电子产品中静电防护问题研究

本文介绍了静电起电、静电放电(ESD)的机理及静电放电的危害,进一步阐述了人体感知静电和产品潜在损伤等问题及其产生的原因.针对静电积聚、静电敏感度和静电耦合能量等产生静电放电的前提条件,按照抑制起电、控制积聚的防护原则,提出了减少静电放电危害,提高电子产品可靠性的具体措施,在设计阶段对产品进行ESD防护网络设计,在生产...     

雷达产品静电防护

静电与静电放电(ESD)现象是普遍存在的一种自然现象,静电放电除可造成电子产品失效外,还可能产生电磁脉冲引起雷达产品误动作和信息丢失,本文就雷达产品的静电危害、静电防护的必要性、防护措施作简单介绍。     

舰载电子产品静电危害及其防护

静电放电（ESD）对于电路引起的干扰是电子抗干扰技术中十分重要的一项,目前,电子产品的静电放电敏感度测试已作为电子兼容性测试的一项重要内容,而舰载电子产品中的静电问题尤为重要,本文就静电产生的机理、静电危害及其防护措施展开简单的讨论。     

电子产品中的静电防护

介绍了静电的产生机理,静电放电的危害,指出了电子产品生产过程中静电防护的重要性和必要性.并结合电子企业生产实际,对电子产品生产过程中常见的静电防护问题进行了探讨,提出了提高电子产品可靠性的具体措施.     

电子产品的静电防护

本文简单介绍静电放电的概念以及对电子产品的危害,重点阐述如何实施静电防护措施以及必要的监控措施,以期实现对电子产品的静电防护.     

静电防护系统理论的探讨及其实际应用

静电放电是一种常见的自然现象，它对电子元器件，产品生产制造，组装的危害所造成损失是不可估测的，针对静电放电对电子产品影响这一特点，依据国内现行静电防护标准和同行业的静电防护的实践经验，对公司的电子车间进行了全方位静电防护设计，在探讨静电防护系统理论的同时也详细地介绍了的静电防护设计及应用／     

电子产品的静电防护对策研究

分析了电子产品静电产生的原因及其对电子产品的危害，探讨了消除电子产品静电的途经和方法。提出了采用防静电包装、空气加湿以及静电接地等技术来消除电子产品的静电，为电子产品的生产和安全使用提供有益的参考。     

静电放电及防护

1前言 静电放电对电子产品的安全使用和可靠性构成了很大威胁，电子产品的静电放电敏感度(ESDS)日益为人们所重视，现已成为许多电子产品一项重要的质量指标。随着科学技术的发展电子产品日趋复杂化，微型化和集成化，静电放电(ESD)危害越来越突出，     

电子产品组装中的静电防护

电子元器件按其种类不同，受静电破坏的程度也不一样，随着集成电路技术的迅速发展、生产规模的扩大和集成化程度的提高使静电放电的危害严重影响到电子产品的质量和性能；在电子产品组装中，从元器件的预处理、贴装、焊接、清洗、测试直到包装，都有可能发生因静电对器件的损害。文中讨论有关静电产生的原因、静电危害以及导体带静电的防护、非导体带静电的防护、静电防护器材、静电检测等问题，并就电子产品组装行业如何做好静电防护进行评述。     

浅谈电力通信设备的静电防护

电力通信设备对电网的运行起着重要作用.而静电作为常见的自然现象,却对电力通信设备构成了严重的威胁。本文分析了静电产生的途径以及静电放电对电力通信设备所产生的危害,并提出了电力通信设备的静电防护措施,能有效地避免静电对电力通信设备造成的危害。     

电子计量产品接触式静电放电的接地改良研究

在电子工业中,由于静电会损坏电子元器件、严重影响产品质量的问题尚未得到解决,该文对某电子产品（简称被试系统）进行了静电放电（ESD）抗扰度试验,研究了接触式静电放电模式下系统受ESD干扰的情况。当放电电压低于4.5KV时,ESD对于被试系统基本没有影响;当放电电压大于5KV时,受试设备出现蜂鸣器报警、死机现象。通过改进接地,使其抗压能力提高,并对比分析不同接地措施,对进一步改进静电接地提供参考和依据。     

生产装配过程中的静电防护

随着集成度不断提高,集成电路的内绝缘层愈来愈薄,其互连线与间距愈来愈小,相互击穿电压愈来愈低,静电防护的重要性更加突出.简述了电子产品集成过程中静电防护的实践,在工程中解决了静电接地、静电防护等技术问题.     

电子元器件防静电

静电对电子元器件造成的损伤屡有发现，部分静电损伤的潜在性对电子产品可靠性造成很大危害。本文从电子产品生产和使用的实践经验出发，在简述原理基础上，阐述防静电的具体措施，以求得在工程上取得防静电工作的较佳费效比。     

静电粉末喷涂

本文介绍了静电粉末喷涂的工作原理，并与传统烧漆工艺进行了对比，提出了适宜于静电粉末喷涂的工件情况。     

静电放电模拟器校准系统不确定度分析

文中根据静电放电模拟器的特点和GB／T17626.2-1998《静电放电抗扰度试验》对静电放电模拟器的技术要求,提出了对于静电放电模拟器校准方法的不确定度分析。     

静电损伤及其防护措施

本文提出了轻微静电损伤和严重静电损伤的概念,简述了静电放电模型,指出了提高器件抗静电放电能力的对策。     

NEBS认证一系统级静电放电

NEBS认证规定了设备正常运行、安装和维修等状态下的静电放电抗扰度测试。介绍了待认证设备在三种状态下的静电放电电压、测试点的选取及测试方法。如果待认证设备是静电敏感设备,NEBS认证还有一些特殊的附加要求。通过对NEBS认证与CE认证差别的比较分析,为企业的产品认证提供帮助。     

CMOS集成电路静电泄漏实验分析

CMOS集成电路的静电损伤一直是影响其可靠性的一个重要因素。当器件尺寸缩小到1μm以下时，在减小芯片I/O PAD 尺寸、提高工作频率的同时，保证较高的抗静电能力就显得尤为重要。本文首先对两种1μm MOS集成电路进行静电击穿实验，并对实验结果分析，并介绍了提高CMOS集成电路抗静电能力的各种措施。     

电子产品生产过程中的静电防护

分析了静电给电子产品质量带来的危害，指出了电子产品生产过程中静电防护的重要性和必要性，并结合电子企业生产实际，对电子产品生产过程中常见的静电防护问题进行了探讨，提出了相应的对策。