微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响

利用电磁场和误差分析理论,在阐述天线远场测量条件的基础上,分析了微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响,建立了误差模型,并结合实例说明了微波暗室有限测试距离对天线场强测量、增益测量的影响.分析结论可为实践中快速准确地确定适合在微波暗室内进行测量的天线尺寸和频率范围提供具体的技术指导.     

微波暗室静区性能的测量方法

本文给出了使用自由空间驻波法进行微波暗室静区性能测量的基本原理,并以实际测量为例,给出了使用对数周期天线、矢量网络分析仪对一矩形微波暗室静区性能进行测量的详细步骤及检验方法.本文对微波暗室的建设、使用和维护具有一定的指导意义,对使用微波暗室进行天线和微波后向散射测量也有一定的参考意义.     

一种新型天线测试设备的设计

介绍了一种新型天线测试设备－－天线极化转台及升降的设备的设计方法，讨论了关键技术和所采取的技术措施，并给出了它的主要技术指标。该设备的完全满足微波暗室天线测量技术的要求。     

一种高性能单反射面柱形紧缩场微波暗室

介绍了一个单反射面柱形紧缩场暗室,分析了柱面紧缩场的工作原理,其原理是采用一维算法将柱面波转换为平面波.整体暗室以紧缩场为基础,通过综合和优化选型,从暗室、吸波材料、紧缩场设备等多个方面配合设计,达到了较好的综合效果,具有很高的测试性能,可用于高精度的天线测量和雷达散射截面测量.     

箔条雷达截面积全自动测量技术研究

本文介绍了一种在微波暗室内对无源干扰材料箔条的全自动测量技术，介绍了一套以ＨＰ８５３０１Ｂ矢量网络分析仪为核心配置的测试系统的组成，测量原理、测量方法、软件结构和系统控制流程图，给出了一些测量实例，并对测量结果进行了分析。     

微波暗室反射电平的测量技术

本文简述了微波暗室静区与反射电平的基本概念,论述了空间驻波法测量暗室反射电平的基本原理和方法,重点讨论了自由空间电压驻波比法测量反射电平的数据简化处理新方法。结合我所微波暗室的测试经验,指出了微波暗室测试中应注意的问题,最后给出了我所微波暗室反射电平的实测结果。     

近场测量场地及应用

首先介绍了近场测量场地的发展历程,分析了移动通信天线未来的发展趋势及其对测量场地的要求,从测试功能、测试精度与测试效率三个维度讨论了近场测量场地在移动通信领域的应用,最后对近场测量场地暗室性能及探头性能检测方法作了简要介绍.     

两种远场测试场天线方向图测试分析

根据天线远场测试理论,结合应用实例,分析了微波暗室和斜天线测试场作为天线远场测试场的适应性。对从 微波暗室和斜天线测试场得到的双脊喇叭天线远场方向图及相关数据进行了分析,总结出两种天线测试场对天线远场测 试影响的特点和规律,并对实际应用提出了指导性建议。     

《SELENIA天线测试场》选择及联想

本文是对“Ｓｅｌｅｎｉａ天线测试场”一文进行的选择，并根据国内外天线测试场的近期发展浅谈了一些体会和感想，原文以雷达，导弹，卫星，航空电子和通信天线的发展需要同步发民菜多用途天线测试场及专用测试系统，设备为背景，简单陈述了该公司的各种传统天线测试场，介绍了新建的配备自动化测试设备的微波暗室，描述了一些非常成功的特殊测试装置，如测试天线在各种温度下辐射特性的热试验室，通过一个实验验证了计算机控制自动     

电磁兼容测试用暗室的性能设计

作为电磁兼容测试场地,半电波暗室越来越显示出其重要性.介绍了半电波暗室的基本设计方法,并举例介绍了射线法技术,给出了10m法半电波暗室的设计结果.     

