控制图和EWMA控制图的灵敏性分析

在统计过程控制中通过分析X控制图,指出X图虽然对监测过程大波动非常灵敏,但对过程均值小漂移却不敏感,若结合使用判异规则,将导致虚发警报概率的增加。通过仿真数据图形化,分析了EWMA图的灵敏性,并与X图进行比较,结果表明EWMA图对监测过程小漂移比X图更灵敏,而X图对均值大偏移反应比较灵敏;两种控制图如互为补充,共同用于监测过程波动更有效。     

同时监控过程均值和方差漂移的VSI EWMA平均损失控制图设计

结合WLE控制图和VSI EWMA控制图,提出了基于田口损失函数下的可变抽样区间的EWMA控制图（简称VSI EWMA平均损失控制图）,它是一种在抽样区间可以变化的条件下能够同时检测过程均值和方差漂移的控制图;同时构造的新控制图通过添加控制限区分漂移类型,即在过程失控状态下区分是过程均值发生了漂移还是方差发生了漂移,或者两者都发生了漂移.通过与FP EWMA平均损失控制图及X-～S控制图进行比较,得出新构造的控制图对过程漂移具有更好的敏感性.     

监视过程均值变化的残差控制图检测能力分析

对过程实施统计质量控制的基本假设前提是观测值彼此独立,但实际工作中经常出现过程的观测值存在自相关的现象.若自相关过程的残差满足独立同分布条件,对残差实施控制图监视是解决自相关过程控制的方法之一.应用检测能力指数和平均运行长度两种衡量指标,分析了自相关过程由时间序列模型AR(1)描述时,残差控制图对过程均值变化的检测能力.结果表明,残差EWMA(φ≤1-λ)控制图对过程均值小偏移较灵敏,当φ<0时,残差EWMA控制图对过程均值大偏移的检测能力略差于残差Shewhart控制图.     

基于批均值的自相关过程EWMA控制图

给出基于批均值构造新过程的方法,证明了新过程仍然是平稳过程。针对q阶滑动平均过程(MA(q))给出了新过程的标准差截断公式,利用该公式构建修正EWMA控制图,并通过随机模拟给出平均运行批长。并将此控制图与利用新过程标准差构建的EWMA控制图和批均值控制图进行了比较,控制图和平均运行批长均表明利用标准差截断公式构建的修正EWMA控制图不仅优于批均值控制图,而且具有和利用新过程标准差构建的EWMA控制图相同的控制性能。由于新过程包括了原过程的几乎全部信息,所以在新过程的基础上设计的修正EWMA控制图能够完全反映原过程的生产情况。而修正EWMA控制图构造简单,易于实施,因此对现代生产过程具有很强的可行性和很高的利用价值。     

基于瑞利分布的形位误差统计过程控制比较研究

介绍了一种新的统计过程控制模式--基于瑞利分布的控制图,分别用基于瑞利分布的控制图、休哈特控制图与EWMA控制图对瑞利分布数据进行监控并作了对比分析,认为基于瑞利分布的控制图对某些形位误差的监控效果优于休哈特控制图.在过程发生突变时基于瑞利分布的控制图比EWMA控制图更灵敏,而在过程发生小偏移时EWMA控制图更灵敏.指出将基于瑞利分布的控制图与EWMA控制图联合共同监控过程质量, 可使监控效果更直观有效.     

Spc控制图对均值偏移监测能力的分析

在现实生产过程中过程统计控制可能因存在不同可指定起因的事件,因而产生大小不同的均值偏移,但因各种spc控制图监测均值偏移能力不一,所以我将针对各种spc控制图可监测到均值偏移的尺寸和监测灵敏度作模拟探讨。根据其特性,使各种控制图互相互补,使监测过程波动更有效。     

Lévy稳定过程均值变点监测在CUSUM和EWMA控制图中的比较

给出了CUSUM和EWMA控制图在Lévy稳定过程均值变点监测的ARL近似估计,采用数字模拟的方法对CUSUM和EWMA控制图监测Lévy稳定过程均值变点的效果进行比较．     

指数加权移动平均变异系数控制图的改进

为探究在实际生产中,历史数据权重对控制过程的影响,以及减小权重,仅影响控制图一部分偏移灵敏的情形,提出双平滑系数控制图(DRES控制图).新的控制图用两个单边统计量重置的指数加权移动平均变异系数控制图来监测向上或向下的偏移,即选取两个大小不同的平滑系数,对原有控制图进行改进,重新构造了控制限,使得对大小偏移都有很好的监测能力.研究结果表明:利用平均链长的对比,新的控制图在变异系数发生无论大偏移还是小偏移都相对灵敏.     

