从元器件、材料入手实现低成本、高可靠性组装——记电子元器件及电子产品可靠性研讨会

进入到2011年以来,随着电子装备的不断更新换代,元器件的型号随设计不断更替：新工艺的电子元器件层出不穷;混杂的电子元器件供应市场现状导致的假冒翻新电子元器件泛滥,使得整机单位面临了元器件选型定型分析、新工艺器件可靠性风险评估、假冒伪劣元器件的防范等新的可靠性问题;与此同时,     

翻新伪造电子元器件的鉴别

翻新伪造产品是工程应用的重大隐患,文中主要针对翻新伪造器件的特点,从器件的外部形貌、表面标识、引脚固定、内部互联结构、芯片版图等方面阐述了翻新伪造电子器件的鉴别方法。其对于工程应用前的器件筛选试验具有一定的借鉴意义。     

声学扫描显微镜检查在塑封器件检测中的应用

随着塑封器件在武器系统中的使用越来越广泛,塑封器件在使用中也暴露出了一些问题,如塑封器件易打磨、翻新,内部易进入水汽产生爆米花效应或内部界面分层等。作者总结近几年塑封器件DPA试验中出现的各种失效,重点对塑封器件内部界面分层以及分层产生的原因、危害进行了论述。同时,论述了声学扫描显微镜检查对内部界面分层的辨别、原理及其相关试验标准等,提出了塑封器件在型号产品中的使用建议。     

基于光学干涉法的翻新电子元器件鉴别方法

翻新电子元器件存在重大质量隐患,对航天装备的质量和安全构成了严重威胁。为了确保装机电子元器件的质量和可靠性,结合翻新元器件的特点,提出了一种鉴别翻新元器件的无损检测方法。首先,阐述了翻新元器件的检测方法和原理,即通过光学干涉法定量测量器件上下表面的粗糙度,并根据二者之间的差异来判断器件表面是否经过翻新处理。然后,采用该方法对正常元器件和翻新元器件的表面粗糙度差异进行对比检测分析,并进行不确定度评定。结果表明,该方法可用于对翻新元器件进行高效准确鉴别。这为全面提升航天电子元器件的质量提供了新的检测手段。     

最高法官员就电信诈骗定罪量刑问题答问

一个手机短信可能骗走几十万元，一个假冒银行网站可能将储户的上百万元席卷而空。近年来，全国电信诈骗案件频繁发生，作案手法不断翻新，人民群众深恶痛绝。     

最高法官员就电信诈骗定罪量刑问题答问

一个手机短信可能骗走几十万元,一个假冒银行网站可能将储户的上百万元席卷而空。近年来,全国电信诈骗案件频繁发生,作案手法不断翻新,人民群众深恶痛绝。最高人民法院、最高人民检察院7日联合发布了《关于办理诈骗刑事案件具体应用法律若干问题的解释》,其中对电信诈骗的惩处专门进行了     

人脸识别中视频回放假冒攻击的实时检测方法

利用合法用户的脸部视频进行回放假冒攻击,是目前人脸认证系统的重要安全威胁。针对此问题,本文提出了一种仅用单个普通摄像头来抵抗人脸视频假冒攻击的方法。不同于以往从人脸区域中获取假冒线索进行活体检测的方法,本文通过人脸输入图像与场景参考图像之间的背景对比,从人脸周围背景区域中寻求视频假冒攻击线索。首先,本文在尺度空间里构建人脸周围区域图像的背景特征点集合;然后,利用背景特征点集合建立识别场地背景和人脸背景的Gabor背景描述子,并用融合相位补差的相似度来进行背景比对。实验表明该方法能有效地识别视频回放假冒攻击。     

假冒锂离子手机电池的识别

由于锂离子电池容量大，体积小，重量轻而深受人们的青睐。特别是在移动通信方面，其特点表现的尤为突出。所以其售价也比其他类别的电池高的多；由于有利可图，就难免有假冒的产品混入市场，牟取暴利，给使用者造成经济损失和工作上的不便。假冒产品虽然在某些特征上与真实产品有相似之处，但在实质上还是有本质区别的，只要细心观察和检查，就不难识别假冒的锂离子手机电池。主要可从以下几个方面加以区分： １．外部标志 锂离子手机电池外部一般标有英文７．２Ｖ ｌｉｔｈｉｕｍｉｏｎ ｂａｔｔｅｒｙ（锂离子电池）或７．ＺＶ ｌｉｔｈ…     

基于封装工艺识别翻新塑封集成电路

塑封集成电路在高可靠性领域应用越来越广泛,国内已有相当数量的塑封集成电路应用于国防领域。但是,目前大部分关键塑封集成电路依赖进口,采购渠道不是很通畅,市场中存在大量的翻新件。文章基于塑封集成电路封装工艺,简要介绍如何识别翻新塑封集成电路。     

基于二维图形学的MEMS节点单元识别算法研究

设计了一种MEMS(Microelectronic mechanical system)器件节点单元自动识别的方法,介绍了如何根据工艺和版图信息实现识别的过程,对图形学相关算法进行了详细论述。结合节点单元特征提炼了各种单元的识别规则,并基于此规则实现了具体的识别流程。详细讨论了识别过程中用到的二维图形学相关理论、算法。最后以多种常用MEMS器件为例进行了节点单元类型识别,均获得了正确的结果。     

