国内外耐电晕聚酰亚胺薄膜绕包线性能对比

将进口耐电晕聚酰亚胺薄膜绕包线与国产耐电晕聚酰亚胺薄膜绕包线进行性能对比检测,同时还模拟变频电机绝缘结构进行了耐电晕寿命试验。     

耐电晕聚酰亚胺薄膜烧结线的抗高频脉冲性能研究

通过对比分析高频脉冲试验中耐电晕聚酰亚胺薄膜及薄膜烧结线抗高频脉冲电压能力的差异,对薄膜烧结线的抗高频脉冲性能进行了研究。结果表明:随着纳米填料含量的增加,薄膜的抗高频脉冲性能显著增强;经过5%拉伸后,薄膜的抗高频脉冲性能各有不同程度的降低;随着测试电压的升高,薄膜烧结线的抗高频脉冲性能均下降;浸漆有益于提升薄膜烧结线的抗高频脉冲性能。     

耐电晕聚酰亚胺薄膜研究进展

聚酰亚胺因其耐电晕性能不足严重缩短了复杂工况下的使用寿命,纳米改性技术的应用为耐电晕聚酰亚胺薄膜的研发提供了新的发展方向。该文首先从耐电晕机理出发,综述了电晕下聚酰亚胺的老化进程;然后从材料的介电特性、电导特性、陷阱特性、界面效应及热导率等性能参数分析了提升复合聚酰亚胺耐电晕性能的策略;最后针对当前耐电晕聚酰亚胺薄膜研究存在的问题进行了总结,并对未来发展方向做出了展望,以期实现具有优异耐电晕性能聚酰亚胺薄膜的研发。     

耐电晕聚酰亚胺薄膜绕包扁铜线烧结工艺的研究

通过对耐电晕聚酰亚胺薄膜绕包扁铜线的烧结工艺的研究,重点对绝缘表面存在气泡的现象进行分析,结果表明:影响耐电晕聚酰亚胺薄膜绕包扁铜线表面气泡的主要因素为烧结温度、绕包张力、绕包角度和压轮距高频感应器出口的距离,可以消除表面气泡的最佳工艺为:绕包角度62°,烧结温度(270±10)℃,绕包张力4.5 kg,压轮距高频感应器出口的距离20 cm以内。     

耐电晕聚酰亚胺薄膜的可靠性研究

为了评价聚酰亚胺/纳米TiO2复合薄膜的耐电晕寿命,对自制的聚酰亚胺/纳米TiO2薄膜进行加速寿命试验,并对得到的实验结果用两参数Weibull分布解析法计算,得出了该薄膜在(15士3)℃,770 V、20 kHz的脉冲电压条件下的累积失效概率方程和可靠度方程等可靠性参数。Weibull假设检验结果表明,所得试验结果服从Weibull分布。     

耐电晕聚酰亚胺薄膜研究进展

综述了耐电晕聚酰亚胺薄膜的最新研究进展.研究显示,虽然我国学者对耐电晕聚酰亚胺薄膜的结构与性能、耐电晕机理等问题的研究,取得了一定的进展,但尚未取得关键性突破.产品的耐电晕性、热收缩率、机械强度等多项关键性能仍远低于杜邦(Dupont)公司产品水平.表明国内研究者对该产品的认识,无论在理论方面还是制造工艺方面仍处在初级阶段.     

影响聚酰亚胺薄膜耐电晕性能测试因素的研究

为表征变频电机用聚酰亚胺复合薄膜材料的耐电晕性能提供一个可靠、准确的试验方法,在参照国内外相关标准的基础上,对杜邦Kapton 100CR薄膜进行了耐电晕性能测试,分析了外施脉冲电源、电极、测试温度环境等因素对薄膜耐电晕测试结果的影响,并提出在测试中需要注意的问题.     

聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理研究

为了探讨聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理,对自制纳米杂化聚酰亚胺(PI)薄膜进行不同时间的电晕预处理,并对电晕预处理后的试样分别进行电晕老化与热激电流(TSDC)测试,结果发现在适当的电晕预处理条件下,纳米杂化PI薄膜的耐电晕寿命会得到提高,且薄膜耐电晕寿命、热激电流活化能都与薄膜电晕预处理时间存在一定关系,二者变化趋势大致相同。分析表明纳米杂化PI薄膜的耐电晕寿命与其中受陷载流子的状态有关,当材料中均匀分布能级较深的稳定的载流子陷阱时,材料表现出较好的耐电晕性能。     

国产耐电晕聚酰亚胺薄膜在变频牵引电机上的应用研究

通过对比国产耐电晕聚酰亚胺薄膜及其电磁线与同类进口产品的性能,探讨了国产耐电晕薄膜电磁线在应用过程中的可靠性。结果表明：国产耐电晕薄膜及其电磁线的常规性能与同类进口产品性能相当,国产耐电晕薄膜电磁线的耐电晕性能及局部放电起始电压优于同类进口产品,电磁线在线圈成型过程中具备优异的工艺性,满足变频牵引电机的应用要求。     

国产耐电晕聚酰亚胺薄膜在变频电机上的应用研究

选取国内外的几种耐电晕聚酰亚胺薄膜(CR膜)进行研究,分别对膜材料试样进行基本性能及耐电晕性能试验,对电磁线试样进行基本性能及耐电晕试验,对模拟线圈进行浸水试验、介质损耗检测及击穿试验。试验结果表明,国产耐电晕聚酰亚胺薄膜性能与进口耐电晕聚酰亚胺薄膜基本相当,且价格比进口耐电晕聚酰亚胺薄膜便宜,可作为其替代产品。     

纳米二氧化硅/聚酰亚胺耐电晕薄膜的研究

通过超声机械混合方法制备纳米二氧化硅／聚酰亚胺复合耐电晕薄膜，并对其耐电晕性进行测量。用红外光谱(IR)和原子力显微镜(AFM)观察无机纳米粒子的分散情况及其电晕前后变化。结果表明：纳米二氧化硅／聚酰亚胺复合薄膜耐电晕性比普通的聚酰亚胺薄膜高。     

聚酰亚胺/TiO2纳米杂化薄膜耐电晕性能的研究

通过原位聚合法制备聚酰亚胺/二氧化钛(PI/TiO2)纳米杂化薄膜并研究其耐电晕性能。利用光激发放电方法(photon-stimulated discharge,PSD)与光度计测试杂化薄膜的陷阱状态与紫外吸收光谱,通过扫描电镜与小角 X 射线散射技术(small angle X-ray scattering,SAXS)表征薄膜表面的形貌与分形特征。实验结果表明：引入 TiO2增加了薄膜中的陷阱密度,提高了薄膜的质量分形维数,在5%组分时出现表面分形,薄膜结构变得致密;随着 TiO2组分的增加,薄膜的耐电晕寿命由3.9 h(0%)增加到49 h(7%),薄膜的紫外吸收能力提高;随着电晕时间增加,杂化薄膜表面的聚酰亚胺分解,TiO2颗粒逐渐积累,起到屏蔽电晕侵蚀的作用。因此,有机-无机界面的陷阱状态、TiO2的特性以及薄膜整体分形结构的协同效应提高了杂化薄膜耐电晕性能。     

温湿度对掺杂纳米氧化铝的聚酰亚胺薄膜耐电晕性能影响研究

为了探究温度和湿度对掺杂纳米氧化铝的聚酰亚胺(PI)薄膜耐电晕性能的影响,文中通过原位聚合法制备了氧化铝粒径为20 nm的聚酰亚胺/氧化铝(PI/Al2O3)复合薄膜,在高频方波脉冲下进行纯膜和纳米膜的耐电晕实验,运用扫描电镜对电晕老化前后的薄膜形貌进行分析。实验结果表明:同一电压下,纳米膜耐电晕性能优于纯膜,纳米粒子可改变电荷传输通道,并浮于聚合物表层阻挡进一步侵蚀。随着温度升高,聚合物降解产生的气体分布在基体中,易造成电场畸变而加剧侵蚀,导致薄膜寿命缩短;且纳米膜热导率高于纯膜,故高温环境中耐电晕性能较好。随着相对湿度增大,纳米膜耐电晕寿命先增大后减小,主要是因为相对湿度较低时,水分可在纳米粒子周围形成"水壳",增大了纳米粒子间重叠区域,增加了电荷消散传输通道;而相对湿度较高时,聚酰亚胺分子水解产生大量离子基团及小分子,造成电场畸变加剧电晕侵蚀作用更大。     

