微波窗的热耗与冷却

引言微波窗(包括输入窗与输出窗)是微波器件主要部件之一。微波窗质量的好与坏直接影响微波器件的电参数及其寿命。在工作中经常碰到因微波窗设计不佳而影响微波器件性能的情况,甚至发生微波窗介质穿孔,而使微波器件漏气报废的情况。据了解,目前对微波窗热耗与冷却的考虑主要是根据各种经验来估计     

有关氦氖激光管提高功率和延长寿命问题探讨

氦氖激光器应用广泛,国内已有很多单位从事研制和生产,目前,对如何提高输出功率和延长其工作及放置寿命是一个普遍和十分重要的问题。在四机部气体激技术交流会(1978年1月在景德镇举行)上,南京工学院电子工程系气体放电器件专业(简称南工)、上海海光玻璃制品厂(简称海光)、上灯一厂八车间(简称上灯)和成都电讯工程学院(简称成电)对此问题都提出了报告。对于提高激光管的单位长度的输出功率问题,一致认为主要是对毛细管的正确设计工艺问题。对延长寿命包括漏气、气体渗透、内部器件放气和阴极溅射等问题。兹将以上单位关于在这方面的研制经验摘编如下。     

提高He-Ne激光器寿命的一些措施

由于环氧胶涂复不当而形成慢漏气,是He-Ne激光管寿命不长的主要原因之一。我们采用多次涂复环氧胶及在布氏窗外面涂复的方法,对消除慢漏气,增长He-Ne管的寿命有良好效果。具体做法是:     

微光像增强器管壳内部真空度恶化分析研究

微光像增强器是重要的光电器件,本文研究该器件在制作过程中出现的部分像管工作寿命低的原因,根据潘宁放电原理,结合气体在材料中的扩散理论和气体在极其微小漏孔中的流动理论,对密封像管管壳内部真空度变化进行了检测和分析,提出引起管壳内部真空度下降的主要原因是像管管壳封接端面存在的缺陷.这对制备长寿命微光像增强器有很高的应用价值.     

集成式杜瓦组件真空寿命评测及影响因素分析

制冷机集成式金属杜瓦组件已广泛应用于256×256以上规模的红外焦平面阵列器件,杜瓦真空寿命成为制约探测器性能的关键指标。本文针此金属杜瓦组件通用结构,用氦漏率检测、静态热负载测试及高温加速实验等多种方法对杜瓦真空寿命进行了评测,并分析了影响杜瓦真空寿命的主要因素,对金属杜瓦研究具有实际意义。分析表明,真空寿命的主要影响因素包括漏气和放气,制造工艺改进可将金属杜瓦漏气控制在设计指标内,金属杜瓦内部放气可通过真空烘烤、安装吸气剂等方法消除,研制的杜瓦组件经验证真空存储寿命超过12年。     

长寿命阴极与长寿命电子管

一、阴极和管子的关系长寿命阴极与长寿命电子管,是两个既有密切联系而又互相区别的概念。阴极寿命长了,电子管寿命不一定都很长;阴极寿命不长,则电子管寿命一定不能长。有些管子热子烧断、脱焊、漏气等原因而寿命告终,不属于阴极问题。然而一般说来,阴极发射能力下降是电子管寿命终了的主要原因。有些管子虽     

第六章 电子束显示器件的寿命因素

严格地说,器件的寿命应分为阴极寿命和整管寿命两种。它们是两个既密切相联,又互不相同的两个概念。阴极寿命只是阴极本身所能正常工作的期限,而整管寿命是指整个管子本身能完成规定使命的期限。因为即使阴极发射良好,由于极间的跳火,电极的落脱以及玻壳的漏气、荧光粉衰老等原因,均可引起管子的寿命终了。 当然,在各种寿命因素中,必然存在着主次或因果关系。生产和使用告诉我们,如果管子处于良好的真空条件,整管寿     

He-Ne激光器布氏窗的玻璃粉封接

He-Ne激光器是一种使用方便,用途很广的激光器件。目前国内生产的这类器件在质量上都存在一定的问题,特别是寿命较短,一般只有数千小时。而国外同类产品的寿命一般都有一万小时,甚至有连续运转几年的长寿命激光器,相比之下差距较大。影响He-Ne激光器寿命的因素很多,主要有:因玻璃与玻璃烧接、玻璃-金属封接(玻珠)的工艺不完善和钨杆内在的或加工过程中产生的隙纹而引起的微漏,使用密封性能不良的环氧胶而引起的慢性漏气和释放杂质气体;     

关于引进消气剂提高氦-氖激光器寿命的研究

本文报导了在氦-氖激光器件中使用适量的消气剂,能有效地克服慢漏气对工作气体的掺杂,大大提高器件的寿命。     

冷阴极脉冲噪声源

一、气体放电噪声管的阴极类型及其特性雪崩二极管和气体放电噪声管是微波噪声源的关键器件,它们也是有源器件。目前,国产噪声源以采用噪声管为主,国外固态源发展很快,兼而有之。噪声管的阴极类型有:丝状阴极、间热式阴极、直热式阴极和冷阴极。国外商品源绝大多数使用类似于荧光灯的丝状阴极,国内使用间热式氧化物阴极。噪声管的寿命原则上决定于阴极类型、工作模式、充填气体和压强。在上述几种阴极中,间热式或直热式阴极的寿命最长。据报     

