一种基于芯片的成品率分析简化方法

许多fab认为基于芯片（die-based）的方法很难适用于包含多种芯片的版图和？昆合的（mixed）缺陷分布，所以不用这种方法来监测成品率的影响，而代之以缺陷密度度量来监测缺陷随着时间的变化。但是缺陷密度难以被转化为受缺陷限制（defect-limited）的成品率，因为它不提供关于存在缺陷的芯片数或芯片上的缺陷数的信息。     

SMT电子组件的品质缺陷与客诉管理

在电子产品的制造以及SMT生产中，品质的最高目标是“零缺陷”（ZeroDefect），它是业界苦苦追求的理想状态，也是大家共同努力的方向。不过在实际生产中，由于受各种各样因素的影响，把产品良率做到百分之百还很难，免不了会产生一点品质缺陷；糟糕的是这种缺陷一旦流落到客户端或者用户手里，必然会令客户和顾客很不满意或产生疑虑，严重者甚至可能令其对工厂的制造能力水平失去信心。产品缺陷是指组件与规定要求不相符的部分，而品质缺陷是品质与对应的规格要求不相符的问题。搞好品质缺陷分析和客诉处理，降低客户抱怨比（CPM），无疑是客户关系管理（CRM）中的重点，也是对自己努力改善产品质量的一种鞭策。SMT电子组件的品质缺陷纷繁复杂，其客诉对策处理也务必深思熟虑有的放矢。     

无线系统网管链路的稳定性优化

本文的主要目的是讨论中国联通应用较多的摩托罗拉系统的网管（OMC-R）通信链路的结构缺陷，通过最简便最低成本的解决方案来消除不稳定的电路结构，使无线网管安全稳定的运行．     

问与答

问与答韦建檀问：检查Ｓ１２４０交换机某用户线无音，其外线无故障，显示状态为示闲，换用户板后仍如此，这种现象应如何处理？答：这种情况是常见的程控交换机用户障碍之一。可以从软件和硬件两方面解决。首先，用８８命令显示，保证该用户无ＢＡＤＰ（停话）和ＮＣＡ（...     

自适应滤波在粗晶材料超声检测中的应用

对粗晶材料的超声无损检测，超声波A扫描得到的信号中，缺陷回波之间的相关性强于晶粒噪声的相关性，因此，可以通过自适应滤波技术达到提高缺陷回波信噪比的目的．本文利用了在自适应噪声抵消中广泛应用的最小均方误差（LMS）算法。实验证明，这种方法的效果对于参数调节不敏感。     

不同温度下快速热退火对SiGe量子阱光致发光谱的影响

本文对ＧＳ－ＭＢＥ生长的Ｓｉ／ＳｉＧｅ／Ｓｉ量子阱结构用快速热退火（ＲＴＡ）方法进行处理，研究了其在低温下的光致发光（ＰＬ）特性．发现存在一个最佳退火温度范围，使得ＰＬ谱的发光得到改善．随着退火温度的继续提高，ＰＬ谱线发生兰移，发光强度下降．认为这种趋势是由内部缺陷和位错以及Ｓｉ／ＳｉＧｅ／Ｓｉ量子阱结构在退火过程中相应的变化所导致．辅助的缺陷显微观察证实了我们的结论     

基于IR1167的智能同步整流控制

引言 随着近年来数字处理电路电压的不断降低，电源功率密度的不断提高，对于电源次级整流的要求越来越高。整流器件已从最初的肖特基二极管整流，发展到用同步整流开关管替代二极管，以降低功耗。目前，控制同步整流开关管的方法主要有分立式和基于锁相环的控制芯片两种。用分立元件实现同步整流的缺点是响应过慢，系统可靠性相对差。单芯片同步整流是基于锁相环技术的，从初级取信号同步控制次级整流开关管，这种方法的缺点是不能保证在间隔模式（轻载或空载时发生）下可靠操作。     

DR导航系统非线性过程处理方法的改进

针对DR系统中利用扩展卡尔曼滤波（EKF）方法解决非线性问题在算法复杂性上的缺陷和精度上的不稳定性，从数据预先处理的角度出发合理规避线性化过程，提出了一种充分利用现成经典卡尔曼滤波公式的行之有效的方法，就是数据进入滤波器之前就预先进行处理，获得每一组量测值按照极坐标-笛卡儿坐标的转换方式转为相应的位置信息，然后按照标准的卡尔曼滤波公式构建滤波器，进行状态的最优估计。计算机仿真结果证明了这种算法的有效性。     

机载前斜视合成孔径雷达成像处理的精确Chirp Scaling算法

提出了一种基于Ｃｈｉｒｐ Ｓｃａｌｉｎｇ（ＣＳ）算法的机载前斜视合成孔径雷达（ＳＳＡＲ）的成像处理实现方法。这种算法由于避免了插值运算，且能够精确地进行距离徒动校正，故使得成像质量等于或好于经典的距离－多普勒（ＲＤ）算法。该算法只需通过复乘和ＦＦＴ就能够实现成像处理。     

