形貌仍然是没有得到很好解决的难题之一.近几年,深度学习方法广泛应用于计算机视觉和图像处理领域.提出一种基于U-Net网络的结构光三维测量方法.该方法直接从单个变形条纹图中获取物体表面的深度信息,实现三维形貌的快速测量.仿真和实际实验数据证明了所提方法的有效性.由于仅从一幅变形条纹中计算得到三维数据,所提方法可应用于动态物体三维面形的测量.  相似文献   

11.
曾宪林 《红外技术》2000,22(5):35-39
介绍了靶场测量激光雷达的发展简况,分析了靶场测量激光雷达的特点、关键技术以及今后的发展趋势。  相似文献   

12.
一种小型化纳米级单光栅位移测量系统的研制   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
随着纳米技术的广泛应用以及人们对纳米位移测量认识的不断深化,光栅位移测量技术正在受到广泛的关注。在研究反射式光栅位移测量原理的基础上,设计并实现了一种小型化纳米级单光栅位移测量系统,对系统总体设计、光路布局以及软件算法进行了阐述,最后,利用电容位移传感器ASP-10-ILA等辅助仪器进行了对比实验。实验结果表明:在两路信号不完全正交的情况下系统也能实现准确测量,且理论上系统的位移测量分辨率达到1 nm;在电容位移传感器的量程范围内进行小位移对比试验,系统测量均值与参考值最大偏差118 nm,且与拟合直线偏差均小于100 nm;当光栅发生10 mm以上的较大位移时,测量结果与均值的偏差均小于5 ppm。  相似文献   

13.
五维信息同时测量的激光方法   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
匡萃方  冯其波  刘斌 《激光技术》2005,29(3):322-324
发展同时测量多维信息的激光系统是计量和工业等许多领域普遍提出并有待发展的技术问题。介绍了国内外现有激光五维信息同时测量系统,分析了其优缺点,给出了其发展趋势。  相似文献   

14.
在RoboCup Soccer仿人机器人比赛中,机体姿态实时解算是仿人机器人运动控制系统的核心技术之一。文中分析了MEMS加速度计、磁强计和陀螺仪性能,以自主姿态测量为前提,融合惯性测量单元中多传感信息,提出了一种基于四元数的姿态解算算法。针对仿人机器人步行姿态控制中传感器数据存在的噪声干扰和测量误差,设计卡尔曼滤波器实现了对数据漂移的有效补偿,从而提高了全姿态检测的测量精度。试验结果验证了该算法对仿人机器人运动控制系统机体姿态实时解算的有效性。  相似文献   

15.
微细台阶测量技术的发展现状   总被引:1,自引:0,他引:1  
微细台阶参数是大规模集成电路和微机械结构制作过程的重要技术指标 ,直接影响器件和构件的特性 ,目前要求台阶测量应具有纳米级精度。概要介绍了台阶测量技术的发展情况 ,阐述了非接触台阶测量和接触式台阶测量技术 ,从测量原理、测量精度与分辨率、适用范围、对被测对象的要求与影响等几方面分析了各种测量方法的特点 ,并得出了结论。  相似文献   

16.
根据大规模多点位远距离温度监控的要求,设计了一种适合于施工信息智能监控的测温系统,本文介绍了系统中主要的硬件和软件模块的设计。  相似文献   

17.
SiC MESFET工艺在片检测技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了SiC MESFET芯片加工工艺中的主要在片检测技术,包括芯片表面情况判定、干法刻蚀的监浏、等平面工艺的辅助测试、欧姆接触比接触电阻值的测试以及各种中间测试技术.芯片表面情况判定主要通过显微镜观察表面形貌、原子力显微镜测表面均匀性以及扫描电镜观察形貌以及组分分析.干法刻蚀的监测主要通过台阶仪结合椭偏仪实现,即保证了干法刻蚀按预想的深度刻蚀也验证了材料结构的参数.通过TLM图形测试的比接触电阻值可以确保良好的欧姆接触,减小器件的串联电阻,提高器件的电流处理能力,为实现高功率输出奠定基础.通过台阶仪测量和显微镜观察实现的等平面工艺大大提高了器件的性能,微波功率提高30%左右,增益提高1.5 dB以上,功率附加效率提高接近10%.  相似文献   

18.
在现实生活中,测控仪器的使用是非常广泛的,最为常见的就是将仪器用在信息处理和大数据计算上,将嵌入式的网络操作系统应用在网络测控之中,利用嵌入式网络进行网络仪器的整合和硬软件的更新成了当下亟待解决的问题,是实现信息储存和数据记录的现实条件。文章就嵌入式无线网络测控仪器关键技术展开研究,对其技术的实现形式展开探讨。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号