免疫控制图学习算法

目的 分析时序数据变化状况、记录数据特性值随时间而发生波动的过程是否处于控制状态，如有异常，则可对该时间段数据进行挖掘，通过挖掘发现知识；方法 以统计学的正态分布与中心极限定理为理论基础，结合免疫进化的思想，提出免疫控制图原理及学习算法；结果 理论分析和仿真实验表明了免疫控制图方法的实用性和有效性；结论 免疫控制图在质量数据的分析与控制、顾客的消费行为分析、股票市场波动的异常反映、网络安全管理等领域有着广泛的应用。     

统计过程控制中X-R控制图的改进算法研究

传统的X-R（均值-极差）控制图虽然能反映整个过程的变化趋势,但只对较大的偏差反应灵敏,对持续的、较小的偏差反应迟钝．一种基于预测模型的改进算法能较好地反映较小偏差的变化,并以实例加以比较．     

控制图系统的实现及应用

将控制图理论与计算机技术相结合，开发了质量控制图系统．介绍了该系统的设计方案和关键技术问题，以电子产品制造中监控SMT机的焊膏厚度为例，说明了系统的应用．本系统对电子企业中数据采集和统计过程控制有一定的参考意义．     

二元自相关过程的残差T2控制图

多元自相关过程不满足现行多元质量控制理论的前提假设。该文探讨了两个随机变量相互独立,其中一个随机变量的观测值相互独立、另一随机变量服从一阶自回归模型的二元自相关过程。在参数已知的条件下,提出了二元自相关过程的残差T2控制图。通过M on te C arlo模拟,得到了一族该二元自相关过程在不同偏移量下的平均链长。分析结果表明残差T2控制图的适用范围由自相关的强弱和偏移量的大小决定,可以有效监控大部分该类二元自相关过程。     

用于控制图模式识别的广义神经网络系统

面向过程控制图的模式识别,提出了一个广义神经网络系统.该系统基于广义过程对象模型发生数据,离线训练后能够在线识别各类工业过程常见的控制图模式,模块化的设计使得神经网络系统的结构相对简单,有效地提高了网络的训练速度和模式识别的准确率.首先研究了广义过程对象模型参数对神经网络控制图模式识别率的影响,并基于此影响规律设计了包含模式识别分类模块与模式参数估计模块的集成化神经网络系统结构;其次使用基于广义对象模型产生的数据对神经网络系统进行了训练和验证,讨论了学习训练方法,并进行了控制图模式识别性能的仿真测试,获得了满意的结果.在TE过程仿真平台上进行了实验,给出了对上升阶跃模式和下降阶跃模式的识别结果,表明了具有较高的识别率.     

基于可能性准则的一元累积和控制图

基于过程检验统计量模糊化后的隶属函数确定的可能性分布,提出了一种对质量模糊特性进行累积和控制的方法,其中应用了一类新的距离概念、新的方差和样本方差.将LR-型质量数据看作中心值变量服从正态,二扩展变量服从均匀分布的模糊随机变量,进而对过程均样本作近似正态处理,根据Kruse-Meyer对模糊数据假设检验的方法,给出了独立观测下一元累积和控制的可能性准则.     

基于重抽样分布的一类模糊累积和控制图

过程变量在代表产品或服务过程信息时并非完美，而使用模糊数可能是另一较好途径。文章进一步完善模糊累积和控制图，其中使用中心和扩展具有重抽样分布的模糊随机变量，并给出模拟例证。     

一种SPC控制图的优化算法研究

统计过程控制SPC技术是保证预防原则、实现过程控制的科学管理方法,其应用已不再局限于工业领域.传统的单变量SPC控制图虽能反映整个过程的变化趋势,但只对较大的偏差敏感,对持续的、较小的偏差反应迟钝.提出了一种加权控制图的优化算法,这种算法能够反映较小偏差的变化,并以-X-R控制图为例加以比较.     

质量控制图在油库管理效益评价系统中的应用

为了准确掌握油库管理效益的评价结果,受质量控制图原理启发,建立了一种系统控制图法,把对生产过程的质量控制转换为对模糊、抽象的油库管理效益系统的稳定性进行评价分析,从而减少外界因素的变化对管理效益评价结果的影响.通过采用单点分析法和链分析法对实例的应用,结果表明:利用系统控制图法进行管理决策,不仅科学合理,而且可以预知事故隐患,提高油库管理水平.     

多元自相关过程的残差T2控制图

为了满足传统的统计过程控制理论中统计量彼此独立的基本假设,研究了多元自相关过程的残差T2控制图的控制方法及其控制性能。针对一般多元自相关过程,在参数已知的条件下,讨论了多元自相关过程的残差T2控制图,给出多元自相关过程偏移量的定义。通过M on te C arlo模拟,得出该控制图在不同偏移量时的平均链长,在残差T2控制图的适用范围内给出平均链长与偏移量之间的经验公式。结果表明,残差T2控制图可以有效控制出现大偏移的多元自相关过程。     

基于模糊属性数据的一类过程控制图

以电子产品生产过程为代表的现代高质量过程,使得属性数据的控制图扩充到以几何分布为基础的累积合格品数控制图、累积合格品数-r控制图和连续合格品数累积和控制图.考虑具有模糊质检状态的接近模糊零不合格过程,在接受抽样下利用DUNCAN提出的卡方控制图给出相应的统计结果.