电磁辐射测量场地的进展

电磁兼容辐射测量包括辐射发射测量与辐射抗扰度测量.本文中所指定"场地"是广义的,泛指能够在其中进行电磁兼容辐射测量的所有设备与设施.即包括各种TEM Cell、开阔测试场、电波暗室与混响室等.     

微波暗室的剩余互调测量初探

0引言:为什么要测量微波暗室的剩余互调微波暗室分为全电波暗室和半电波暗室。全电波暗室定义为六面装有吸波材料的屏蔽室,用于模拟自由空间;半电波暗室则是五面装有吸波材料,地面为反射面,用于模拟开阔场。常见的微波暗室的墙体由铁氧体材料加微波吸波材料组成。和其他无源器件一样,微波暗室也遵循互调产生的机理。在大功率多载频的作用下,微波暗室的墙体(铁氧体和吸波材料)会产生互调。在天线的无源互调测试中,如果微波暗室自身的互调大于被测天线的互调或能与之相比拟,则会影响天线互调的测试精度。因此,我们将微波暗室(为天线互调测量提供环境)自身的无源互调产物称为剩余互调。     

电磁兼容测试场地性能及影响要素

0前言 电波暗室是电磁兼容测试的环境和场地.电磁兼容测试场地大致分为开阔场(open site),半电波暗室(semi-anechoic chamber)和全电波暗室(fully-anechoic chamber).早期的电磁兼容测试是在开阔场中进行的.随着社会的发展,电磁环境日益复杂,人类活动范围扩展,很难找到符合要求的开阔场,于是开阔场的替代场--半电波暗室就应运而生了.但是由于存在地面反射,半电波暗室中的理论计算十分复杂,而且往往测试数据和理论计算也有较大的差距.于是人们又寻求更接近自由空间测试条件,随着吸波材料技术的发展,全电波暗室出现了,暗室6面都装有吸波材料,模拟自由空间,克服了半电波暗室的一些缺点.     

在电波暗室中测试手机辐射发射

1.前言 GSM手机或CDMA手机的电磁兼容性测试、手机的比吸收率(SAR)测量以及手机天线辐射特性研究中的测试,都是在电波暗室中进行的.由于手机无法与基站建立正常的通信链接,需要专门的可以实现部分基站功能的移动通信测试设备或系统模拟器,使得手机处于一定的发射状态.[1Ⅱ2]图1是YD1032-2000标准[1]中给出的移动通信终端电磁兼容测试布置图.非专门从事移动通信设备测试、研究、生产的单位,由于缺少移动通信测试设备或系统模拟器,无法在电波暗室内进行手机辐射发射、手机天线特性等方面的研究工作.     

混响室及其进展(上)

电磁兼容领域的辐射测量主要包括辐射发射、辐射抗扰度、场对电缆的耦合以及屏蔽效能等.当前国内用于这方面的场地与设施(以下均简称场地)主要是开阔场,半电波暗室以及TEM Cell和GTEM Cell.在辐射测量中,场地引起的测量不确定度往往可能大于仪表引起的.此外,不同的场地又附带有不同的缺点与问题,因而几十年来测量场地一直是人们关注的热点问题.本文仅就近年来发展迅速、优点突出,并已为IEC 61000-4-21(草案)标准所规范,但尚未引起国内重视的混响室(Reverberation Chamber)进行阐述.目的是引起国内同行们的关注.     

解析美国EMC标准——ANSI C63．022：2004（续）

（上接2008年第2期18页） 4 辐射骚扰测量（30MHz～1GHz） 4．1 测量方法 根据EMI测量标准，辐射骚扰测量应该在开阔场（OATS）中进行。但是在OATS中总存在着天气状况、环境干扰信号或附近有反射物等问题。因此，可以使用替代场地（如半电波暗室）进行测量来减少这些问题。但是在目前，参考性测量场地仍然是OATS。图3给出了辐射骚扰的测量方法。     

多天线暗室信道验证测量研究

多天线全电波暗室法是主流的多天线终端接收性能测量方法.为保证系统测量结果的有效性,需要对暗室内所模拟的多输入多输出信道模型进行验证测量.典型的多输入多输出信道模型包含时域、频域、空域、极化四个维度特征.文章针对上述四个维度中的关键参数:功率延迟分布、多普勒频展、空间相关性以及交叉极化比,研究分析了模型验证测量方法.基于分析结果,针对一个配置了八探头的多探头暗室内所模拟的城区微小区信道模型进行了实际测试,其四项验证指标结果与理论模型基本吻合.     

微波暗室静区性能的测量方法

本文给出了使用自由空间驻波法进行微波暗室静区性能测量的基本原理,并以实际测量为例,给出了使用对数周期天线、矢量网络分析仪对一矩形微波暗室静区性能进行测量的详细步骤及检验方法.本文对微波暗室的建设、使用和维护具有一定的指导意义,对使用微波暗室进行天线和微波后向散射测量也有一定的参考意义.     

30 MHz～1 GHz辐射发射试验场地确认测试实例剖析

场地衰减偏差是评估半电波暗室(SAC)是否满足30 MHz～1 GHz射频电磁场辐射发射测试要求的关键指标.针对某SAC场地衰减偏差的多次测量结果,从扫频测量参数、天线塔和电缆组件、测量天线的巴伦阻抗特性、溯源场地特性差异等方面进行剖析,讨论导致测量结果差异的主要因素.     

AXB型吸波材料及微波暗室

介绍AXB型吸波材料的性能.用AXB型吸波材料建造的天线近、远场测量微波暗室,10m半电波暗室和RCS测量微波暗室的技术指标都符合相关标准的要求.