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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
本文描述的自动测试系统基于NI公司的LabVIEW软件平台,使用计算机通过GPIB口,控制安捷伦射频网络分析仪测试射频放大器并获取测试数据。该自动测试系统省却了手动设置网络分析仪的繁琐复杂的操作,简化了测试操作流程,提高了测试速度,降低了测试难度。  相似文献   

2.
本文介绍了一种基站射频自动测试系统的解决方案,并对其组成、工作原理以及该方案的优点进行了详细阐述。该基站射频自动测试系统由频谱分析仪、网络分析仪、信号源、功率计、装有自动测试软件的服务器、射频开关、不同规格的滤波器和衰减器组成。它能够根据我国目前基站/直放站射频行业检测标准、国际标准和国家无线电委员会的相关规定完成对CDMA2000基站、GSM直放站和PHS基站等常见类型基站和直放站的自动测试,同时具有手动测试的功能。自动测试系统通过GPIB总线与测试仪表进行通信,当被测设备连接到测试系统后,系统会根据被测设备…  相似文献   

3.
《无线电工程》2018,(5):406-410
随着在轨北斗卫星数量的增多,北斗射频模块产品应用的日益扩大,北斗射频模块的测试问题变得日益突出。针对目前我国北斗模块的人工手动测试问题,提出了北斗射频模块自动测试系统的设计。北斗射频模块的自动测试系统是基于LabVIEW和Android平台设计开发的PC端和Android终端均可使用的自动测试系统。通过对设计需求的分析,给出了总体软、硬件设计和测试系统设计与实现的方案,实现了北斗自动测试系统平台的搭建。经实际工程验证,该方案能够节省任务中测试的时间,提高自动运行的效率。  相似文献   

4.
随着无线通信市场的快速增长,大多数射频器件制造厂家正在经受着这一领域新出现的众多公司所带来的成本压力。为了寻找解决这一问题的方法,焦点便集中在减少总的加工成本,例如封装、组装以及最终的电气测试等方面。特别是功能测试便成为昂贵的自动测试系统(ATE)满足众多用户对器件质量和生产率要求所不可避免的需求。在这一方面,测试成本的减少便作为一个最大的难题来考虑。介绍了低成本高速射频器件自动测试系统的实现过程,它是一种比较好的减少测试成本的方法。在射频器件的测试中,实现高速、精确测量十分重要但又较困难。为解决上述这些问题,提出了高速和精密测量能力,它是通过16独立的射频部件以高速开关时间和高精度模数转换器采用产业标准与仪器模数扩展(VXI)和GPIB接口而实现的。此外,此系统具有四区测试能力,它能显著地提高器件的生产效率。  相似文献   

5.
沈云 《山东电子》2014,(4):149-150
针对复杂的射频自动化测试系统的测试与维护要求,应用第二代台式仪器——积木型自动测试系统,并结合先进的第三代模块化仪器——PXI总线技术,实现可适用于多被测对象的射频自动化测试系统。本文主要阐述了系统平台的硬件设计、通用测试接口、软件设计。  相似文献   

6.
电子信息技术快速发展,射频、微波设备的应用日渐广泛,在航空航天、消费电子等领域中得到了很好的应用。随之而来的,测试系统中的应用射频和微波特性测试的仪器也实现了良好的发展和进步。新型的自动测试系统中,射频和微波开关产品是极具特点的,其结构、功能以及器件原理都有自身的特点。本文就自动测试系统中的射频与微波开关进行简要的阐述与分析。  相似文献   

7.
卫星导航射频芯片是导航系统中的关键部分,其指标的优劣决定着导航系统的导航精度。通过分析卫星导航射频芯片的结构特点,针对主要参数进行了测试分析。在基于集成电路自动测试系统(ATE)的基础上,结合射频测试设备实现卫星导航射频芯片的性能测试。该技术对基于ATE的射频芯片测试均具有借鉴意义。  相似文献   

8.
介绍了自动测试系统与TD-LTE的发展现状,针对当前TD-LTE终端测试自动化的需求,对射频一致性自动测试进行了分析,阐述了自动测试系统的框架结构与基本功能,介绍了系统的基本工作流程与各功能模块,采用面向对象的思想设计了自动测试管理系统,利用Python完成综测仪相关控制的功能实现。对数据卡型终端进行了实际测试,系统在实际使用中可以较好地完成测试工作。  相似文献   

9.
李明 《现代雷达》2012,34(9):8-15
文中主要探讨雷达射频/微波集成电路的发展及其应用.介绍了现代雷达的发展趋势、雷达射频系统的演变历程以及目前国内外相关的射频集成电路的最新成果,讨论了射频片上系统(SoC)的未来趋势.针对现代主流的有源相控阵雷达,介绍了几种可行的系统级射频芯片的集成方向,最后强调了系统级射频集成电路测试在设计中的重要性,并给出一种基于模块化结构的自动测试设备(ATE)测试平台方案.  相似文献   

