从器件基本特性入手进行高亮度LED测试

高亮发光二极管（High brightness light emitting diodes,HBLED）综合具备了高输出、高效率和长寿命等优势。制造商们正在开发可以实现光通量更高、寿命更长、色彩更丰富而且单位功率发光度更高的器件。要确保其性能和可靠性,就必须在生产的每个阶段实施精确的、成本经济的测试。     

高亮度LED高速测试方案

可见光发光二极管(LED)凭借其高效率和长寿命的特点正逐渐应用于越来越多的领域,包括车载显示器和外部灯具、电视和视频监视器的背光、街灯、户外标识和室内照明等。LED厂商对这类器件开展了全面的研发工作,使得制造出的LED具有更高的光通量、更长的寿命、更高的色度和每瓦流明数,从而促使LED的应用范围不断扩大。为了确保这些器件的可靠性和质量,采用精确而高性价比的测试十分关键。     

基于改进粒子群优化算法nMOSFET寿命预测

对于电子器件寿命预测问题,文章提出了基于改进粒子群优化算法的BP神经网络电子器件寿命预测方法。首先对nMOSFET元件在不同应力条件下进行寿命试验,根据试验测试获得的寿命数据,得出对应的可靠性。文章通过结合改进粒子群优化算法和BP神经网络结合,建立电子器件寿命预测模型,应用该模型对相同应力条件的电子器件寿命进行预测,同时对应力加速条件下寿命的预测。通过试验证明,该算法具有更强的非线性拟合能力和更高的准确率。     

11位200MSPS ADC提升信噪比降低功耗

存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。     

能延长电池寿命的单节电池升压转换器设计

对于电源设计来说,最重要的参数是成本、效率、输出波纹和噪声.对于便携式设备而言,小尺寸和更长的电池寿命是消费者的基本要求.更长的电池寿命要求整个系统具备更高的功效.高效可以最大限度降低功耗,使终端设备尺寸更小,造型更灵活.     

全新可升级ATE保障未来三代器件需求

存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案.     

6J1电子管加速寿命试验

一.前言随着我国科学技术的发展,工农业各条战线,特别是国防尖端技术都广泛地采用了电子新技术,这对电子元、部件的寿命与可靠性提出了更高的要求。对长寿命管来说,采用通常的例行寿命试验方法,花费的时间太长,消耗人力、物力也太大。如对于一般5000小时的长寿命管,寿试结果的获得最少也得花八个月之久,因此,现有的寿命试验方法与长寿命管生产远远不相适应。     

在20 ℃下工作的红光二极管激光器

半导体二极管激光器的发展史是典型单一材料族和二极管结构的演化史。最初形式的器件通常仅在低温下以脉冲方式工作，寿命只有几分钟。进一步发展通常是沿着延长管子寿命,然后提高温度，再后是连续波工作（第二和第三步在某些情况下可以互换)和最后是沿着更高寿命的正常路线进行的。     

从器件基本特性入手的高亮度LED测试

高亮发光二极管综合具备了高输出、高效率和长寿命等优势。制造商们正在开发可以实现光通量更高,寿命更长、色彩更丰富而且单位功率发光度更高的器件。要确保其性能和可靠性,就必须在生产的每个阶段实施精确的、成本经济的测试。图1示出了典型的二极管的电I-V特性曲线。虽然一个完整的测试程序可以包括数百个点,但对一个有限的样本的探查一般就足以提供优值。许多HBLED测试需要以一个已知的电流信号源驱动器件并相应测量其电压,或者反过来。同时具备了可同步动作的信号源和测量     

玻璃泡子充气阀Ar~+激光器

随着科学研究和技术应用的发展,对于Ar~+激光器的输出功率、工作寿命、输出稳定性都提出了更高的要求,因此设计一个具有输出功率大、工作寿命长、稳定性高的Ar~+激光器显然是一件重要的工作。 影响Ar~+激光器工作寿命的主要因素是:(1)放电毛细管管壁材料的选择和结构的合理设计;(2)气体放电中的气体损耗效应;(3)布儒斯特角窗片的光学损失;(4)阴极的发射性能和寿命等。激光器的工作寿命是与它的输出功率和工作稳定性紧密相关的,一     

