电子元器件加速寿命试验的挑战与对策

加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法.详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题;通过一个实例,说明了不充分的加速寿命试验最终可能在现场应用中引起严重的事故;探讨了如何基于上述挑战,改进加速寿命试验设计的措施,以期促进我国电子元器件加速寿命试验技术的发展.     

失效机理鉴别在加速试验中的作用

就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论，加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法，然而，加速试验经常是在不知道失效机理，以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下，本文总结了电子元器件和封壳的普通失效机理，并研究了在加速试验过程中可能出现的失效机理转变。     

电子元器件使用过程中的可靠性试验

本文介绍了影响电子元器件可靠性的因素和可靠性试验的原理,主要阐述在电子产品生产过程中,为确保产品的可靠性,如何对电子元器件进行可靠性试验.     

国家某重点工程使用的电子元器件可靠性分析

1 引言有关部门曾先后组织对国家某重点工程使用的仿制电子元器件的可靠性进行了摸底试验.初步摸清了这些要求具有高可靠性的试制品的可靠性水平,并分析了失效原因,有针对性地提出了改进措施。电子元器件可靠性摸底试验由质量考核和失效考核组成.其中质量考核是依据本工程有关技术条件要求进行交收、例行试验和寿命试验的;失效率水平考核是按GB1772—79作五级(部分六级)额定条件进行寿命试验的.考虑该系统有长期贮存的特点,故增加了一项高温贮存试验.     

电子元器件综合优选信息系统

电子元器件是电子装备的基础,是保证装备高可靠性的基本单元.严格控制选用元器件的质量,保证和促进高质量元器件的应用是提高装备质量与可靠性水平的关键.综合优选信息系统为电子元器件的选用和管理提供全面、准确和动态的信息,是设计师、采购人员、维修和管理人员所需的软件工具.     

国外电子元器件可靠性试验情报跟踪

跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等.     

航天产品电子元器件的可靠性控制

主要阐述了航天产品元器件可靠性控制的目的和重要意义;归纳和总结了航天产品研制过程中发现的主要问题;根据电子元器件的质量保证流程,从元器件保证大纲、元器件的合理选用、元器件采购与库存管理、元器件的监制、试验和验收、补充筛选、DPA(破坏性物理分析)、元器件的装机控制、元器件的失效分析方法、元器件质量信息的管理等方面对航天产品电子元器件的可靠性控制提出了明确的质量保证要求。     

国外军用电子元器件可靠性技术研究进展

为了学习、吸收和借鉴国外的先进技术和经验,对国外军用电子元器件可靠性技术进行了跟踪研究,介绍了塑封微电路(PEM)、光电子等新的元器件的可靠性试验与评价技术、新的失效分析技术以及MCM、KGD、MEMS等新技术的可靠性研究现状,探讨了国外军用电子元器件可靠性技术的研究方向和发展趋势.     

库存元器件的分析与筛选

可靠性是电子元器件的重要质量特征之一。本文介绍了长期库存后电子元器件的可靠性试验方法和主要过程。有效的环境应力筛选是保证其寿命和质量的重要方式之一。     

弹药类产品中电子元器件的失效分析

为了提高战斗性能，弹药中采用越来越多的电子元器件。由于弹药储运管理环境的特殊性，其中电子元器件的失效模式也与一般装备(设备)有很大不同。首先分析了弹药中电子元器件的种类、全寿命过程中的主要应力及影响，然后结合实际试验，分析其失效模式及对全弹性能的影响。