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讨论了在0-15MPa高压下,-196℃-+200℃温区内,法兰,球头密封结构的部分密封试验结果,变化规律和影响因素,进行了理论分析,给出了部分重要设计参数。 相似文献
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超塑性形变试验装置及试验方法的改进探索 总被引:3,自引:0,他引:3
指出常用超塑性试验装置及试验方法的不足,对试验装置及方法进行了改进。通过对比硬铝LY12在相同条件,不同装置上所得的超塑性形变结果,证实改进后的试验装置及试验方法可充分发挥材料超塑性形变的潜力,更真实地反映出材料超塑性变形的能力。 相似文献
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密封材料在深冷环境中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
简介了国内外深冷密封的研制过程及密封材料的研究和应用情况。重点介绍了我国自己研制的CZ-3A火箭三子级液氢,液氧密封结构,包括铝垫片镀铟密封,榫槽-铟丝密封,橡胶-4J36钢径向温度作用复合密封,4J36垫镀铟轴向温度作用复合密封及球头式组合密封等结构形式,介绍了上述绪结构中密封材料与结构件材料的造反匹配关系,密封机理等,通过有限量的深冷密封中试验数据证明了结构设计,材料造反的合理性,预测了各类深 相似文献
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阐述石油测井仪器中三芯密封塞的组成及特点,设计了检验三芯密封塞在高温高压时密封性能的试验装置,包括三芯装配装置,装配三芯装配装置的活塞缸,计算了活塞缸中活塞行程,计算了甲基硅油体积在高温下的变化。同时对密封圈的压缩量进行了校核。 相似文献
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采用夏比冲击、裂纹源落锤和动态撕裂试验,研究了10CrNi3MoV钢的低温韧性,对韧性较高的原因也进行了分析讨论。结果表明:冲击曲线的上平台转变温度在-20℃以下,韧脆转变温度ETT50和FATT50在-110℃以下;TNDT低于-70℃,-40℃的动态撕裂能在1000J以上。 相似文献
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压捆机压缩特性测试方法的分析 总被引:7,自引:0,他引:7
为研究牧草,秸秆等物料的压缩特性,以9KG-350型高密度压捆机为试验装置,根据该机的结构特点和压缩特性的基本参数选用了压力传感器和位移电感器,着重介绍了其测试原理和方法,并通过试验结果表明了该测试系统的性能和可靠性。 相似文献
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目的 研制一个系统,以便在枪管寿命的研究和预测中,显著地减少“画、加、打”循环。方法 将模拟试验装置、建模与仿真及参数监测系统结合成一个闭环自修正系统。结果与结论 通过3~5发射击试验,真实、全面地再现了枪管在实弹射击条件下所经历的复杂的物理-化学过程,同时,它能根据模拟试验的实测数据实时地修改建型,提高了枪管寿命仿真的真实性。 相似文献
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本文介绍了IDDQ电流测试方法的基本原理,IDDQ测试在集成电路测试系统上的实现方法.现在IDDQ电流测试成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试不能发现的制造过程所产生的故障.以及随着深亚微米技术出现,IDDQ测试受到严峻的挑战. 相似文献
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电能表温度影响试验自动测试系统是运用计算机自动控制技术,对恒温恒湿室的温度进行自动控制,在恒温恒湿室的各个恒定温度点分别对被检电能表的误差进行自动检验,最终自动计算出电能表的基本误差随外界温度改变的变化率。自动测试系统不仅可以大大延长有效试验时间、提高设备使用率,还可以达到减少人工、减少人为差错的目的,更能提升整个温度影响试验过程的严谨性和规范性。在提出自动测试系统的总体设计要求后分别介绍了该系统的硬件和软件的技术方案。 相似文献
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目的针对闭口钢桶标准和规程要求,对闭口钢桶4项性能要求逐项进行技术分析和研究,提出完整的性能试验方法。方法通过解读GB/T 325—2000标准要求,结合钢桶包装技术的发展趋势,对生产实践中的测试技术工艺进行提炼,提出了测试装备、设施、过程、步骤等。结果生产实践中所提炼出的测试技术,能够满足最新标准和规程要求,具备可操作性,实现对性能指标检测判定的目的。结论利用技术分析和研究的办法,对生产过程及成品质量进行检测和性能试验,使产品满足包装的一般功能要求,更好地体现"安全、卫生、环保"的主要功能,具备良好的竞争优势。 相似文献
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介绍了试飞专用测试设备的特点、校准实践,阐明了专用测试设备可校准性设计从设备研制源头介入的重要性以及对试飞专用测试设备质量管理的思考。 相似文献
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基于数据切片的系统芯片测试控制技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
在基于总线结构的系统芯片测试中, 提出了在考虑扫描控制信号的条件下, 采用测试数据切片的测试控制方式来降低测试调度的粒度, 从而提高测试访问机制带宽的利用率. 并给出了在这种控制方式下测试时间的下限值. 最后采用 VCS 仿真器在 Benchmark ITC'02 中若干电路上对提出的测试控制方法进行仿真实验, 结果显示: 相对于文献[Kumar S, Marinssen E J. Control-Aware Test Architecture Design for Modular SoC Testing[C]. IEEE Proceedings of 8th European Test Workshop, Maastricht, The Netherlands: IEEE CS, 2003:57-62.]中考虑了测试控制的最优结果, 测试时间要缩短约 12.00%~21.90%;另外, 相对于其它文献中不考虑测试控制的结果, 测试时间还要缩短大约 1.82%~30.40%. 相似文献