基于IEEE1149.4的差分测试方法的研究与应用

IEEE1149．4标准（DOT4）为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法,对于数模混合差分电路的互联测试,一直是数模混合电路中巨联测试的重点之一,介绍了一种基于此标准的差分互联电路的测试方法以及差分模拟边界扫描单元的应用,对混合差分电路实现了简荤互联和扩展互联的边界扫描测试,从而提高了差分电路互联测试的能力。     

数模混合边界扫描技术的研究现状与进展

数模混合电路的集成度和复杂度不断提高,电路测试的难度越来越大,混合信号边界扫描技术的推出为数模混合电路的测试提供了一种有效解决方案;文章以近年来国内外有关的文献报道为依据,对目前混合信号边界扫描技术的测试规范及测试方法进行系统的归纳,重点对该技术的新应用、新进展和发展动态进行详细介绍;针对混合信号边界扫描技术应用过程中遇到的实际问题提出了急需研究解决的主要关键技术,最后总结了该技术的发展方向和应用前景。     

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性.     

一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法

随着嵌入式测试概念的产生,边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新研究方向;嵌入式边界扫描是电路板级故障检测的必然发展趋势;文中首先介绍了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种嵌入式边界扫描测试数据压缩及合成方法,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成及下载,最后以某数字电路板为对象进行了嵌入式边界扫描测试验证,并给出结论;总体上,嵌入式边界扫描测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.     

基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案

为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌人式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。     

基于边界扫描的电子系统故障诊断技术研究

电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果。     

混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置

由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在,析台由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题。为减少其测试时间,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术,提出了一种多边界扫描链优化配置技术,经实例验证表明,该技术可以有效地减少混合技术电路板族测试时间,提高测试效率。     

支持SVF的边界扫描测试系统的设计与实现

边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径.本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型.     

边界扫描技术在VLSI电路设计中的应用研究

边界扫描技术（BST）是一种新型的VLSI电路测试方法，但在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器件实现JTAG互连，如何将边界扫描测试、在线编程和仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题；为解决上述问题，在大规模集成电路设计中采用逻辑可编程扫描链方法，利用边界扫描技术对电路板进行测试，实验证明采用逻辑可编程扫描链方法可有效的解决测试与在线编程（或在线仿真）的兼容问题。     

基于VXI仪器的电路板故障诊断系统

介绍了研制中的基于VXI总线技术组建的电路板故障诊断系统,并就其硬件和软件的组成进行较为详细的探讨。针对待测电路板许多属于数模混合类型,作为软件核心部分的测试诊断数据库的建立采用了离散事件系统法。     

模拟电路边界扫描功能性测试模型研究

边界扫描技术在数字电路中已经基本成熟,但在模拟电路中还涉足较少。为了提高模拟电路系统的可靠性和可测性设计,对模拟电路面向功能性测试的边界扫描模型进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想,提出了利用数字寄存器控制模拟开关的边界扫描单元结构,设计了面向功能测试的模拟电路边界扫描模型,简化了测试存取口,降低了测试难度,同时构建了模型测试平台,实现了模型的功能测试功能。     

一种飞机电路板自动测试系统的研制

针对近年来飞机电路板维修保障难度日益增加的现状,为掌握电路板的修理能力,迫切需要更多的测试手段来满足日趋复杂的电路板测试需求.在对自动测试系统进行阐述的基础上,以PXI、VXI总线仪器为资源核心,设计了一种可提供大量电路板级测试资源的自动测试系统硬件平台,给出该系统的组成图,并基于C语言开发一套自动测试软件,给出软件测试流程框图与功能验证结果,结果表明所研制的测试系统可实现机载电路板的快速开发测试.     

