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低压ZnO压敏电阻器性能的改善 总被引:3,自引:0,他引:3
制作低压ZnO压敏电阻器的一般方法是添加晶粒助长剂TiO2。这样做虽然可降低梯度电压V1mA/mm,但同时也增大了漏电流IL,降低了元件的稳定性。在掺入TiO2,使V1mA/mm下降的同时,适量掺入硼并在850℃下进行热处理,可改善小电流特性和非线性,减小IL,提高稳定性。 相似文献
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纳米微晶SnO2薄膜的制备和光学性能的研究 总被引:5,自引:0,他引:5
以无机盐为原料制备得到纳米微晶SnO2薄膜。由透射比曲线计算发现,随热处理温度的升高,薄膜的折射率、消光系数均增大。研究表明,掺Ti的SnO2薄膜吸收边的跃迁属间接跃迁,随晶粒尺寸的减小,间接带宽增大。 相似文献
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SiO_2对ZnO压敏电阻器性能的影响 总被引:3,自引:1,他引:2
实验研究了SiO2对ZnO压敏电阻器性能的影响,在ZnO陶瓷中,添加适量的SiO2可以提高压敏电阻器的α值和电压梯度,降低漏泄电流,提高通流量,能够制造出性能优异的ZnO压敏电阻器。 相似文献
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采用XRD、SEM、EDAX、粒度分析等手段研究了在(1-x)SrTiO3xBi2O3·3TiO2(简称SBT)系统中采用化学共沉SrTiO3时,Bi2O3·3TiO2的含量对介电性能和显微结构的影响。发现当其摩尔分数x小于10%时,结构为单相固溶体,εr随x的增加而增加;当x大于10%时,为复相结构,εr开始下降。这个结果与采用SrCO3和TiO2固相合成的SrTiO3烧块时的结果相近,变化趋势一致。但化学共沉SrTiO3之晶粒细小,杂质少,故使所制介质具有非常优异的介电性能。 相似文献
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籽晶法制备低压ZnO压敏电阻器 总被引:4,自引:0,他引:4
研究了ZnO籽晶粒度、掺入量及其制备方法对压敏电压的影响。实验结果表明:掺入适量粒度合适的籽晶,勿需在高温下长时间烧结,也可制成压敏电压较低,漏电流较小的ZnO压敏电阻器。 相似文献
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本文研究了BaO-TiO2-Nd2O3(BTN)系陶瓷的结构和介电性质。在该系统中加入适量的玻璃和添加剂,获得了一系列中温热补偿独石电容器(MLC)陶瓷,实验结果证实:当Ti/Ba=1.003时,BTN系陶瓷的居里温度(Tc)随Nd2O3含量的增大而产生逐步漂移。用XRD确定了陶瓷的主晶相,SEM照片显示出晶粒尺寸对Nd^3+含量的依赖关系,分析了Ti/Ba比对陶瓷介电系数温度系数(ae)的影响。 相似文献
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添加尖晶石对氧化锌压敏电阻性能的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
通过添加尖晶石(Zn7Sb2O(12))改性研制出电位梯度为100V/mm左右,压敏电压在82~150V,通流容量可达1600A/cm2,漏电流<2μA系列压敏电阻器,从而满足了国内电话交换机行业对82V、100V、120V、150V压敏电阻器的电性能要求。从工艺的角度解释了尖晶石对氧化锌瓷晶粒的作用原理,并分析了尖晶石的微观结构及粒度对瓷片电性能的影响。 相似文献