碱土金属硫化物的多颜色薄膜电致发光显示器件

引言目前,交流薄膜电致发光器件研究工作的重点是放在多色显示上。虽然 ZnS:Mn 的薄膜电致发光屏具有长寿命、高亮度,已进入实用阶段,但发光颜色只是单一的橙黄色。为得到多色显示,人们集中研究了 ZnS 掺杂各种稀土离子、发射波长覆盖很宽的材料,但结果不会令人满意,主要是亮度太低,不应用能来制作多色薄膜电致发光器件。     

维修园地

▲变换法修复显象管目前,显象管除漏气外,最容易坏的是显象管栅阴碰极,造成亮度失控,屏幕上出现回扫亮线,电视机不能工作。栅阴碰极的主要原因是栅阴之间存在杂质引起短路,国内主要电子杂志和书报刊只介绍过用电击放电法,此法对显象管的修复只是一次性,修复成功的可能性小。     

影响有机及聚合物发光二极管性能的主要因素

分析了影响有机发光二级管性能的主要因素,并对提高电致发光效率、延长器件工作寿命和发光颜色转变的方法作了评述。     

^63Ni放射源在冷阴极管中的应用

本文简要地介绍了＾６３Ｎｉ放射源的主要特性；研究并分析了＾６３Ｎｉ放射源对冷阴极气体放电器件的直流击穿电压、放电延迟时间、抖动时间、冲击击穿电压－时间特性和寿命等参数的影响；最后指出了＾６３Ｎｉ放射源在多种真空电子器件中的应用。     

蓝色交流等离子体板

通常相信,对于工作于环境室温或近环境室温的气体放电显示器件,只有氖基混合气体才具有作为主动可见光发射媒质的足够发光效率。因此,传统的气体放电显示器件局限于氖的橙红色特性。在不少实验室,正用结合荧光粉的方法(由来自气体放电的紫外辐射予以激励),试图产生其他颜色的显示。本文报告一种新颖的蓝色交流板,采用纯氩掺Hg种子作为发光混合气体,从而不用任何荧光材料而产生另一种颜色的显示。现在的实验板是标准的IBM研究用交流等离子体板,     

氢气氛区熔硅单晶少子寿命与热处理温度的关系

一、前言 少子寿命是硅单晶的重要电学参数之一,它反映了硅材料的质量并与器件的质量有着直接的关系。由于硅单晶热处理后引起少子寿命变化的原因很复杂,对寿命测量的手段目前还有限,因此少子寿命变化的机理尚未弄得很清楚。     

瞬态光响应法测试中波碲镉汞器件少子寿命的新方法

在测试中波碲镉汞光伏器件的瞬态响应时,当激光光斑照射器件表面位置距离光敏面较远时,器件表现为特殊的双峰脉冲响应现象,分析表明出现这种异常双脉冲现象的原因是光敏区内的少子漂移和光敏区外侧向收集的少子扩散有时间上的差异。通过对器件施加反向偏压,脉冲响应随反向偏压的增大由双峰变成单峰的实验结果,验证了少子侧向收集是导致器件形成双峰的主要原因。对第二个峰拟合得到p区的少数载流子寿命。将瞬态响应获得的少子寿命与该p型中波碲镉汞材料的理论计算和光电导衰退法得到的少子寿命相对比,发现三种方式得到的少子寿命随温度的变化趋势基本一致,这说明了可以通过瞬态光响应得到中波碲镉汞器件的少子寿命。     

厚膜介质电致发光显示器件

厚膜介质电致发光显示器件是一种基于厚膜印刷技术和薄膜荧光粉技术相结合的新型固态显示技术。目前．采用这一技术的高清晰度彩色平板显示器件已研制成功。该技术在亮度、对比度、颜色、图像质量、寿命和成本方面一直在持续不断地进行改进。厚膜介质电致发光显示器件已从研发阶段过渡为商品化生产阶段。本文将介绍TDEL的发展历史和现状。     

空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响

为研究空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响,制备了含有空穴阻挡层的典型双层结构有机发光二极管,其中八羟基喹啉铝(Alq3)为发光层和电子传输层,BCP 为空穴阻挡层.器件的寿命随着发光层的厚度减小而降低,实验结果表明积累在发光层的空穴和激子可能是影响器件寿命的主要原因之一.     

集成电路采用银铜锡合金进行气密封装

引言 集成电路气密封装是电路生产中最后一道关键性的工序,为了得到长寿命、高可靠性、特别是国防工程上使用的电路器件,必须进行金属气密封装,即要求电路封装后不漏气。我国因气密封装技术未及时解决,过去曾有不少电路产品,在存放和使用过程中,由于漏气而性能变化损坏,甚至影响使用这些器件的军工项目的进行。