带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置

在混装电路中,由不同的非边界扫描器件所组成的簇所需要的测试向量的数目可能是不同的,根据不同的簇所需要的测试向量的不同,可以将整个测试过程分为不同的测试阶段,每个测试阶段过后都会有一个或者多个扫描芯片处于bypass状态,而此时其长度只有1,也就是说每一个扫描链的长度是随着测试矢量的移出而变化的,整个扫描链的配置过程中,需要考虑这样两个问题：如何将扫描芯片分配给各条扫描链以及如何排列各条扫描链中扫描芯片的顺序,提出了一种如何配置单链的方法,即优化配置扫描芯片在扫描链中的顺序,这种方法同样可以被应用到多链.     

基于边界扫描的电路板测试性优化设计

基于边界扫描的电路板测试性设计中，迫切需要解决“测试性改善程度一定时，如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题，本文首先深入分析了该问题，证明它是一个NP－ 完全问题，然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法，仿真实验表明，该算法能够得较优化的电路板测试性设计方案。     

基于虚拟仪器的电路板自动测试系统设计

介绍了虚拟仪器技术及其比传统仪器的优势,美国国家仪器公司（NI）的虚拟仪器的软、硬件平台。阐述了电路板自动测试系统的硬件组成设计和软件设计方法。测试系统的硬件主要由NI公司的PXI系列板卡实现,软件由NI公司的LabVIEW开发。该自动测试系统能够全面、准确、自动地对电路板进行功能测试和故障诊断,完成对电路板测试数毋的分析统计和保存。     

某型设备控制装置单板测试方法研究

以通用检测平台为基础,研究了某型设备控制装置单板的测试方法。采用先进的电路仿真软件对电路板进行了原理仿真、测试仿真,确定了电路板的测试思路、测试方法。根据测试需要,提出了特殊激励信号的产生方法。最后,对该电路板进行了实际的测试验证,所得波形满足电路板的功能要求,结果证实了测试方法的有效性与合理性。     

ScanBist: a multifrequency scan-based BIST method

The authors present ScanBist, a low-overhead, scan-based built-in self-test method, along with its performance in several designs. A novel clock synchronization scheme allows at-speed testing of circuits. This design allows the testing of circuits operating at more than one frequency while retaining the combinational character of the circuit to be analyzed. We can therefore apply scan patterns that will exercise the circuit under test at the system speed, potentially providing a better coverage of delay faults when compared to other self-test methods. Modifications to an existing transition fault simulator account for cases where inputs originating from scan registers clocked at different frequencies drive a gate. We claim to detect transition faults only if the transition originates from the inputs driven by the highest frequency clock. ScanBist is useful at all levels of system packaging assuming that a standard TAP provides the control and boundary scan isolates the circuit from primary inputs and outputs during BIST mode     

基于AD698的线性差动式位移传感器解码电路设计

线性差动式位移传感器(LVDT)由于其灵敏度高、线性度好、分辨率高、寿命长、可靠性高等优点,已广泛应用于机载测试系统中;为了设计出精度高,稳定性好,能够满足机载测试需求的LVDT传感器解码电路,分析了LVDT传感器磁芯位移与输出电压信号的关系,研究了AD698的内部解调原理,设计出了基于AD698的信号解码电路;该电路通过外围元器件产生传感器所需的激励信号,并对激励信号和传感器输出信号进行解调得到与传感器磁芯位移成正比的直流电压;最后通过实验验证该电路具有结构简单、稳定性高、精度高的优点,能够满足机载测试的要求,且该电路已经过高低温和振动试验,并成功应用于机载测试采集系统中。     

边界扫描技术及其在PCB可测性设计中的应用

阐述了边界扫描技术的基本原理,从设计方法、优化策略及实现技术等方面,对基于边界扫描技术的PCB可测性设计进行了研究,并给出了具体的实现方法;以对某海军导弹通用测试系统中的数据采集电路板进行改进为例,实现了该电路板的可测性设计;经验证,该方法有效地缩短了数据采集电路板的开发周期,降低了其维修测试费用,因而将具有更为广泛的应用前景.