10.
介绍了自动测试系统与TD-LTE的发展现状,针对当前TD-LTE终端测试自动化的需求,对射频一致性自动测试进行了分析,阐述了自动测试系统的框架结构与基本功能,介绍了系统的基本工作流程与各功能模块,采用面向对象的思想设计了自动测试管理系统,利用Python完成综测仪相关控制的功能实现。对数据卡型终端进行了实际测试,系统在实际使用中可以较好的完成测试工作。  相似文献   

11.
本文介绍了应用于通信设备射频指标自动化测试的系统,并从其产生背景、系统设计方案、实现过程等方面给出了详细说明。自动化测试系统利用测试仪表搭建物理测试平台,使用NI-VISA驱动函数及SCPI仪表控制指令实现仪表通信,完成了仪器控制、设备射频指标自动测试、测试结果返回分析、指标参数校正及测试结果保存及导出等功能,提高了通信产品自动化测试程度、测试效率及测试结果准确性,缓解了仪表占用率,提高了产品的可靠性。  相似文献   

12.
本文讨论射频和微波测试中如何提高测试吞吐量,并降低测试成本的方法及其测试系统基础.  相似文献   

13.
随着无线通讯产业推动芯片集成度的不断提高,系统级封装(SIP)和多芯片组件(MCM)被更多采用,射频系统级芯片(RF-SOC)器件的良品测试已成为一大挑战。这些器件与传统的单晶片集成电路相比,具有更高的封装成本,并且由于采用多个晶片,成品率较低。其结果是进行晶圆上综合测试的成本远超过最终封装后测试器件的成本。此外,一些IC制造商销售裸晶片以用于另一些制造商的SIP和MCM中,这就要求发货的产品必须是良品。以蓝牙射频调制解调芯片为例,讨论了RF-SOC器件良品晶片(KGD)的测试难点和注意事项。对此样品,除了在晶圆上进行射频功能测试的难点,还有同时发射和测量数字、射频信号的综合问题。此外对被测器件(DUT)用印制线路板布线的难点,包括晶圆探针卡的设置及装配进行探讨。还介绍了选择探针测试台、射频晶圆探针卡和自动测试设备(ATE)时需考虑的因素。并以晶圆上测试的系统校正,包括难点和测试方法,作为结尾。这颗蓝牙射频调制解调芯片的实际测试数据也会被引用,以佐证和加深文章中的讨论。  相似文献   

14.
通用的射频电磁场辐射抗扰度自动测试软件   总被引:2,自引:1,他引:2  
本文介绍了作者开发的通用射频电磁场辐射抗扰度自动测试软件的设计思路、实现方法及其主要功能特点.开发该软件的出发点在于通用性,即实现对用于射频电磁场辐射抗扰度测试的不同品牌、多种类型的测量仪器的控制,并协调完成射频电磁场辐射抗扰度的自动测试.  相似文献   

15.
近年来国内无线通讯市场发展迅猛,射频芯片的出货量也快速增长,射频芯片不同于其他SoC芯片,往往是市场周期短,更新速度快,这给芯片的量产测试带来挑战,ATE射频测试板作为测试的重要组件,成为制约测试开发和成本的最关键因素,ADVANTEST推出的低成本射频测试板兼顾了开发效率和测试成本的平衡性,给射频芯片的量产测试带来了...  相似文献   

16.
声表面波射频识别读卡器射频模块是读卡器硬件的关键部分,如何按照一定的要求选择合适的元器件合理地设计出满足系统性能的射频模块电路是非常重要的。利用ADS2006软件对选定方案的射频模块电路进行系统级的射频预算分析,可以分配各个环节的性能参数,缩短了开发周期、节约了成本,并为后续的行为级仿真及模块电路调试测试提供了指导。  相似文献   

17.
射频测试中的不确定度分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
在无线电射频测试中.自动测试系统的应用使检测工作效率大大提高.但同时给测试结果的不确定性带来不可忽略的影响。随着测量技术的不断发展.不确定度作为评估测量结果可靠性的手段越来越受到人们的重视。特别是第三代移动通信标准已经开始用测量不确定度代替传统的测量误差来反映测试指标的容限。  相似文献   

18.
陈斌 《电子测试》2016,(5):29-30
近年来,本人接触到了很多前沿的射频测量技术和器材,在多年维护发射机过程中接触和参与了大量射频测试和测量工作。在此基础上,本人对各类射频测试和测量器件以及测量系统和测量方法有了新的认识,并积累了一些经验和体会。  相似文献   

19.
本文针对射频信号手动测试的局限性,提出了一套基于Visual Basic语言的自动测试系统。该自动测试系统通过调用SCPI(可编程仪器标准命令集)对带有GPIB接口的无线通信综测仪及射频信号发生器进行程控,并根据测试流程自动完成相关测试项目。实际生产测试检验证明,较之传统的人工测试,可以大幅提高测试效率与精确度;此外,系统结构灵活,扩展性强,具有很好的市场应用前景。  相似文献   

20.
射频系统级封装是近年发展起来的实现射频电子系统的一种创新技术。对高速数据处理和高密度封装技术的特点及对射频系统封装的特殊要求进行论述.介绍了射频系统封装的基本技术和一种包含LAN、PPA、滤波器、天线开关等的射频系统级封装组件。论述了射频系统级封装的系统设计、仿真、测试的方法和步骤。  相似文献   

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