LED驱动器IC可为众多照明应用的发展起到引领作用

在过去几年,LED市场已经出现了大幅增长。随着散热、封装和工艺方面取得的进步,已经实现了更高的亮度、更高的效率、更长的寿命和更低的成本。与白炽灯泡不同,LED没有会烧断的灯丝,而且它们的工作温度往往较低。此外,白炽灯泡还将90%的电能以热量的形式白白浪费掉了。     

新型电子发射材料简介

近年来,由于大规模集成电路、表面分析技术、卫星通讯、太阳能利用、导弹、雷达……等技术的迅速发展,以及战备的需要,对阴极的发射密度、工作寿命、贮存寿命……等等性能提出了更高的要求。出现了一系列新型的电子发射材料,下面逐一加以介绍。     

采取得力措施 延长设备寿命

电子技术的飞速发展，也给电视发射机的更新换代注入了活力。近二十年来，分米波电视发射机历经了核心器件使用速调管、全晶体管、ＩＯＴ（感应输出管）、四极管、双向四极管作为末级放大器的发展过程，其结果是由质量更高、效率更高、可靠性更高、寿命更长的器件，制成整...     

应对更复杂设计挑战,国半发布第二代PowerWise接口

目前电子设计中一个明显趋势是越来越多的功能特性和模块走向更高程度的整合,系统设计复杂程度越来越高,为提供更快的产品面市时间、更高的电源管理效率,美国国家半导体公司和ARM公司宣布第二代PowerWise接口,目标是利用先进的电源管理技术,延长电池寿命,应对便携式电子产品功能越来越多的挑战。     

微波功率晶体管金属化系统失效机理研究

本文着重研究了金属化系统的失效模式和失效机理。通过实验与分析,发现在铝中注入磷并覆盖聚酰亚胺可使铝膜寿命提高66倍。在金多层金属化系统的失效分析中发现钨与钼具有更高的抗电穿透能力。在失效分析中使用了新的较为适用的寿命公式来计算激活能 Q,以修正早期给出的带有一定局限性的寿命公式。     

高性能HBLED的测试

高亮度LED(HBLED)相比传统的LED具有高得多的性能,但是同时具有更高的成本。这两个因素决定了HBLED在研发和生产阶段的测试方式。测试需求高亮度发光二极管(HBLED)凭借其高效率、长寿命和色彩丰富     

镍-钨-钙基底金属氧化物阴极在显象管中的应用

一、前言 随着我国电视工业的迅速发展,对电视机所用显像管的寿命指标提出了愈来愈高的要求。国产23X5B(9英寸)显像管的寿命原部颁标准为750小时,目前多数管的实际寿命一般不超过2000小时,远不能满足要求。 本实验的目的是试备用Ni-W-Ca合金代替Si-Ni合金作阴极基底金属,以提高9英寸显像管的寿命。实验表明,在不改变原制管工艺的情况下,更换阴极基底金属后,9英寸管的寿命可以提高到700012000小时,甚至更高     

PPTC器件助力保护高亮度LED照明系统

随着照明技术从极为耗电的白炽灯转为冷阴极荧光灯（CCFL）,再发展到现在的发光二极管（LED）灯,可以很清楚地看到在最终用户愿意为更绿色的照明支付更高成本的同时,他们也有一个内在的期望即寿命更长和更高的可靠性,这才是他们投资的净效益。     

基于加速退化试验的航天液体摆可靠性研究

随着国防装备的快速发展,对型号的可靠性和寿命提出了更高的要求。为满足型号的高可靠、长寿命要求,可靠性试验成为目前研究的重点。以火箭发射平台所用的液体摆水平传感器为研究对象,分析液体摆在环境温度应力作用下的失效原因;选择适用的加速退化模型,建立一种基于加速性能退化的可靠性模型,并通过试验评估进行论证。     

Actel推出FPGA上电解决方案

安森美半导体公司（O N Semiconductor）日前推出全新系列的高性能VCE（sat）双极结晶体管（Bipolar Junction Transistor，BJT），可降低电路总成本，并为各种便携式应用如手机、PDA、媒体播放器、笔记本电脑和数码相机等提供更高的电源效率和更长的电池寿命。