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用于氮化铝陶瓷基片的电子浆料 总被引:2,自引:0,他引:2
研制了用于AlN陶瓷基片的导体银浆和电阻浆料。采用低PbO含量晶化玻璃料配制银导体浆料,玻璃软化点430~450℃。电阻浆料采用PbO(质量分数小于6%)的晶化玻璃料B、C、D三种,软化点分别为520℃、690℃、610℃。改变RuO2与玻璃相的质量比,能控制电阻浆料的方阻值。质量比在50比50至15比85之间。加入添加剂MnO2可改善电阻浆料的TCR,阻值在20Ω/□~1MΩ/□范围内,TCR绝对值小于200×10-6/℃。 相似文献
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RuO_2厚膜电阻体的阻值与TCR的关系 总被引:3,自引:0,他引:3
RuO_2厚膜电阻体方阻R_s、基片的热膨胀系数a_(sub)与RuO_2厚膜电阻体的电阻温度系数TCR间有一定的关系,讨论了从电阻体的R_s计算其TCR之方法。 相似文献
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ZnO导电陶瓷的制备及其性能表征 总被引:7,自引:0,他引:7
本文利用化学共沉淀法分别制得Zn5(CO3)2(OH)6掺杂Al(OH)3、Mg(OH)2以及Zn5(CO3)2(OH)6掺杂Sb(OH)3、Bi(OH)3、Sn(OH)4、Co(OH)3、MnO(OH)2两种复合粉体,利用高频等离子体焙解新工艺,制得了纳米ZnO及相应的添加剂陶瓷复合粉体.TEM分析结果表明:两种陶瓷复合粉体的粒径均小于100nm.利用前者,通过添加适当的Al2O3和MgO,制备出了电阻率约10~2000Ω·cm,V-I特性较好的ZnO线性陶瓷电阻.利用后者,通过适当的杂质配比,在100 相似文献
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研究了导电相和玻璃相对低温共烧陶瓷表面电阻的阻值、温度系数和稳定性的影响,分析LTCC基板与电阻层之间的相互作用而导致电阻阻值变化的机理。结果表明,选择RuO2为导电相,含适量PbO和SiO2的铅硅硼系玻璃为玻璃相,能制得性能较好的适用于LTCC表面的电阻浆料。浆料中加入MnO2添加剂能调整电阻的温度系数。 相似文献
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运用回归数学分析并结合SEM观测结果,对影响ZnO-Al2O3系陶瓷电阻及阻-温特性的线性化机制进行了探讨。研究表明,Al2O3、MgO的掺杂及烧成工艺均对材料的电阻率和电阻温度系数有较为明显的影响,镁掺杂对材料的电子激活能有较大的影响,当材料的电子激活能值较低时,通过回归处理发现其阻-温特性具有较好的线性,符合麦克劳林公式。 相似文献
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低电阻率介质层制备低压驱动薄膜电致发光器件的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
采用Ta2O5/SiO2,5a2O5/Al2O3复合介质制备出2低压驱动ZnS:Mn薄膜电致发光器件,它的阈值电压在40V以下。当驱动电压国60频率为50Hz时,发光亮度在300cd/m^2以上,发光层中平均电场强度为10^5V/cm数量级。这种器件具有其独特的亮主压特性、频率特性和电荷存储量-电压特性。 相似文献
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我们开发了一种新的工艺技术,实现了在CMOS VLSI制造中嵌入E^2PROM的制造技术。在此新工艺中,制造的是单层多晶硅的E^2PROM。与传统的双层多晶硅E^2PROM的工艺相比,减少了25%的工序。通过采用三种不同厚度的栅氧化层,可以缩小在CMOSVLSI中嵌入的E^2PROM的器件尺寸。器件工作电压范围宽为1.5-6V,静态电流低于100nA。 相似文献
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采用金属有机物热分解(MOD)法制备了SnO_2酒敏元件,XRD和AES谱表明热处理后己酸亚锡已转化为SnO_2。此外还证实SnO_2元件的内电势是加热丝偏位引起的热电势。元件的主要技术指标为:灵敏度>8,选择性>6,响应时间<5s,恢复时间<30s。 相似文献
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文章介绍了以Fe2O3和Cu2O为主成分的陶瓷材料的负阻特性,分析论述了Co2O3、Bi2O3以及MnO2掺杂对Fe-Cu系陶瓷材料负阻性能的影响,实验制得负阻系数n>10,电压Vp>200的负阻性能良好的陶瓷材料。 相似文献
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在表层硅厚度为180um的SIMOX材料上,用局部增强氧化隔离等工艺研制了沟道长度为2.5μm的全耗尽CMOS/SIMOX器件。该工艺对边缘漏电的抑制及全耗尽结构对背沟漏电的抑制降低了器件的整体漏电水平,使PMCOS和NMOS的漏电分别达到3.O×10-11A/μm和2.2×10-10A/μm。5V时,例相器的平均延迟时间达6ns。 相似文献
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适量掺入MgF_2·SrF_2有效地降低了0.85PZN(Pb(Zn_(1/3)Nb_(2/3))O_3)-0.15BT(BaTiO_3)材料的烧结温度并得到了介电常数-温度特性接近于X7R特性标准的瓷料。在很宽的温度范围内出现了双介电常数峰。这种现象可从材料的纳米结构出发,用超顺电态的概念来描述。 相似文献