内场RCS测试环境中误差的消减方法研究

目标散射截面的测量对雷达目标识剐、微波成像等研究领域至关重要;在简述目标RCS测量原理的基础上,对内场RCS测试中的环境误差来源进行了分析,重点研究了地面回波、收发天线之间耦合及暗室侧壁和后墙反射三种误差源的产生机理,并提出了合理的解决方法,即在测试端和转台之间放置隔离吸收屏来减小地面的杂波,在收发天线之间添加吸波材料及时域对消来减小天线间的耦合,以及采用时域门的方法去除侧壁及后墙的反射。对提出的方法在微波暗室内进行了实验验证,通过测量标准金属球的RCS,说明了经过环境误差的消减,测试精度提高1．5dB。     

《SELENIA天线测试场》选译及联想

本文是对“Selenia天线测试场”一文进行的选译,并根据国内外天线测试场的近期发展浅谈了一些体会和感想。原文以雷达、导弹、卫星、航空电子和通信天线的发展需要同步发展多用途天线测试场及专用测试系统、设备为背景,简单陈述了该公司的各种传统天线测试场,介绍了新建的配备自动化测试设备的微波暗室,描述了一些非常成功的特殊测试装置,如测试天线在各种温度下辐射特性的热试验室,遗过一个实例验证了计算机控制自动天线测试技术和测量数据处理技术的优点,最后指出了天线测试场的进一步发展趋势。     

微波功率的测量及功率计校准

微波功率是表片微波信号特性的重要参数之一，如标定微波发射机的输出功率、测量微波接收机的灵敏度以及确定放大器的增益等参数，都离不开微波功率的测量。本文从实际工作出发结合我所工程测试实例，简要介绍微波功率测量中常用的两种测量方法及其在工程测试中的应用；重点探讨微波功率计的校准方法，并介绍了一种快速，简捷，实用的功率校准装置。     

微波暗室装贴吸波材料的反射损耗测试研究

介绍了吸波材料反射损耗测试常用的时域法和弓形法,研究了已经装贴到暗室侧壁的吸波材料的测试方法,并进行了实际测试验证。结果表明,时域法测试忽略了收发天线间的耦合对测试结果的影响。对时域测试法提出了两点改进措施,获得了一种比较可靠实用的微波暗室现场测试吸波材料性能的方法。     

暗室用吸波材料大入射角吸波特性测试方法研究

本文介绍了根据对比原理测试吸波材料性能的一种方法,把通常采用的弓形法和RCS法进行了对比,指出弓形法在大入射角度情况下测试存在的困难,而在大的微波暗室内可以较好地解决大入射角测试的问题,最后给出了一组在RCS暗室内进行材料测试的结果,并对测试结果进行了分析。     

微波暗室的剩余互调测量初探

0引言:为什么要测量微波暗室的剩余互调微波暗室分为全电波暗室和半电波暗室。全电波暗室定义为六面装有吸波材料的屏蔽室,用于模拟自由空间;半电波暗室则是五面装有吸波材料,地面为反射面,用于模拟开阔场。常见的微波暗室的墙体由铁氧体材料加微波吸波材料组成。和其他无源器件一样,微波暗室也遵循互调产生的机理。在大功率多载频的作用下,微波暗室的墙体(铁氧体和吸波材料)会产生互调。在天线的无源互调测试中,如果微波暗室自身的互调大于被测天线的互调或能与之相比拟,则会影响天线互调的测试精度。因此,我们将微波暗室(为天线互调测量提供环境)自身的无源互调产物称为剩余互调。     

微波暗室中幅度与相位一致性测试研究

论述了用于对微波暗室中建立的模拟授时系统的幅度与相位一致性的测试系统,文中对测试系统的组成及测试 方法进行了阐述,并列举了该测试系统的实际测试应用。     

远场RCS的精确测试方法研究

传统的微波暗室远场雷达散射截面积(RCS)测量方法是采用点频测试,对低RCS目标,测试系统中需添置对消系统,使暗室背景再下降20 dB以上,才能更准确地检测目标。该方案的缺陷是被测件正后方的暗室后墙反射产生阴影,无法进行对消,而且往往对消系统稳定性较差。文中提出的另一种方法,即RCS的扫频测试方法,通过适当的设置,可得到非常高的精度,而且测试系统简单,省去了复杂的手工暗室对消系统,信息量大。     

AXB型吸波材料及微波暗室

介绍AXB型吸波材料的性能.用AXB型吸波材料建造的天线近、远场测量微波暗室,10m半电波暗室和RCS测量微波暗室的技术指标都符合相关标准的要求.     

微波暗室设计研究

随着通信技术、仿真试验技术、隐身技术以及各种电子战武器装备的发展,微波暗室受到普遍关注与重视,并取得了广泛的应用。文章在介绍国内外微波暗室设计技术发展现状的基础上,从微波暗室几何大小的选择、屏蔽层的设计、吸波材料的选用、静区的设计等方面,对微波暗室的整体设计进行了研究。