一种高性能YAM机特点及发展前景

本文介绍了一种ＹＡＭ机的性能特点以及把它进一步发展成为全自动设备所涉及的有关技术，对充磁系统、ＤＹ驱动系统、摆频系统、着屏及会聚检测，最佳聚焦测试等原理做了介绍。并详细给出和分析了有关的电路。     

ITC调整原理

本文详细论述了 ITC 原理,分析了电子束着屏误差。说明安装适当 DY 实现自会聚的原理,对各种自会聚 DY 进行了比较。指出 ITC 调整的目的是在于保证电子束在整个屏面上的正确着屏,综述了 CPT 各项参数的具体调整方法。     

会聚误差对分辨率的影响

普遍认为会聚误差对彩管颜色图象的影响是在亮度传输时出现对彩色边缘的干扰。荷兰菲利浦斯显示系统开发实验室的PeterG.J.Baren详细论述了这些误差的另一种影响,即通常忽略了的使分辨率降低的影响。要全面计算彩色CRT及投影系统的分辨率,必须把会聚误差引起的分辨率损失加到由于其它一些原因,如光点尺寸和荫罩结构等引起的损失上。但是到目前为止,还没有定量     

用CCD测量彩色显像屏特性的光学成像系统设计

本文讨论了彩色显像管色纯漂移，电子束着屏误差，失会聚量测试用的光学成像系统的光路特点、设计原则、放大倍率的选定及光路选型及像差校正方法。     

自会聚彩色显像管故障的检修方法与实例

<正> 自会聚彩色显像管是70年代出现的,因其性能优良,70年代以后逐渐取代了原来的三枪三束荫罩式彩管和单枪三束槽孔式彩管。80年代出现的直角平面彩管及90年代出现的大屏幕彩管在结构上基本与自会聚管相同,只是更多地采用了一些新技术,图像质量更好而已。 本文介绍彩管常见故障的检修方法与实例。     

彩管会聚漂移的原因分析及对策

彩管在出厂之前 ,都要经过ＩＴＣ调整工序 ,即 :将偏转线圈装在彩管的管颈上 ,通过调节偏转线圈的前后位置、摆头 ,结合调整磁组件的张角 ,把彩管的画质参数 (色纯、会聚、白场、失真等 )调整到最佳状态。ＩＴＣ调整完成后的彩管就可直接供电视机厂家使用。由于ＩＴＣ调整是一项技术性很强的工作 ,一般都在彩管厂进行。但在实际工作中 ,经彩管厂家ＩＴＣ调整会聚良好的彩管 ,在彩电厂使用时也经常发生会聚不好的现象 ,此种现象在彩管行业中称为“会聚漂移” ,它会对彩电厂的生产造成很大的影响。造成会聚漂移的原因很多 ,例如 :在出厂前 ,Ｉ…     

着屏仪使用中易产生的误差解析

在彩色显示管（以下简称彩管）制造和应用行业中，几乎天天需要测量RGB电子束的着屏，目前，普遍使用的电子束着屏测量仪，如LND－072等。在白场状态下测量RGB三束着屏，数据存在着较大的误差。因此有必要对着屏仪的测量原理进行剖析，找出产生误差的原因和正确的测量方法，减少测量误差，正确指导工作。     

偏转线圈中H_0(Z)和H_2(Z)之间的关系及其对会聚误差的影响

引言和背景由于对高清晰度电视和显示管的迫切需要以及为了改善普通电视的会聚质量的需要,促使人们对由偏转引起的会聚误差产生了兴趣。会聚品质因素是屏轴和屏对角线误差的总和称为三引理(trilemma(图1)。这些误差与偏转线圈导线的角分布的变化没有多大关系(特别是当偏转角较小时)。一旦     

彩色显象管磁偏转象差的理论分析与计算(常枕一桶形场部分)

本文就H_0、H_2、V_0、V_2均为常数的有界枕形场、桶形场及其混合场进行了计算和分析,发现H_2、V_2与各种会聚误差具有良好的线性关系,因而只要很少几次计算,就能对这种理想场分布的会聚误差有一个全面的了解,并可以方便地求出消除某种误差所应选取的H_2、V_2值以及使各种会聚误差趋于最小的最优化值。由于采用龙盖、库塔法从轨迹方程直接求解,故适用于大偏转角情况。所设计的电子计算机程序能给出空间电子轨迹、平面屏、柱面屏、球面屏上的落点坐标及会聚误差的大小,并用宽行表格打印出来。     

预着屏透镜技术的研究

采用AK材荫罩的彩色显像管(缩写CPT),在大电流工作状态下,荫罩会产生较大的热拱形变,从而导致电子束发生较大的漂移,极易造成着屏不良,严重地影响着彩管的亮度均匀性,这是困扰彩管制造厂家的一大难题。本文以21＂东芝型CPT为例,着重讨论在强弱电流下彩管的色纯漂移(缩写PD)特性和预着屏透镜的设计。     

单枪三束彩色显像管

日本索尼(Sony)研制成功的单枪三束彩色显像管,动摇了三枪三束彩管的技术基础。它是由一个电子枪同时发射三条电子束,所以叫单枪三束彩管(Trinitron)。光学系统是由三束公用的大口径的主透镜和一对会聚板组成。会聚板的功能是使两条边束实现会聚,因而图象清晰度高。分色板是条孔结构,电子透过率比三枪三束圆孔荫罩高得多,所以图象亮度也高。     

