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1.
黄逊青 《电子产品可靠性与环境试验》2017,35(1)
根据家用电器产品的特点,提出了一种利用简单的串联系统模型,以故障率排序处于前5位的零部件故障率上限值来计算整机的故障率上限值,从而确定整机的可靠度下限值的家用电器的可靠性预计方法.该方法便于利用加速试验方法对零部件的故障率进行评价,同时也便于利用历史数据来改善可靠性预计工作的效率和质量. 相似文献
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导弹飞行可靠度评定方法初探 总被引:1,自引:0,他引:1
程德斌 《电子产品可靠性与环境试验》2005,23(Z1):85-88
提出一种导弹飞行可靠度的评定方法.即,将导弹可以重复工作的设备所构成的分系统整体进行综合的环境可靠性试验,直接获得指数型分系统的试验数据;通过收集信息获得二项型分系统的试验数据;再采用统计方法进行计算而得到全弹的可靠性评定结果. 相似文献
4.
利用实测数据制定可靠性试验剖面综述 总被引:1,自引:0,他引:1
首先,分析了利用可靠性试验标准计算可靠性试验剖面的局限性;然后,介绍了利用实测数据制定可靠性试验剖面的益处;最后,总结了利用实测数据制定可靠性试验剖面的一般过程及常用的数据处理方法,对于今后可靠性试验剖面的制定具有一定的指导意义. 相似文献
5.
家用电器无故障定时截尾可靠性试验方案探讨 总被引:2,自引:0,他引:2
黄逊青 《电子产品可靠性与环境试验》2010,28(6):27-31
无故障定时截尾方案是针对故障率较低的家用电器产品的可靠性鉴定试验和验收试验方案,累计测试时间依据置信度确定,可接收状态为无故障或仅出现1个故障,试验方案编制简便和易以掌握,试验过程管理简单。按寿命服从指数分布的条件导出试验方法,同时将适用范围推广至寿命服从形状参数已知的两参数威布尔分布的条件。 相似文献
6.
基于国内企业对产品质量以及可靠性要求越来越高,可靠性试验方案的选择尤为重要,GJB899A可靠性鉴定与验收规范详细列举了定时截尾试验、序贯截尾试验。阐述企业的考量是基于质量目标的前提下,要求试验方案测试成本低、时间可控,本文结合定时截尾以及序贯截尾的思路,制定了一种零失效试验,结合最小测试样本量的方案,可以定量评估出试验方案合理性,为企业制定可靠性试验方案提出相应的依据。 相似文献
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廖绍华 《电子产品可靠性与环境试验》1996,(3)
电子设备进行整机设计时,常常要利用比现在使用的元器件更高质量、更高性能的产品,以及引入新型的元器件.相互利用元器件厂家所开的元器件的评价试验数据、整机用户为产品可靠性和维修保养管理而获得的现场使用数据及评价试验数据等,是数据交换制度的宗旨. 相似文献
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《电子科技文摘》2006,(10)
0625783基于研制数据的产品可靠性验证方案的确定〔刊,中〕/蒋同斌//淮阴工学院学报.—2006,15(3).—10-12(L)常用抽样检验的方法进行产品可靠性验证,根据这一方法所确定的验证试验方案,在一定的风险下所需样本量较大,有时在工程上是不可接受的。针对这一问题,提出利用产品研制期间的试验数据,重新确定抽样方案,从而减少验证试验所需样本量或降低风险。参130625784基于PROFIBUS的双边剪控制系统的可靠性设计〔刊,中〕/魏伟//计算机测量与控制.—2006,14(7).—912-914(C)0625785合格评定(下)〔刊,中〕/谭福有//信息技术与标准化.—2006,(… 相似文献
10.
黄逊青 《电子产品可靠性与环境试验》2011,29(3):37-39
提出以无故障数据为基础的家用电器产品成败型可靠性鉴定试验和验收试验方案,以无故障数据结果来确定试验样品的基数,判定条件为Ac=1,Rc=2,分2小批进行试验,当第1小批结果为无故障数据时,提前结柬实验.从而简化试验方案,减少试验样品数量,缩短试验时间,改善可靠性试验的可操作性和经济性. 相似文献
11.
Andrew Flint 《Journal of Electronic Testing》1997,10(1-2):65-76
Chip test practices such as functional test and Bist, and their relevance to MCM testing are summarized. Drawbacks of using these techniques, for some MCMs, are presented.Board test practices such as in-circuit test andboundary-scan, are summarized; the advantages of incorporating boardtest techniques for certain MCMs are given. Test strategies arecategorized and compared. Appropriate MCM test equipment isdiscussed. Examples of using chip, board, and hybrid test approachesare then given. 相似文献
12.
Markus Seuring 《Journal of Electronic Testing》2006,22(3):297-299
For digital chips containing functional logic and embedded memories, these are usually tested separately: Scan test is used
for testing functional logic; Memory Built-in Self Test (MBIST) is run for embedded memories. A new approach is proposed to
exercise scan test and MBIST in parallel in order to reduce production test time and improve stress tests. It requires only
small additional logic and allows to simultaneously run both test modes. In general, the approach can be used to control simultaneously
scan test and any Built-in Self Test (BIST) providing a simple pass/fail result. 相似文献
13.
参照ISO9646介绍了一致性测试的一些基本概念和过程,分析了它的一些缺陷和不足,对互扣作性测试的概念,分类,测试方法等各方面也进行了介绍和分析,并将互操作性测试和一致性测试进行了比较,从而能在理解一致性测试的基础更好地理解互操作性测试。 相似文献
14.
汽车传感器质量直接影响汽车整体性能,本文提出利用柔性测试技术帮助汽车厂商在传感器出厂或安装到整车前,对传感器进行评价和验证。 相似文献
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18.
宾建伟 《电子产品可靠性与环境试验》2008,26(1):48-51
就压力测试的测试内容、性能指标展开讨论.描述了采用自动测试工具模拟大量并发的方法来实现压力测试,并用实际的案例来说明压力测试的详细实施过程. 相似文献
19.
RFID测试标准和测试技术研究 总被引:2,自引:1,他引:1
作为RFID技术体系中的一项关键支撑技术,RFID测试对于RFID技术的进一步推广应用有着重要的意义,因此国内外相关组织和单位都纷纷推出了相应的测试标准.这些测试标准中采用的测试依据不同.测试的对象和方法也有所差别.文章就现行的一些RFID设备的测试标准进行研究,并分析了RFID测试技术的一些基本要素,对未来RFID测试技术的发展进行了展望. 相似文献