耐电晕PI薄膜及其耐电晕寿命评定方法的研究

本文主要研究适合变频电机使用的改性聚酰亚胺的耐电晕性能,采用逐级升夺 穿法评定耐电晕寿命。首先测试了由杜邦公司提供的ＦＣＲ薄膜的耐电晕性能,所得结果与杜邦公司提供的数据吻合得很好,对杜邦ＫａｐｔｏｎＣＲ薄膜和几种自制薄膜进行了耐电晕测试,并将两次测试作了对比和分析,证明所采用的测试方法是简便可靠的ＣＫ６、ＣＫ２和Ｂ１０－２型薄膜具有接近ＦＣＲ膜的耐电晕性能。     

耐电晕PI薄膜及其耐电晕寿命评定方法的研究

本文主要研究适合变频电机使用的改性聚酸亚胺的耐电晕性能,采用逐级升压击穿法评定耐电晕寿命。首先测试了由杜邦公司提供的FCR薄膜的耐电晕性能,所得结果与杜邦公司提供的数据吻合得很好;对杜邦KaptonCR薄膜和几种自制薄膜进行了耐电晕测试,并将两次测试结果作了对比和分析。证明所采用的测试方法是简便可靠的,CK6、CK2和B10—2型薄膜具有接近FCR膜的耐电晕性能。     

耐电晕涂层厚度对漆包线耐电晕性能的影响

为了确定耐电晕漆膜厚度对漆包线漆性能的影响,研究了耐电晕漆包线漆组分一定,涂漆方案不同的耐电晕漆包线附着力和耐电晕性能。结果表明:对于1.25 mm三涂层2级漆膜厚度的漆包线而言,底漆厚度0.02 mm、耐电晕漆厚度在0.05 mm以上时,漆包线的综合性能可达到国家标准。     

方波脉冲下聚酰亚胺/纳米复合薄膜耐电晕特性研究

本文为探究在方波脉冲下聚酰亚胺(polyimide,PI)/纳米复合薄膜的耐电晕特性,采用原位聚合法制备了纯膜和掺杂纳米氧化铝的复合薄膜,通过傅里叶红外光谱(FTIR)技术分析了薄膜的化学结构,测量了纯膜和纳米膜的表面电阻率,并在重复方波脉冲下进行耐电晕实验,最后运用扫描电子显微镜(SEM)分析电晕击穿前后薄膜的微观形态。实验结果表明:纯膜和纳米膜的耐电晕时间都会随着电压的升高而降低,并且在同一电压下,纳米膜的耐电晕特性优于纯膜。通过测试分析,从纳米粒子和聚合物基体间形成的界面、薄膜表面电荷分布、薄膜试样击穿过程3个方面对纳米薄膜优异的耐电晕特性给出了解释。     

可低温烧结聚酰亚胺粘结薄膜

通过研究低温固化的芳香族聚酯亚胺粘结剂及其在聚酰亚胺薄膜上的涂覆工艺,多项的技术性能实测数据对比及用户的应用表明,研制的可低温烧结聚酰亚胺粘结薄膜产品完全能满足生产聚酰亚胺薄膜烧结烧包线要求,产品适应于无高频烧结设备或高频烧结设备功率小的绕包线生产单位。     

重复方波极性对聚酰亚胺耐电晕性能影响研究

利用极性可控的重复方波发生器,在具有6 kV峰峰电压、150 ns上升时间和下降时间、50%占空比的重复方波电压下,研究了正、负极性和双极性重复方波对聚酰亚胺耐电晕性能的影响。结果表明:重复方波极性对聚酰亚胺耐电晕和局部放电统计特性无显著影响,但对测试结果的分散性影响明显。不同电压下的耐电晕寿命和局部放电幅值的分散性由大到小依次为正极性、负极性和双极性。结合重复方波电压下大量局部放电统计数据,认为放电产生并建立起表面电荷积累后,极性反转瞬间的阶跃电压幅值是影响放电幅值和电晕破坏过程的主要因素。根据研究结果,采用双极性的重复方波电压执行变频电机绝缘耐电晕性能测试,有益于减小数据分散性,得到绝缘耐电晕性能的客观判据。