无线射频识别防伪机制改进研究

无线射频识别（RFID）技术综合了无线射频（RF）和IC芯片技术。无线射频识别将会逐渐取代条形码功能,给制造业、物流业乃至全球供应链带来革命性改变。对无线射频识别的防伪机制进行研究,以加强无线射频识别防伪安全服务为目的,改进了电子标签和读取器之间以及网络系统架构的整体防伪机制。最后,通过实际应用说明改进后的无线射频识别技术可以有效解决伪造、假冒等问题。     

整治渠道抓堵源头--专家为打击黑手机第二步提建议

“暗市”中的水货手机、杂牌假冒手机、翻新拼装手机等杂乱品牌的黑手机,已经在一年多的时间里蚕食了相当一部分手机市场。从去年年底开始的全国范围内针对黑手机的首次专项整治行动,到今年3月初已经取得了初步的成效,在北京公主坟通讯市场、木樨园手机市场,尽管还没有杜绝黑手机的存在,但其柜台和门脸已经减少很多,非法冒牌、拼装、翻新手机的地下工厂也遭到一定程度的打击,一些无照经营的二手手机交易市场也受到了清理。但这仅仅是第一步,黑手机不可能短期内从市场上消失,整治活动也就不可能在取得初步成果时停止。下一步如何从源头和渠道…     

二极管器件漏电失效分析及改进措施

通过外观检查、开盖检查、 I/V曲线测试、微光显微镜观测和扫描电子显微镜检查等分析手段,结合芯片结构,对漏电失效的二极管器件进行分析,定位器件的失效位置,确定器件漏电失效的机理。形成一套针对半导体分立器件的失效分析流程,并对漏电失效模式提出了相应的优化改进措施。     

基于双极工艺的LVS验证技术

LVS是IC版图设计中的一个重要验证环节。本文详细介绍基于双极工艺的LVS验证技术,主要包括两个方面：正确理解双极器件的基本结构和正确编写LVS命令文件识别出各种器件。论述了运行LVS基本流程。实践证明,运用介绍的LVS验证技术能达到识别出各种器件并快速、准确通过LVS验证的目的,取得了很好的效果。     

爱特梅尔的SHA-256密码认证IC系列能够防止克隆，保护数据安全

爱特梅尔公司（Atmel）宣布推出AT88SA系列最低成本、超低功耗的安全密码认证IC．该系列中的首“款器件AT88SA102S是通用CryptoAuthentication IC,经专门设计．能够保护用户避免假冒电子产品和医疗耗材如电池、墨盒、测试条、血袋、呼吸管及其它。这一系列器件能够用于保护网络传输安全如卫星无线广播或医疗记录,或者任何其它类型逻辑数据如固件或媒体。     

基于单片机便携式颜色自适应识别电路的设计

为解决电致变色器件的颜色变化受外界环境颜色控制的问题,设计了一种基于单片机的便携式颜色自适应识别电路。与传统颜色识别电路相比较,该电路利用数字式的颜色传感器来获取外界环境颜色,产生的数字颜色信号易于单片机进行处理。在电路中,下位机部分主要负责获取电致变色器件变色参数及控制电致变色器件的颜色变化;而上位机部分主要负责把下位机获取的电致变色器件变色参数进行电压到颜色的曲线拟合,并通过蓝牙通信把拟合曲线参数传递给下位机。结果表明,该电路能自动根据环境颜色提供-4～4 V范围步进为0.1 V的电压来驱动电致变色器件的颜色显示,与传统的颜色识别电路设计相比,识别的精度和速度都得到了明显改善。     

技术动态

诺基亚发布电池射频识别验证方案 5月14日,诺基亚发布了专门适用于诺基亚独立零售包装电池的NFC验证方案,应用射频标识防伪技术打击假冒电池,在维护消费者权益的同时,为消费者带来全新、便捷的原装电池查询体验。     

基于curvelet变换的光学器件表面特征识别

为了精确识别复杂精密光学器件在制造过程中由于工艺要求不可避免产生的缺陷特征,基于曲线波(Curvelet)变换优良的曲线特征识别和强大的稀疏表示能力,提出了一种基于曲线波变换的缺陷特征识别方法,该方法采用变换域特征分离,在空间域获得特征识别后的器件表面图像。仿真结果和实验结果证明,提出的方法比传统小波算法精度和准确度更好,运算速度也可以接受,因此可用于光学器件表面特征缺陷的在线检测。     

真假松下彩电有何不同?

最近,市场上发现了不少假冒松下彩电,不仅石2093、2189、2193、2198、M25,而且还有D21、D25、M21、2188等型号。为使广大消费者不上当受骗,笔者特将识别真假松下彩电的方法介绍如下。1.看机壳粗看起来,假冒松下彩电的机壳虽然也做得精致,但仔细察看还是有区别的。真品松下彩电面板正下方的“Panasonic”金属商标与机壳浑然一体,而假冒机的“Panasonic”商标则是后来贴上去的,周围有明显的胶粘痕迹。2.看遥控器真品松下彩电的遥控器都有“Made in Japan”和     

X射线照相发现的管壳缺陷分析

现在对半导体器件的可靠性要求越来越高,因此对器件的质量检测提出了严格的要求,为了能准确检测器件质量是否合格,使用X射线检测技术对器件进行无损检测。X射线对缺陷损伤做快速精确探测分析具有方便、直观等优点。对一例不常见的X射线照相检查发现的晶体管空洞缺陷进行了分析、试验,确定空洞是由管壳存在的问题引起的,提出了解决空洞问题的措施。说明了器件在筛选时进行X射线照相检查的必要性,可以将有缺陷的器件早期剔除,以保证器件的可靠性。