同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数

提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术,该技术将同轴探头紧贴有导电衬底的片状介质,通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数。详细介绍了所采用的理论模型和测量系统。测量了一些常见介质材料的介电常数,测量值与理论值基本吻合。文章的同轴探头技术不仅可用于测量厚度较小的片状介质,而且可用测量样品量有限的液体。     

一个采用阶跃相位调制的微波电厚度测试仪

现代雷达技术的发展给天线罩提出了更高的要求.为了确保天线罩的电性能,必须测试天线罩的电厚度,即测试微波信号通过天线罩壁后所引起的"插入相位延迟"(IPD).因此,凡是测量微波相位的电路都可用来测量微波电厚度.过去对天线罩电厚度的测量不是采用单喇叭干涉仪,就是采用一般的双通道相位电桥.这两种方法都是比较经典的测量方法,技术上比较成熟,但它们都离不开精密的微波移相器和机械伺服系统.随着微波测量技术的发展,近来出现了能对     

一种基于介质填充的天线罩电厚度反射测试波导探头

电厚度是雷达天线罩重要的电性能参数,在天线罩制造过程中经常需要采用反射测量方法实现工艺控制,但测试能力严重受限于测试探头与被测天线罩的失配反射影响。在分析失配原理的基础上,提出了反射测试波导探头内部介质填充方法,通过结构不连续性和介质不连续性的分离,实现了失配反射信号的内部自然抵消。给出了明确的介质填充形状和结构参数设计方法,并通过数值仿真和实际测量,验证了设计的有效性。介质填充波导探头设计方法简单,直接扩展了传统测试方法适用范围,提升了天线罩可测试厚度,与微波反射计或相位差测量装置配合,可以直接构成便携式电厚度反射测试仪,对天线罩研制生产现场工艺控制和装备应用现场性能检验具有重要意义。     

生物组织的介电常数对微波诊断和治疗肿瘤的影响

1　介电常数对微波诊断的影响有二个特点可作为微波诊断肿瘤的物理基础。一是肿瘤组织和周围组织的介电特性有显著差异 ,二是皮下组织介电特性的变化可以通过测量微波反射系数反映出来。近年来 ,由于生物组织的介电特性在体测量技术中的发展 ,使微波诊断肿瘤成为可能。微波诊断肿瘤的方法是 :利用多层生物组织对微波的反射特性 ,用开口矩形波导探头作为传感器和人体直接接触 ,组织的介电特性变化 ,可以由微波的反射系数来体现 ,反射系数由网络分析仪或六端口反射计测定。波导探头在近场区域和人体组织相互作用 ,其反射系数是组织介电常数、…     

分层媒质复介电常数测量的一种方法

本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数校少的媒质,在各分层厚度未知的民政部下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。     

聚合物薄片的复介电常数微波测量方法

提出了一种在微波频域测量聚合物样品薄片复介电常数的方法,它利用自动测量线测试系统测量出电压驻波比和相角,然后采用级数各阶次展开方法,由反射系数推导出复介电常数.级数低阶次方法求解厚度较大的被测样品复介电常数时,为确保结果具有较高的精确度,要求测量频率不超过1.5GHz.为了克服这种测量频域的局限性,可采用级数高阶次展开方法来求解复介电常数.用级数展开方法测量聚苯乙烯、多乙酸乙烯酯和聚亚胺酯的复介电常数值,结果与真实值相近,可以和传输/反射法相媲美.     

大功率微波下溶液复介电常数的双探头测量

为了克服在大功率微波下测量用于计算复介电常数的反射系数相位的困难，使用一对不同特性阻抗的终端开路同轴探头，利用测量得到的反射系数的幅值，并基于电容模型实现了对盐溶液、甲醇／乙醇混合溶液复介电常数的计算，将测量计算结果与文献结果进行对比，证实了这种测量方法的有效性。     

基于探头导纳模型的复介电常数测量技术

基于开口同轴探头的导纳模型,建立被测材料复介电常数与反射系数之间的数值关系。使用矢量网络分析仪测量探头终端的矢量反射系数,利用虚拟仪器构建可视化界面,通过软件编程反演计算来确定被测介质的复介电常数,并对已知材料的测量值、HFSS软件仿真值、模型理论值对比,能够很好地吻合,验证了该模型的准确性。对一些常见介质及吸波材料进行了测量。本方法具有非破坏性,适于现场测量,而且具有设备简单、操作方便直观、测量精度高等优点。     