微通道板及其真空处理工艺研究

本文主要介绍几种新型的微通道板（ＭＣＰ）。同时简单叙述采用热烘烤和紫外光照射清洗技术对ＭＣＰ进行真空处理的工艺研究过程和结果，采用这种ＭＣＰ作为电子倍增器的光电倍增管，其性能稳定，寿命达１０００ｈ以上。     

真空荧光显示器应用的现状及发展

本文综述了真空荧光显示器的应用领域，给出了各类ＶＦＤ的主要技术指标和特点，也介绍了作为打印机光源和象素管的平板荧光器件；并讨论了今后的发展趋势。     

真空荧光显示原理在象素管中的应用

真空荧光显示器件是一种以型显示器，它具有工作电压低，发光亮度高，寿命长，成本代的优点，其制作工艺和部分原理结构用于制作大屏幕显示用彩色象素管。本文将对此进行讨论。     

论彩色显像管未来的发展方向

随着显示器件技术的不断发展，传统显示器件正在面临着新型显示器件的严峻挑战。作为传统显示器件的彩色显像管(CPT)如何应对这场挑战，并在激烈的市场竞争中立于不败之地，正是本文要讨论的话题。可以预言，彩色显像管的薄型和超薄型化将是应对这一挑战的有效措施之一，也是彩色显像管未来的发展方向。     

提高显像管防爆可靠性的有效方法

本文通过防爆原理的分析，详细分析了三种提高显像防爆可靠性方法。     

动态聚焦电子枪的模拟与实验研究

动态聚焦技术是为了满足大屏幕高分辨率彩色显像管及高分辨率彩色显示管的发展需求而产生的一项新技术。在本文中，作者首先提出了一种动态聚焦电子枪结构，进行了数值计算与分析，制作了动态聚焦电子枪并装管实验。通过对实验样管的测试与分析。证实该枪性能良好，动态聚集效果明显。     

CRT与LCD技术的视觉刺激显示性能评价

为了定量评价两种技术在视觉研究实验中的适用性,本文根据文献分析和视觉研究需求设计了显示器性能测试系统与测试流程,对一台阴极射线管(CRT)显示器和两台通用液晶显示器作为视觉刺激显示设备的关键性能进行测试。结合心理物理学理论,特别是韦伯定律,详细地分析和比较了各项测试结果。实验结果显示所有的显示器有不同的Gamma特性,需要进行相应的Gamma校正之后才能线性呈现图像的灰度级;CRT显示器在响应时间上具有绝对优势,但屏幕空间均匀性和独立性较差;相比于CRT显示器,LCD显示器具有较高的亮度和较好的空间均匀性和独立性,但是响应时间偏慢,而且相邻两帧图像之间独立性较差。这些测试结果表明,CRT显示器仍然是高动态特性视觉刺激显示的首选,而LCD显示器可以用于呈现对空间亮度一致性和空间的独立性要求高,但对响应速度要求不高的视觉刺激。     

A history of color television displays

During the first half of the 50-year period covered by this paper, the color television display progressed from crude mechanical methods and rudimentmy cathode-ray-tube ideas to a more sophisticated combination of these with a rotating color disk in front of a black-and-white picture tube. By 1950, the need to make practicable a compatible color system resulted in an intensive program to develop something better. The result was the shadow-mask color tube, which has since been greatly improved and has been outstandingly successful. Although other cathode-ray approaches succeeded techinical, they have not supplanted the shadow-mask tube commercially. For larger screen applications, projection methods are employed, both with light valves and with projection cathode-ray tubes. The future will undoubtedly see major changes, particularly in the direction of paneltype displays.     

三电极全静电摄像管

磁聚焦静电偏转和静电聚焦静电偏转型摄像管具有图像失真小，分辨率高且均匀，电子束易于垂直上靶，阴影小等优点，所以受到人们的重视，但图案偏转电极的形状复杂，非对称场的计算较困难，本文对静电偏转型聚焦偏转系统的结构作了分析研究，运用分离变量法给出了圆柱坐标中静电聚焦（旋转对称）场和静电偏转（非旋转对称）场的解析解，讨论了静电聚焦静电偏转型聚焦偏转系统设计中有关电子轨迹的计算方法，最后给出了计算实例和Ｉｉ     

基于2-2压电复合晶片的SH波探头研究及应用

为了获得水平偏振横波(SH波),研制开发了基于2-2压电复合晶片的SH波斜探头。通过研制的SH波探头对小口径奥氏体不锈钢管标准试块和对比试块进行测试对比试验,研究其声衰减及信噪比特性。试验结果表明,基于2-2压电复合晶片的SH波探头可实现对小口径奥氏体不锈钢管焊缝缺陷的检测,且具有较高的检测灵敏度和信噪比。     

结构分析技术在行波管可靠性评估中的应用

结构分析是一种重要的元器件可靠性评估方法,可以评估元器件内是否存在潜在的缺陷。行波管结构分析可以为行波管固有质量和固有可靠性的判断提供重要依据。探讨了结构分析技术在行波管可靠性评估中的应用,给出了行波管结构分析的一般试验流程、一般技术流程、分解原则以及典型的结构单元分解,并提出了行波管结构分析中应注意的几个问题。