预着屏透镜技术的研究

采用ＡＫ材荫罩的彩色显像管（缩写ＣＰＴ）,在大电流工作状态下,荫罩会产生较大的热拱形变,从而导致电子束发生较大的漂移、极易造成着屏不良,严重地影响着彩管的亮度和均匀性,是困扰彩管制造厂家的一大难题。本篇论文以５４ｃｍ（２１”）东芝型ＣＰＴ为例,着重讨论在强弱电流下彩管的色纯漂移（缩写ＰＤ）特性和预着屏透镜的设计。     

彩色显示会聚误差的测量（I）

本文详尽、全面而系统的阐述了彩色荧光三基色显示像素会聚原理,失会聚原因及会聚误差的确认等。文章针对各种电子束荧光彩色显示,像素失会聚误差值的几种测量、读取及计算方法等,进行了具体详细的讨论。最后,就失会聚测量技术的发展动向作了展望。本刊将分四次连载全文。     

彩电消磁电路的设计

１消磁原理由于地磁场等外界杂散磁场对运动电子束的影响，导致电子着屏误差，使色纯度和会聚变差，为此，CRT中往往采取磁屏蔽措施（彩电基本采用内磁屏蔽方法加以解决），但是CRT的荫罩、荫罩框架和防爆带均为易导磁的金属材料，在周围的地磁场及杂散磁场作用下，极易磁化，其磁化后的剩磁也会影响电子束的扫描轨迹，从而增大着屏误差，这种磁化影响是内磁屏蔽所无法解决的，而需要依靠外界来消磁。彩电在移动或搬运时，其所处磁场随时都在改变，从而使荫罩、框架、防爆带等金属材料受磁化，产生剩磁，导致色纯和会聚不良，为解决这个…     

彩色显像管色纯性能分析与控制

介绍了影响色纯的常见因素,其中包括与设计、工艺过程和显像管使用有关的因素,以及一些常见因素引起的电子束着屏变化的规律。介绍了通过对全屏面99点着屏误差数据的数学分析,得出各种相关因素/分量对着屏误差的贡献量从而进行着屏误差的改进,同时给出了对着屏误差进行控制的一些方法。     

会聚偏振光干涉法测量波片相位延迟量

提出了会聚偏振光干涉法测量波片相位延迟量的新方法.会聚线偏振光透过待测波片时,不同的入射角对应着不同的相位延迟量,在接收屏上将形成强弱分布的干涉条纹.理论推导了偏振光干涉形成的干涉条纹到条纹中心的距离,与待测波片相位延迟量之间的关系式;利用MATLAB编程进行仿真计算,证实了会聚偏振光干涉法测量波片相位延迟量的理论计算是正确的,若干涉条纹到条纹中心的距离测量误差为0.01mm,则仿真计算的相位延迟量误差小于0.2920°;实验验证了该测量方法是可行的.     

彩管玻壳再生回收中的炸裂分析及对策

彩管玻壳再生回收过程中,因屏、锥、低玻粉三者热膨胀系数的差异产生应力不匹配,当经过玻壳再生加工热冲击分离工序时,在封接面部发生炸裂,直接导致屏、锥和荫罩组件报废。本文将对此进行分析,并提出解决措施,提高彩管再生回收利用率。     

彩色显像管问题二三议

１色纯黑白电视向彩色电视过渡的关键是分色,即图像信息要分色（分为三基色或其等价替代物）,显示屏也要分色。目前广泛使用的自会聚彩管以槽孔形球面荫罩为常见结构,荫罩起选色作用,使三基色电子束各自打在相应荧光粉上,这实际上正是“色纯”的要求。荫罩孔空间位置的正确性（指孔与屏面荧光粉的空间距离）是保证色纯良好的重要因素。彩电工作时,彩管内部电子束穿过荫罩孔使荧光粉发光,但实际上大部分电子打击在荫罩板上（约占８０～８５％）使荫罩发热,于是荫罩板产生热变形（荫罩热拱、隆起）,固定荫罩的支架也发生热变形,两者…     

测试与测量

平板式显示屏检测系统National Instruments(简称NI)宣布了显示屏测试系统，用于可靠的平板式显示屏检测。NI显屏测试系统为生产线上及实验室里的工程师提供了一套高性能测试方案，可胜任各种测试、测量领域的任务需求。NI显示屏测试系统提供一整套显示屏组装前的测试方案。例如次序排列、象素瑕疵、颜色以及对比度。用于测试手机、掌上电脑、汽车上的显示屏以及其他可移动终端设备。工程师们用打包在NI显屏测试系统中的NITestStand—现成即用的测试执行管理环境，即可轻易配置这些测试工作以达到各种要求。NI显屏测试系统中的NI La…     

低熔玻璃及其在彩色管制造工艺中的应用

本文重点介绍了结晶型低熔焊料玻璃的特性及其在彩管屏锥封接中的应用。最后叙述了低熔焊料玻璃的制造工艺及其质量控制和测试方法与屏锥低熔玻璃的封接工艺。