腐蚀性溶液介电常数测量的探头研究

测量化学反应物的介电常数,必须对测量探头进行保护,采用FDTD方法在圆柱坐标下对一种有保护层的新型同轴线探头进行分析计算,得到了被测物介电常数与反射系数之间的关系。对圆柱中心以及薄层结构进行了特殊处理。计算结果与实验值吻合。     

分层媒质复介电常数测量的一种方法

本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数较少的媒质,在各分层厚度未知的情况下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。     

一种微波相位测试的新方法

本文提出了一种微波相位测试的新方法,这种方法只需一只魔T,一只可变移相器和一只功率检测器.它具有简单、准确等优点.文章对这种测试方法与其它方法进行了比较,并且对测试精度进行了分析.实验结果与理论分析相符合.     

纳米金属薄膜材料电磁参数测量方法

提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理.与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常数与导磁率,使测量过程简单高效并具有较高的精度.     

探测包长可变的往返时延测量

作为高清视频传输领域的新型技术,巨帧传输加剧了网络延迟动态性,使得传统时延测量方法很难准确估计往返时间。提出了一种探测包长可变的往返时延测量方法:测量初期,确定保证超时定时器稳定工作的增益系数和偏差权重系数范围;测量期间,根据包长动态设定这两个系数。该方法使得超时定时器能反映时延的动态性,提高定时准确性,减少不必要的重传。实验表明该方法可在巨帧网络中有效测量往返时延。     

以循环移位控制为基础的相控阵天线快速测量方法研究

为了解决相控阵天线快速测试问题,本文研究了一种相控阵天线测量的新方法。该方法中相控阵天线和测试探头均不动,利用相控阵天线中各移相器的移相状态可循环移位控制的特点和相控阵天线一些已知可信的信息,从而使测量具有极高的效率。文中对一相控阵天线模型采用该测量方法的测量全过程进行模拟,验证了该方法的正确性和高效性。     

一种快速测量和诊断相控阵天线的新方法

介绍了一种测量相控阵天线的新方法——换相测量法,给出了该方法的数学模型及其基于最优配相控制的解。该方法新的特点是被测天线和探头均固定不动,仅要求对天线各单元的配相进行控制,实际上是用电扫描方法来代替传统的机械扫描的方法,能大大提高测试的效率和精度。该方法充分利用了相控阵天线本身的结构信息和特点,能大大减小相控阵天线的测量和诊断时间,对测试环境的要求也较低,因此具有很强的实用性。本文模拟了应用该方法测量和故障诊断的全过程,模拟结果表明,该方法是正确、快速有效的。     

液体盐度在线测量的一种光学方法

提出了一种对液体盐度进行检测的光学方法 ,特点是 :在液体中的探头是无源的光学结构 ,其性能简单可靠 ,可以温度补偿使其结果不受温度影响 ,采用对称的差动放大器可以消除零飘 ,可在线测量。     

天线平面近场测量中一种近远场变换方法研究

本文研究了一种应用于天线平面近场测量中完成近远场变换的数值算法。利用此方法可以依据天线平面近场测试数据快速简便地求得天线远场方向图及其它特性,其精度较高;同时可以很方便地进行探头修正,并讨论天线平面近场测试中各关键参数对测试结果的影响。本文给出了理论依据和具体计算实例,与传统方法进行了比较,并得出了结论。     

一种快速测量与故障检测相控阵天线的新方法

介绍了一种测量相控阵天线的新方法——换相测量法,给出了该方法的数学模型及其基于最优配相控制的解。由于使用该方法时要求被测天线和探头均固定不动,仅要求对天线各单元的配相进行控制,故实际上这是用电扫描方法来代替传统的机械扫描方法。该方法应用了单元的阵内方向图等天线先验知识。最后模拟了应用该方法对相控阵天线进行测量和故障检测的全过程。模拟结果表明,该方法是正确的,快速有效的。     

提高时间参数量化精度的方法

介绍了一种“粗”计数＋“细”时间测量相组合的方法。该方法的特点是：结构简单，工程易实现，又同时兼顾了测量精度。将其应用在电子侦察系统中，有效地提高了视频脉冲信号时间参数的测量精度。     

一种精密测距模拟器系统延时的测量方法

介绍了一种精密测距模拟器系统延时测量思路和实现方法。采用该方法可对精密测距模拟器的系统延时时间进行准确测量,从而有效地解决精密测距模拟器系统延时定标问题,以满足实际需求。